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CPZH系列手动探针台创谱仪器

CPZH系列手动探针台创谱仪器

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价格:¥电议

更新日期:2026/3/18 11:05:57

生 产 地:中国大陆

产品型号:CPZH系列

简单介绍:在实际得科研生产中,由于样品/晶圆(Wafer)得尺寸越来越大,用于测试的探针台相当昂贵,我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧,功能实用,成本较低的简易式探针台,在满足基本测试功能基础上,去除了非必要得部件,该探针台系统包含:光学成像部分,隔振平台,探针座,四维调整载片台(Chuck),真空吸附系统

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相关标签:探针台,晶圆IV测试,失效分析

详细内容

商品属性:

漏电精度:100fA(三轴线缆+屏蔽箱)

针座数量:标配2个

位移精度:10μm

光学放大倍数:200倍高清

Wafer尺寸:4/6/8/12寸
产品信息:

在实际得科研生产中,由于样品/晶圆(Wafer)得尺寸越来越大,用于测试的探针台相当昂贵,我司根据客户市场应用自主研发的这款结构小巧,功能实用,成本较低的简易式探针台,在满足基本测试功能基础上,去除了非必要得部件,该探针台系统包含:光学成像部分,隔振平台,探针座,四维调整载片台(Chuck),真空吸附系统;

创谱仪器可以根据客户应用搭建探针台,以达到更好得使用效果和性价比。

技术参数:

◆结构紧凑,功能实用,高性价比

◆可用于12寸以内样品测试

◆1微米以上电/PAD使用

◆兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜,可360°旋转和微调升降

◆漏电流精度:10pA/100fa(屏蔽箱内)

◆精密丝杠/燕尾传动结构,线性移动,无回程差设计

◆应用于高等院校/研究所/公司实验室使用

◆模块化设计,可以根据应用增加和去除相应模块

◆多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等;



测试等;
探针台,晶圆IV测试,失效分析

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