考古陶瓷光谱检测仪，天瑞仪器生产EDX8000L XRF

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型号	EDX8000L XRF

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型号EDX8000L XRF
品牌 $brandModel.Title
所属地区中国大陆
原产地江苏-苏州市
产品摘要
EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。中历史博物馆、中收藏协会等古文物收藏部门都是其用户。

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更新时间：2026/10/16 9:21:02关注度：1199

关键词标签：考古陶瓷光谱分析仪,XRF考古分析仪,X荧光考古陶瓷光谱检测仪

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产品详情

应用域：
古陶瓷
古青铜器
古饰
镀层测厚
产品功能：
EDX8000L利用中历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时，为了好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。

EDX8000L型仪器在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。中历史博物馆、中收藏协会等古文物收藏部门都是其用户。

我公司生产的EDX8000L系列的仪器是款专门针对于古文物检测而量身定做的无损测量的能量色散X荧光分析仪器，其技术参数如下：
分析范围: 1PPM-99.99%
同时分析: 几十种元素同时分析
测镀层厚度0.01微米
测量对象: 固体、粉未、液体
测量时间: 60-300 秒
测量精度 : 0.05%
分析元素: Na-U
工作温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
重量 : 280KG
功耗: 200瓦
超大抽真空样品腔：600*600*1000mm3
产品特点:
我公司研制生产的EDX8000L型的仪器，利用中历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时为了好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司特意根据行业需要制作超大型的抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
EDX8000L型的仪器再测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。
中历史博物馆、中收藏协会等古文物收藏部门亦在使用我公司的此种仪器做为古文物的鉴定和研究。
如下则是测试黑釉陶瓷梅瓶的实例，附上谱型及测试结果：

测量结果：
元素强度含量%
Na 13.9 1.115
Mg 17.3 1.407
Al 18.3 13.962
Si 560.1 72.011
P 7.0 0.171
K 75.8 3.131
Ca 164.2 4.073
Ti 2.4 0.076
V 3.1 0.016
Mn 34.8 0.037
Fe 157.4 1.029

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