X射线衍射仪AOD3700型
价格：￥20000
品牌名称：$brandModel.Title型号：AOD3700型原产地：中国大陆 更新时间：2026/9/21 9:09:57
型号：AOD3700型
一、AOD3700型X射线衍射仪（XRD）采用了一维阵列探测器，测试结果更加精，大大缩短了测试时间。
《X射线衍射仪》技术参数要求：
1 X射线发生器部分
1.1额定输出功率：5kW；
1.2管电压：10~60kV 1kV/step；
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型号：AOD3700型
一、AOD3700型X射线衍射仪（XRD）采用了一维阵列探测器，测试结果更加精，大大缩短了测试时间。
《X射线衍射仪》技术参数要求：
1 X射线发生器部分
1.1额定输出功率：5kW；
1.2管电压：10~60kV 1kV/step；
1.3管电流：2~80mA 1mA/step；
1.4管电压、管电流稳定度：≤0.005%；
1.5有过压、过流、过功率、无压、无水、循环水超温等保护；
1.6kV、mA升降，光闸开关由微机控制功能；
1.7 X射线管：波纹陶瓷或金属陶瓷、Cu靶、焦点1×10mm2（0.4×12mm2）、功率 2.4kW。
★2 测角仪及控制部分
2.1衍射圆半径：样品水平θ—θ结构，衍射圆半径150mm~285mm（连续可调）；
2.2扫描方式：连续、步进、透射、Omg扫描方式，θs、θd臂单动或联动；
2.3采用分动控制；采用伺服电机，光学编码技术控制测角仪转动，自动消空程、角度校正；角度定位速度：1500˚/min；
2.4测量方式：常规衍射或透射方式；
2.5测量范围： 2θ：-30 ˚—161˚；
2.6角度转动范围：θs：-15 ˚—200 ˚，θd：-105 ˚—150 ˚
2.5连续扫描速度：：0.0012—120˚/min；
2.6小步宽角度：0.0001˚；
2.7 2θ角度重复精度：0.0001˚；
2.8 全谱图2θ角线性精度：≤±0.01˚。
★3记录控制单元（触摸屏，且采用PLC控制线路）
3.1测角仪及X射线发生器自动控制；
3.2探测器：阵列探测器；
线性计数率：1*109cps，无噪音；动态范围：（bit）24;
通道数：640; 通道宽：（um）50;
能量分辨率（eV）：687±5; 读出时间(us)： 89；
能谱范围（KeV）：4-40；冷却模式:空气风冷;
2Theta覆盖角度: >4.5度;操作使用环境:0℃到+50℃.
3.3测量国际标准样品si粉，采样时间0.1秒，步宽角度0.01 ˚时，主峰28.442 ˚的半峰宽优于0.075，且主峰分辨率≤85%。
3.4样品测试速度是传统探测器的几十倍以上。
4 工作站部分：双核、内存≥4G、硬盘≥500G、独立显卡、≥22寸LED, A4幅面数据输出设备。
★5 射线防护及报警装置
5.1铅+铅玻璃防护，具有射线防护门禁开功能，光闸窗口与防护罩连锁，防护罩外射线计量不大于0.1μSv/h；
5.2防护标准：防护标准达到GBZ115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》的要求。取得省级或以上环保部门颁发的辐射安全许可证。X射线泄漏量≤0.1μSv/h。
6衍射仪控制、数据处理软件
6.1支持Windows7操作系统的控制及应用软件；
6.2自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；
6.3控制测角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；
6.4对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比。.
7应用软件部分：物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。
8整机综合稳定度：≤0.3% 。
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