一、产品介绍：

半球发射率测量仪AE1/ RD1是用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家发射率测量标准，是科研材料研究，建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。

二、技术参数：

读数器: D&S 微型数字伏特计，型号RD1。

输 出: 材料温度为25℃时，2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9

线 性: 检测器输出和发射率成线性关系，精度为±0.01发射单位。

测量时间： 10 s

加热装置： 加热被测样品，使其在与标准体温度相同的情况下被测量

样品温度： 最大130华氏度，约为55℃

漂移： 输出可能会随着环境而变化，但是在短时间测量内可以忽略不计。

标准体： 提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体，其中一套标准可用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。

电源： 100-240V/50-60 Hz，12V直流输出

测量波长： 3——30 µm

测量范围： 0——1

测量精度： ±0.01

被测样品尺寸：Min Φ5.7cm (可选配最小测量尺寸Φ2.3cm)

测量温度： 10℃——55℃

外形尺寸： 探测头Φ57X107mm，测量台H46mm×宽105mm×D152mm

标准配置： AE1探测头，高发射率标定块和低发射率标定块各2个，发射率测量仪，电源线，CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。