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M1 MISTRAL镀层测厚仪
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更新日期：2026/9/9 16:20:43
生 产 地：
产品型号：M1 MISTRAL
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黎**
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详细内容
M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 µ-XRF 光谱仪，用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、极具成本效益， 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。
测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu
珠宝及合金分析：
M1 MISTRA是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品。不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示。
该仪器具备高空间分辨率，光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形状的样品，例如最复杂的珠宝，而无需进一步的制备，更重要的是，它的分析是无损的。支持的样品尺寸最大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜，可以精确定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性。
M1 MISTRAL 配备了高亮度微焦点 X 射线管，确保出色的激发测量光斑，产生高荧光效应。凭借功能强大、易于使用的 XSpect 软件套件，该仪器可交付准确的量化结果，而不论是分析块状材料还是最复杂的多层结构。
M1,MISTRAL镀层测厚仪
