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图像法粒度仪
伞棚灯
- HN-100A澄清度检查专用伞棚灯
- HN-200A澄清度检查专用伞棚灯
- HN-300A澄清度检查专用伞棚灯
- Qz-82A颜色检查专用伞棚灯
- Lu-100A型可见异物检查伞棚灯
- Lu-200A可见异物检查伞棚灯
- YH-TM-100 浊度仪
- Lu-300A可见异物检查伞棚灯
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0902 澄清度检查法
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纳米粒度及Zeta电位检测
- APS-100高浓度纳米粒度仪
- Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪
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- ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪
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- CHDF3000高分辨率纳米粒度仪
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原子力显微镜
公司新闻
展会回顾｜深耕颗粒检测赛道，赋能半导体品质升级，我司圆满完成2026深圳半导体展
点击次数：87发布时间：2026/6/18 9:54:54
我司长期专注于颗粒检测分析设备研发生产与专项技术服务，深耕精密颗粒质控领域多年。随着半导体产业国产化、精细化发展提速，制程洁净度、原材料杂质管控、微小缺陷溯源，已成为半导体生产品质把控的关键环节，颗粒检测技术的应用价值在半导体全产业链中逐步凸显，也是保障芯片良率、稳定生产的核心配套技术之一。本次参展，我们旨在立足行业需求，展示适配半导体场景的成熟检测方案，直击行业真实质控痛点。
展会现场，我们重点展示了多款适配半导体制程的核心颗粒检测设备，覆盖湿电子化学品、光刻胶、晶圆辅料、制程清洗液等主流应用场景。其中，流式动态图像法微粒分析仪可实现宽范围颗粒检测，适配半导体药液批量、实时质检需求；静态图像法微粒分析仪主打高效滤膜筛查，契合半导体辅料日常抽检与合规检测场景；激光共聚焦原位颗粒显微拉曼光谱仪，可完成颗粒原位无损检测与成分溯源，针对性解决半导体制程中未知杂质缺陷难以定位、分析的行业难题，为企业品质改良、工艺优化提供可靠数据支撑。
相较于传统进口设备，我司自研检测设备更贴合国内半导体企业的生产工况与检测标准，兼顾检测精度、运行稳定性与性价比，同时配套优质的本地化技术服务，可提供设备销售、上门调试、样品检测、技术咨询等一站式服务，适配大中小各类半导体企业的差异化质控需求。
为期三天的展会过程中，团队始终以务实交流为核心，与到场的晶圆制造、封测企业、半导体材料厂商及第三方检测机构的技术、品控负责人一对一沟通，详细解答设备检测原理、场景适配、数据合规、落地应用等核心问题。基于现场交流，我们清晰掌握了现阶段半导体行业颗粒质控的需求与技术难点，同时与多家企业达成初步技术合作与试样测试意向，为后续产品场景优化、技术落地应用积累了宝贵的行业资源。
本次深圳半导体展之行，是我司颗粒检测技术与半导体行业需求的深度对接。目前，公司各类检测设备与配套技术服务，已陆续落地于半导体材料、芯片制程质控等多个应用场景，持续为国内半导体产业链品质管控提供精细化技术支撑。
未来，我们将持续聚焦半导体行业细分质控需求，持续迭代检测设备精度与智能化水平，优化适配半导体场景的专属解决方案，以扎实的技术、稳定的产品、优质的服务，深耕颗粒检测核心赛道，持续助力国内半导体产业高质量、精细化发展。
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