型号：

EDX1800E

测试对像：

粉末、固体、液体

元素分析范围：

钠（Na）－铀（U）

同时多可测元素：

36种

含量分析范围：

1ppm～99.99%

工作稳定性：

总荧光强度为0.1％

测试时间：

60～200秒

探测器分辨率：

127eV±5

多道分析器：

4096道

进口DSP数字信号处理芯片

64位处理

X射线光管：

功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo

高压电源：

电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%

低检出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

探测系统：

自动对点探测系统鼠标点击,自动对点

升降软件系统：

电控自动机盖升降软件独立控制

外型尺寸：

720mm×560mm×450mm(不包括支脚)

测量仓：

400mm×280mm×100mm

重量：

60Kg

镀层技术参数：

可测镀层数：

多可达5层

镀层种类：

单金属镀层、合金镀层

镀层识别精度：

分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。

厚度测试范围：

轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

配置

数量

单位

仪器主机部分主要配置

1

套

1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK

1

套

2.低功率X光管

1

个

3. 高压电源

1

个

4. 2048道数字多道分析器

1

套

5. 高精密CCD

1

个

6. 滤光片组

5

组

7. 准直器：8种准直器自动切换

6

个