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粒子界面特性评价装置

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品牌名称：美国Xigo型号：原产地：中国大陆更新时间：2026/10/9 12:34:21

产品摘要：粒子界面特性评价装置是评价粒子界面特征的装置，英文名：Evaluation Device of particle interface characteristics是一款革命性设计的新产品，可以对悬浮液状，乳液中小至纳米尺寸的颗粒的分散性的测试及对颗粒在湿式状态的比表面积测量

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产品简介

粒子界面特性评价装置是评价粒子界面特征的装置，英文名：Evaluation Device of particle interface characteristics是一款革命性设计的新产品，可以对悬浮液状，乳液中小至纳米尺寸的颗粒的分散性的测试及对颗粒在湿式状态的比表面积测量，基于核磁共振(NMR)原理，与传统的比表面积测量技术相比，具有多项独特的优势。与各种传统比表面积测量技术不同，Acron粒子接口特性评价装置可以直接对浓悬浮液样品进行直接地且精确地测量。整个过程中无需对样品进行稀释或干燥等处理。从开始到结束只需要5分钟时间。由于软件可以自动设定所要优化的测量参数，操作者几乎不经培训即可操作。

公司介绍

XIGO NANOTOOLS公司是2004年成立于美国的业纳米颗粒分析仪器公司，为全球纳米材料产业提供新的创新的分析工具，为粒子的分散性，浸润性，分散体系的稳定性提供全方位的解决方案。

工作原理

粒子界面特性评价装置 是基于核磁共振原理，当磁场改变时，与颗粒比宝马接触的或者附在界面上的液体分子与内部液体分子的行为存在很大差异。界面上的液体分子呈现受严重约束的运动状态，而内部自由液体却是可以随意运动的。在颗粒表面液体的核磁共振弛豫时间远小于液体内部的弛豫时间，其差别可以达到几个数量。悬浮液中颗粒的弛豫时间是两个弛豫时间的平均值；分别是对颗粒表面液体与自由液体相对总量加权得到的的弛豫时间，从而可以直接推导出颗粒的总比表面积。