M4TORNADO高性能微区X射线荧光光谱仪

仪器简介：
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域，以获得极佳的空间分辨率，进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。

测定镀层样品厚度及成分

采用X射线荧光技术的M4可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品进一步提高定量分析的准确性

RoHS检测

测量一个PCB样品。u安苏的面分布图显示了下列元素的分布情况：Br(绿色）、Cu（红色）、Au（黄色）、Pb（白色）和Sn（粉红色）

图像的原始大小：250×75像素

测量时间：0.15s/像素

主要特点：
M4 TORNADO采用了全新的技术，为各种用户提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。
采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑最小，空间分辨率最高。
涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。

高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。
使用XFlash®探测器超高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
采用无标样分析法精确定量分析块状样品，精确分析多层膜样品。

可抽真空的样品室配有自动门，大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品（整体观察和分析区域的细致观察），便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而精确的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。