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杨正红总经理出席第67次 ISO/ TC24/SC4国际标准化会议
点击次数：1194发布时间：2024/12/2 12:05:08
2024年的11月18日至21日，国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(ISO/TC24/SC4)第67次会议在美丽宜居的海滨城市广东省珠海市举行，对颗粒表征技术的国际标准进行制定与修订。这是中国第四次承办ISO/TC24/SC4工作会议，中国国际标准化组织总负责人李玉冰女士到会祝贺。
由于疫情和交通的后续影响，本届会议采用线上和线下同时进行，中国派出了20人以上规模的专家代表团。自2006年参加ISO会议以来，杨正红总经理作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员（SAC/TC168）和ISO注册专家再次出席了会议，并参加了WG1（粒度分析结果的数据表达）、WG3（孔径分布和孔隙率）、WG8（图像法粒度分析）以及WG17（Zeta电位测定方法）工作组会议。
在本次会议上，德国弗里德里希-亚历山大大学（FAU）分离科学与技术研究所所长Dr. Matthias Thommes教授通报了《固体表面水蒸汽吸附测量》国际标准的预研情况，上海理工大学周骛教授就中国代表团提出的《颗粒表征彩色图像法》国际标准的工作草案做了进一步说明。
当前，人工智能技术（AI）正在向各个领域快速渗透，SC4也开始组建技术工作组。在闭幕会议上，中国锂电行业的龙头企业介绍了他们正在开展的人工智能辅助颗粒表征技术在新能源行业的应用现状与展望，上海理工大学、山东理工大学和中国计量大学也分别介绍了他们在AI加持下的颗粒识别和表征技术案例。这预示着中国在人工智能在颗粒表征中的应用开发成果将在国际标准的提案方面占有重要先机。
杨正红总经理与日本創価大学教授、ISO/TC24/SC4主席松山达博士及伦敦大学学院吴晗博士在一起
