
WS-30B气体传感器测试系统
WS-30B气体传感器测试系统
产品介绍
传感器特点
通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性:
可显示气敏元件负载输出电压;
能计算元件电阻值、电压灵敏度和电阻灵敏度;
能计算元件的响应时间、恢复时间;
以友好、形象的界面对所测试元件进行虚拟列阵、编号;
能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以不同颜色直观表示,并计算出在每档范围内的元件数与所有参加测试的元件数的比例,并以百分数表示.
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品参数
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品介绍
WS-30B气敏元件测试系统由郑州炜盛电子科技有限公司研发。主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性进行测试,次能同时对30或64支气敏元件进行测试。
产品介绍
科研域:原子层沉积系统PICOSUN?- R系列高水平的研究和开发需要zui好的设备。Picosun ALD是全球ALD设备的导者。PICOSUN? R系列设备提供高质量ALD薄膜的沉积技术,并在各种各样的衬底上都表现佳的均匀性,包括zui具挑战性的通孔的、超高深宽比和颗粒等样品。我们为液体、气体和固体化学物提供的更高的,易更换的驱源系统,能够在晶圆、3D样品和各种纳*米特性的样品上生长颗粒度zui小的薄膜层。在zui基本的PICOSUN? R系列配置中可以选择多个独立的,完*全分离的源入口匹配多种类型的驱源。PICOSUN? R系列独特的扩展性使ALD工艺可以从研究环境直接过渡到生产环境的PICOSUN? P系列ALD系统。由于研发型与生产型PICOSUN?反应腔室核心设计特点都是相同的,这消*除了实验室与制造车间之间的鸿沟。对大学来说,突破创新的技术转化到生产中,就会吸引到企业投资。
WS-30B气体传感器测试系统
产品介绍
传感器特点
通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性:
可显示气敏元件负载输出电压;
能计算元件电阻值、电压灵敏度和电阻灵敏度;
能计算元件的响应时间、恢复时间;
以友好、形象的界面对所测试元件进行虚拟列阵、编号;
能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以不同颜色直观表示,并计算出在每档范围内的元件数与所有参加测试的元件数的比例,并以百分数表示.
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品参数
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品介绍
WS-30B气敏元件测试系统由郑州炜盛电子科技有限公司研发。主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性进行测试,次能同时对30或64支气敏元件进行测试。
产品介绍
科研域:原子层沉积系统PICOSUN?- R系列高水平的研究和开发需要zui好的设备。Picosun ALD是全球ALD设备的导者。PICOSUN? R系列设备提供高质量ALD薄膜的沉积技术,并在各种各样的衬底上都表现佳的均匀性,包括zui具挑战性的通孔的、超高深宽比和颗粒等样品。我们为液体、气体和固体化学物提供的更高的,易更换的驱源系统,能够在晶圆、3D样品和各种纳*米特性的样品上生长颗粒度zui小的薄膜层。在zui基本的PICOSUN? R系列配置中可以选择多个独立的,完*全分离的源入口匹配多种类型的驱源。PICOSUN? R系列独特的扩展性使ALD工艺可以从研究环境直接过渡到生产环境的PICOSUN? P系列ALD系统。由于研发型与生产型PICOSUN?反应腔室核心设计特点都是相同的,这消*除了实验室与制造车间之间的鸿沟。对大学来说,突破创新的技术转化到生产中,就会吸引到企业投资。
WS-30B气体传感器测试系统
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传感器特点
通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性:
可显示气敏元件负载输出电压;
能计算元件电阻值、电压灵敏度和电阻灵敏度;
能计算元件的响应时间、恢复时间;
以友好、形象的界面对所测试元件进行虚拟列阵、编号;
能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以不同颜色直观表示,并计算出在每档范围内的元件数与所有参加测试的元件数的比例,并以百分数表示.
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品参数
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品介绍
WS-30B气敏元件测试系统由郑州炜盛电子科技有限公司研发。主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性进行测试,次能同时对30或64支气敏元件进行测试。
产品介绍
科研域:原子层沉积系统PICOSUN?- R系列高水平的研究和开发需要zui好的设备。Picosun ALD是全球ALD设备的导者。PICOSUN? R系列设备提供高质量ALD薄膜的沉积技术,并在各种各样的衬底上都表现佳的均匀性,包括zui具挑战性的通孔的、超高深宽比和颗粒等样品。我们为液体、气体和固体化学物提供的更高的,易更换的驱源系统,能够在晶圆、3D样品和各种纳*米特性的样品上生长颗粒度zui小的薄膜层。在zui基本的PICOSUN? R系列配置中可以选择多个独立的,完*全分离的源入口匹配多种类型的驱源。PICOSUN? R系列独特的扩展性使ALD工艺可以从研究环境直接过渡到生产环境的PICOSUN? P系列ALD系统。由于研发型与生产型PICOSUN?反应腔室核心设计特点都是相同的,这消*除了实验室与制造车间之间的鸿沟。对大学来说,突破创新的技术转化到生产中,就会吸引到企业投资。
WS-30B气体传感器测试系统
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传感器特点
通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性:
可显示气敏元件负载输出电压;
能计算元件电阻值、电压灵敏度和电阻灵敏度;
能计算元件的响应时间、恢复时间;
以友好、形象的界面对所测试元件进行虚拟列阵、编号;
能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以不同颜色直观表示,并计算出在每档范围内的元件数与所有参加测试的元件数的比例,并以百分数表示.
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品参数
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品介绍
WS-30B气敏元件测试系统由郑州炜盛电子科技有限公司研发。主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性进行测试,次能同时对30或64支气敏元件进行测试。
产品介绍
科研域:原子层沉积系统PICOSUN?- R系列高水平的研究和开发需要zui好的设备。Picosun ALD是全球ALD设备的导者。PICOSUN? R系列设备提供高质量ALD薄膜的沉积技术,并在各种各样的衬底上都表现佳的均匀性,包括zui具挑战性的通孔的、超高深宽比和颗粒等样品。我们为液体、气体和固体化学物提供的更高的,易更换的驱源系统,能够在晶圆、3D样品和各种纳*米特性的样品上生长颗粒度zui小的薄膜层。在zui基本的PICOSUN? R系列配置中可以选择多个独立的,完*全分离的源入口匹配多种类型的驱源。PICOSUN? R系列独特的扩展性使ALD工艺可以从研究环境直接过渡到生产环境的PICOSUN? P系列ALD系统。由于研发型与生产型PICOSUN?反应腔室核心设计特点都是相同的,这消*除了实验室与制造车间之间的鸿沟。对大学来说,突破创新的技术转化到生产中,就会吸引到企业投资。
WS-30B气体传感器测试系统
产品介绍
传感器特点
通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性:
可显示气敏元件负载输出电压;
能计算元件电阻值、电压灵敏度和电阻灵敏度;
能计算元件的响应时间、恢复时间;
以友好、形象的界面对所测试元件进行虚拟列阵、编号;
能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以不同颜色直观表示,并计算出在每档范围内的元件数与所有参加测试的元件数的比例,并以百分数表示.
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品参数
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品介绍
WS-30B气敏元件测试系统由郑州炜盛电子科技有限公司研发。主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性进行测试,次能同时对30或64支气敏元件进行测试。
产品介绍
科研域:原子层沉积系统PICOSUN?- R系列高水平的研究和开发需要zui好的设备。Picosun ALD是全球ALD设备的导者。PICOSUN? R系列设备提供高质量ALD薄膜的沉积技术,并在各种各样的衬底上都表现佳的均匀性,包括zui具挑战性的通孔的、超高深宽比和颗粒等样品。我们为液体、气体和固体化学物提供的更高的,易更换的驱源系统,能够在晶圆、3D样品和各种纳*米特性的样品上生长颗粒度zui小的薄膜层。在zui基本的PICOSUN? R系列配置中可以选择多个独立的,完*全分离的源入口匹配多种类型的驱源。PICOSUN? R系列独特的扩展性使ALD工艺可以从研究环境直接过渡到生产环境的PICOSUN? P系列ALD系统。由于研发型与生产型PICOSUN?反应腔室核心设计特点都是相同的,这消*除了实验室与制造车间之间的鸿沟。对大学来说,突破创新的技术转化到生产中,就会吸引到企业投资。
WS-30B气体传感器测试系统
产品介绍
传感器特点
通过对测试数据的处理,能以图形曲线和数据两种方式显示气敏元件的特性:
可显示气敏元件负载输出电压;
能计算元件电阻值、电压灵敏度和电阻灵敏度;
能计算元件的响应时间、恢复时间;
以友好、形象的界面对所测试元件进行虚拟列阵、编号;
能根据测量结果对元件进行分档归类,在虚拟列阵上以不同颜色直观表示,并计算出在每档范围内的元件数与所有参加测试的元件数的比例,并以百分数表示.
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品参数
技术指标
测试通道数: 30路
采集速度: 1次/
系统综合误差: <±1%
输入信号范围: 0~5V DC
电源: AC 220V±10% 50Hz
测试电源: Vh 2~10V连续可调 Max7A
Vc: 2~10V 连续可调 Max1A
RL: 可换插卡式 51Ω 100Ω 510Ω 1K 4.7K 10K 47K 100K 470K 1M 4.7M 10M 20M
外型尺寸: 主机 46.5cm × 34.8cm × 25.0cm
配气箱: 外形尺寸 300mm × 300mm × 200mm 容积: 18L
产品介绍
WS-30B气敏元件测试系统由郑州炜盛电子科技有限公司研发。主要用于实验或批量生产中对气敏元件特性进行测试,次能同时对30或64支气敏元件进行测试。
产品介绍
科研域:原子层沉积系统PICOSUN?- R系列高水平的研究和开发需要zui好的设备。Picosun ALD是全球ALD设备的导者。PICOSUN? R系列设备提供高质量ALD薄膜的沉积技术,并在各种各样的衬底上都表现佳的均匀性,包括zui具挑战性的通孔的、超高深宽比和颗粒等样品。我们为液体、气体和固体化学物提供的更高的,易更换的驱源系统,能够在晶圆、3D样品和各种纳*米特性的样品上生长颗粒度zui小的薄膜层。在zui基本的PICOSUN? R系列配置中可以选择多个独立的,完*全分离的源入口匹配多种类型的驱源。PICOSUN? R系列独特的扩展性使ALD工艺可以从研究环境直接过渡到生产环境的PICOSUN? P系列ALD系统。由于研发型与生产型PICOSUN?反应腔室核心设计特点都是相同的,这消*除了实验室与制造车间之间的鸿沟。对大学来说,突破创新的技术转化到生产中,就会吸引到企业投资。