简单介绍：在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了非必要得部件，该探针台系统包含：光学成像部分，隔振平台，探针座，四维调整载片台（Chuck），真空吸附系统；

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郝**

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相关标签：探针台,晶圆IV,失效分析

详细内容

商品属性：

漏电精度：100fA（三轴线缆+屏蔽箱）

针座数量：标配2个

位移精度：3μm

光学放大倍数：200倍高清

Wafer尺寸：4/6
产品信息：

在实际得科研生产中，由于样品/晶圆（Wafer）得尺寸越来越大，用于测试的探针台相当昂贵，我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧，功能实用，成本较低的简易式探针台，在满足基本测试功能基础上，去除了非必要得部件，该探针台系统包含：光学成像部分，隔振平台，探针座，四维调整载片台（Chuck），真空吸附系统；

创谱仪器可以根据客户应用搭建探针台，以达到更好得使用效果和性价比。

技术参数：

◆样品台XYZR四维调节，XY行程根据样品台尺寸/晶圆尺寸而定，Z轴行程10mm，XYZ整体分辨率3μm，360°旋转粗调可锁紧

◆兼容多种光学显微镜，可以引入光路，完成光电mapping测试

◆整体尺寸小，方便携带，底部隔振地脚，提高测试稳定性

◆漏电流精度：10pA/100fa（屏蔽箱内）

◆探针采用进口交叉滚珠导轨/精密燕尾槽，线性移动，无回程差设计

◆1微米以上电/PAD使用

◆U型探针架，可以放置多个探针座

◆多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等；广泛用于科研院校以及公司！