圆盘式离心/沉降粒度仪-阿仪网

产品简介

BI-DCP是数字式控制的高分辨率、高度的颗粒粒度分析仪，它完善的硬件设计集中体现了90年代离心/沉降原理粒度测试仪器的全部技术精华。

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公司简介

由于BI-XDC采用X射线为光源，从而降低了系统对数学工具的依赖，从根本上了测量结果的性。

主要特点

1.辅层进样与均相进样两种方式
2.重力沉降与离心沉降两种模式
3.具有较高的分辨率
4.分段检测功能实用方便
5.应用广泛

技术参数

1.粒度范围：10nm-45um 或 10nm-100um
2.电极转速：500-10000rpm 或 500-15000rpm
3.精度：2%；重复性：1%
4.BI-DCP拥有强大的数据库，存储多种典型物料的消光曲线。
5.BI-XDC以X射线为检测光源，无需消光校正


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