您好,欢迎来到阿仪网! 请登录 免费注册

诚信档案

天津徕科光学仪器有限公司

第10年

product

当前位置:阿仪网    >   其他产品/服务    >   其他产品/服务    >  其他产品/服务    >  天津徕科光学仪器有限公司   >   产品展示    >  工具显微镜、测量显微镜    >   半导体结深自动测量系统UMS100-JDM

半导体结深自动测量系统UMS100-JDM

  • 参考价:咨询
  • 型号:UMS100-JDM
  • 品牌: $brandModel.Title
  • 所属地区:
  • 原产地:-
  • 产品摘要:1,测量方式 实时影像测量,无须拍照后测量 2,测量模式 自动测量,无须鼠标取点或取边

服务

  • 品质保障·资金安全·售后无忧

产品完善度:

更新时间:2026/4/13 21:08:03关注度:6859

关键词标签:半导体结深自动测量系统

支付方式:

  • 支付宝 微信 银行转账

仪器简介:

一种能自动实时测量扩散结深的光学测量系统.该系统是对磨槽机在硅片上的磨槽进行测量来获得扩散结深数据的.



技术参数:

1,测量方式
实时影像测量,无须拍照后测量
2,测量模式
自动测量,无须鼠标取点或取边
3,统计功能
最大值、最小值、平均值、极差、方差、标准差、离散系数等;同时处理多个管制项目;实时显示统计数据,并可以根据用户要求增加统计项目
报表系统 采用智能化选择性数据输出技术,实现“待测工件→测量参数→专用报告→品管统计”数据流自动化



主要特点:

快速,实时,精确,可靠







快速导航