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岛津/KRATOS X射线光电子能谱仪 AMICUS型
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详细内容
●大300W的大功率上照射X射线源,无阴影的XPS分析
●锥形块体式阳靶,抗污染能力强
●佳能量分辨率优于 0.8eV(Mo 3d5/2)
●常规分析能量分辨和灵敏度高达1.15eV@700kcps(Ag 3d5/2)
●结合了数据采集和数据处理的Vision软件,可运行于Windows XP/Vista/7等多种平台下,实现各真空室真空度实时显示,操控真空阀门开关,实验条件设定和全自动无人值守分析等强大功能
XPS:固体样品的表面组成分析,化学状态分析,取样讯息深度为~10nm以内. 功能包括:
1. 表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯。
2. 维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析(角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式)
3. 线扫描或面扫描以得到线或面上的元素或化学态分布。
4. 成像功能。
5. 可进行样品的原位处理 AES:1.可进行样品表面的微区选点分析(包括点分析,线分析和面分析) 2.可进行深度分析适合: 纳米薄膜材料,微电子材料,催化剂,摩擦化学,高分子材料的表面和界面研究
X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合能(B.E)。
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