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背散射电子探测器（BSD）

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品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：中国大陆更新时间：2026/11/2 15:41:46

产品摘要：覆盖0.5 keV至300 keV，响应速度快，高度订制灵活性。PNDetector 的 BSD（背散射电子探测器）具有极低的信号电容和漏电流水平，背散射电子探测器（BSD）背散射电子探测器（BSD）结合高速前置放大器，背散射电子探测器（BSD）背散射电子探测器（BSD）可在高达100 MHz的扫描速率下实现理想的性能

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详细内容

背散射电子探测器

我司提供的背散射电子探测器（BSD）系统为扫描电子显微镜（SEM）中的 BSE 图像采集提供了完整的一站式解决方案。整个系统包含探测器、高速信号处理电子学以及可伸缩机械组件，可轻松安装于任何品牌的 SEM 中。

背散射电子探测器（BSD）的特点：

◆ 低噪声特性

低暗电流和低信号电容值确保了在低束流条件下对敏感样品进行低噪声成像，图像质量清晰。

◆ 超高检测速度

集成 4 通道前置放大器与低信号电容设计，实现超越 TV 帧率的超快成像，扫描速率高达 100 MHz。

◆ 低 keV 性能

持续优化的辐射入射窗口，在 500 eV – 3 keV 低能量范围内保持效率，并减少样品损伤。所有探测器窗口均耐辐射。

◆ 高收集效率

优化的芯片技术与几何设计带来更高的信号强度。几何收集效率高达 85%，实现高对比度和的信噪比。

◆ 短工作距离兼容

扁平铝制外壳设计，可在短工作距离下进行成像，灵活适配各类 SEM 腔室空间。

◆ 多样化几何配置

提供多种 BSD 二极管类型，可安装于标准或特定外壳中。支持不同芯片几何形状以适配各类应用场景。

◆ 完整系统方案

从探测器、前置放大器、定位系统到主放大器，提供交钥匙式完整 BSE 成像系统。

背散射电子探测器（BSD）主要参数：

能量范围	0.5 – 50 keV
低能优化窗口	500 eV – 3 keV
扫描速率	100 MHz（像素驻留 10 ns）
信号下降时间	< 10 ns（Advanced模块）
几何收集效率	达 80%（BSD-420），定制可达 85%
探测器面积范围	40 – 420 mm²（标准），可定制
可用分段/环数	4 段 / 1–2 环，可定制
前置放大器	独立 4 通道（Standard）/ 集成 4 通道（Advanced）
定位系统	手动伸缩臂 V1（快速）/ V2（高精度）
主放大器	MA-PN4 / MA-PN99
适配平台	各品牌 SEM（扫描电子显微镜）