KLXM‑Pro 机制砂粒度粒形分析仪

产品简介

KLXM‑Pro 机制砂粒度粒形分析仪采用自由落体结合超声分散的检测模式，针对 10‑10000µm 区间的干式机制砂试样完成高速图像采集，可输出颗粒粒度分布、长径比、圆形度等形貌指标。设备符合《Q‑CR865‑2022 铁路混凝土用机制砂》以及 ISO 13322‑2:2021 动态图像粒度分析相关标准要求。

仪器依靠远心平行光光学系统，由电磁振动送料机构把砂样均匀送入落料通道；颗粒在重力下落过程中穿过检测视场，高速工业相机实时捕捉颗粒影像。系统对采集图像做二值化运算，提取颗粒投影面积、周长、最小外接矩形长宽等几何信息，换算等效粒径、圆度、长径比等关键参数。远心光路可以削弱漫反射干扰，强化颗粒边缘轮廓清晰度，提升整体测量精度。

核心技术参数

报告输出内容

1. 基础信息：样品编号、产地、批次、规格、检测时间等表头资料

2. 统计平均指标：体积平均粒径、球形度、长径比平均值、颗粒总数、重量比表面积等

3. 粒度分段占比：各粒径区间体积占比数据

4. 特征粒径：D10、D50、D90，同时支持自定义特征粒径输出

5. 图表文件：粒度分布、圆度分布、长径比分布的曲线图与对应数据表

检测原理

测量系统光路系统采用平行光源（远心光路）配合远心镜头组合，通过振动送料器将机制砂颗粒均匀输送落料口，机制砂颗粒通过自由落体分散的方式，经过测量光路区域，配合高速工业相机，实时捕捉下落机制砂颗粒图像,测量原理如图1所示。颗粒图像通过数字图像处理软件，计算分析捕捉到的每个颗粒的清晰图像,将颗粒图像转变成二值化图像，以获得颗粒投影面积S、投影周长及投影最小外接矩形的长b和宽a，计算颗粒的面积等效直径、圆度、长径比等粒度粒形参数，颗粒数字图像二值化处理结果如下图所示。远心光路系统具有高对比度的轮廓。远心光路降低了物体的漫反射，从而提高了颗粒边缘对比度和测量准确度。

售后服务说明

1. 整机提供两年质保，提供终身维修服务；支持付费延保，缴纳 2000 元可延长 1 年保修期。

2. 可根据客户现场需求提供个性化定制方案。

3. 配套分析软件持续免费更新，不受质保期约束，可提供远程技术协助。

4. 免费送货上门，完成设备安装调试，并对 1‑2 名现场操作人员开展上门实操培训。

5. 易损耗零部件终身按成本价供货。

6. 故障报修 1 小时内响应；省内客户 12 小时工程师抵达现场，省外 24 小时上门服务。

装箱配件清单