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SerDes高速串行测试：S参数测试、插损测试、回损测试、TDR测试专业方案
价格：￥电议
品牌名称：$brandModel.Title型号：原产地：中国大陆 更新时间：2026/10/22 14:18:32
产品摘要：SerDes是PCIe、SATA、SAS、高速以太网等众多接口的物理层核心技术。随着速率进入28Gbps、56Gbps PAM4时代，其信道性能成为系统互连的瓶颈。北京淼森波信息技术有限公司，提供适用于各种SerDes接口的通用化、专业级信道测试解决方案
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产品完善度： 访问次数：709
企业档案
会员类型：旗舰版
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详细内容
无论您的SerDes接口采用何种协议，其无源信道测试原理相通。我们的服务提供通用且深入的洞察：
通用S参数提取：提供Tx到Rx之间的完整2端口或4端口S参数，包括插入损耗、回波损耗、模式转换和串扰。这是进行通道仿真和合规性评估的基础。
损耗与反射分析：精确量化通道的损耗特性，判断其是否满足SerDes IP的接收灵敏度要求。同时，分析反射能量，评估其对信号完整性的影响。
TDR阻抗故障诊断：定位由封装、PCB、连接器等引起的阻抗不连续点，为改进物理设计提供直接依据。
模型交付与仿真支持：提供标准的Touchstone格式（.sNp）S参数模型，客户可直接用于SerDes的IBIS-AMI仿真，预测系统性能。
多场景支持：可测试板级互连、电缆组件、背板通道等，适用于网络交换芯片、AI加速卡、存储控制器等各种应用场景。
热门标签：SerDes信道表征,通用S参数模型,高速互连分析
