晶体管直流参数测试表 数显晶体管测试仪JL294-3
类型 电参数测量仪 品牌 国产
型号 JL294-3 重量 0.5(kg)
尺寸 162×115×80(mm)
JL系列晶体管直流参数测试表分为数字显示JL294-3、JL294-3B【停产】和指针式JL295共计3个型号。
产品特点:
仪表可测试各种晶体二极管、三极管、可控硅、场效应管的正向、反向电压、正向饱和压降、放大倍数、反向漏电流等多种直流参数;电解电容,涤纶电容,钽电容,独石电容,高压瓷片的耐压值;压敏电阻的保护电压值;氖泡、霓虹灯管的起辉电压值;电器产品的绝缘性能;78、79系列三端稳压电路的稳压值。
仪表为便携式设计,体积小、重量轻、量程多、功能强、操作均采用无锁按键,使用方便可靠,实用性强,适用于从事电子技术的实验人员、调试人员、维修人员、采购人员、销售人员及无线电爱好者。还适用于电子电器产品生产厂家作为各类电子元器件批量检测之用。
通用性技术指标:
工作电源:DC 6V ± 5% (单电源)【自行购买电源,厂家没有配送!】
电源功耗:≤3A
显示方式:0.5”LCD液晶显示
外型尺寸:162×115×80(mm)
整机质量:≈500g(机内不含电池)
功能性技术指标:
VBR测量范围:0~199.9V/0~1999V
分 辨 力:0.1V/1V
VCE(set)测量范围:0~6.00V
分 辨 力:0.01V
hFE测量范围:0~199.9β~1999β
分 辨 力:0.1β/1β
Iceo测量范围:0~1999uA
分 辨 力:1uA
三端稳压测量范围:0~24.0V
分 辨 力:0.1V
基本误差:±2.5%量程 (环境湿度≤75%RH)
使用注意事项:
1、测试晶体管的反向击穿电压时,被测管与测试插座的接触必须良好,再按测试键!如果接触不良,在高电压测试的情况下极有可能将被测管损坏!
2、测试电容器时不要将电容器插在三极管插座的插孔内测试电容的耐压,也不要先松开关再拔电容,因为这样有可能导致电容器上带的电荷泄放在仪表内部,会将开关触点损坏!建议专测电容耐压的用户选择JL294-3B电压可调型仪表测试电容器的耐压。
3、用户在大批量测试元器件之前请先仔细阅读使用说明书,采取正确的操作方法,并应先进行少批量的试验测试,在确定所用的测试方法不会损坏元器件的情况下进行大批量测试!如需大批量检测某一型号的元器件而又无法确定测试方法的,请即致电本公司!
4、仪表各档开关正常工作寿命约为3~4万次;但在2000V高压或2A大电流的负荷下工作寿命将有所下降,约为2万次,如果生产型工厂作为元器件大批量连续测试使用,请提前告知本公司进行更改,否则容易在短期内将开关损坏;如属大批量连续测试而损坏开关的故障不属于免费维修的范围!
产品概述 |
晶体测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。 晶体测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。 |
产品特点 |
1. 阻抗值、ppm同时显示 2. 无需人工校对,直接测试多种参数 3. 新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备 4. LCD显示
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我们的优势 |
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特性 |
1. 中心频率范围: 20KHz-100MHz任意设定 2. 负载电容:4-20P 任意设定 3. 负载谐振电阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范围测量:±300ppm 5. PPm测量精度:< 0.5ppm 6. 时基频率:16.384M 7. 晶振稳定性:2×10-8 /日 8. 体积:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
订购注意事项 |
1. 此产品网上订购,价格不含税不含运费,承诺质量保证并十五天内包退换,下单即可备货发货。 2. 请告知我们待测产品,以方便我们为您正确选型。 3. 如有特殊要求时请在订购产品时注明。 4. 若已由设计单位选定的型号,请按型号直接向我司销售部订购。 5. 当使用的场合非常重要或环境比较复杂时,请您尽量提供设计图。 6. 如有任何疑问,请随时致电我们,我们一定会尽心尽力为您提供优质的服务。 |
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照明/受光系统 | 8/d(8°照明/漫射受光),含镜面反射光(SCI) | 存储 | 标准样100组,每组标准样下测试组100组 |
显示模式 | 色度值:L*a*b,L*C*h,△E*ab,XYZ,相对RGB值; 色差值:△(L*a*b),△(L*C*h); 白度值:亨特白度,甘茨白度; 黄度值:YI | 测量时间 | 约0.5秒 |
测量光源 | LED | ||
界面语言选择 | 中文 英文 | ||
电源 | 4节AA1.5V碱性电池或镍氢电池、专用适配器DC5V | ||
测量口径 | 约直径8mm | 接口 | USB2.0打印机 |
测量条件 | CIE 10° 标准观察者,CIE D65光源 | 重量 | 550g |
测量范围 | L*:1-100 | 尺寸 | 77×86×210mm |
重复性 | 标准偏差△E*ab*,0.08以内(测量条件:测白色校正板30次求平均值) | 其他功能 | 摄像头取景 |
产品概述 |
晶体测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。 晶体测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。 |
产品特点 |
1. 阻抗值、ppm同时显示 2. 无需人工校对,直接测试多种参数 3. 新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备 4. LCD显示
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我们的优势 |
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特性 |
1. 中心频率范围: 20KHz-100MHz任意设定 2. 负载电容:4-20P 任意设定 3. 负载谐振电阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范围测量:±300ppm 5. PPm测量精度:< 0.5ppm 6. 时基频率:16.384M 7. 晶振稳定性:2×10-8 /日 8. 体积:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
订购注意事项 |
1. 此产品网上订购,价格不含税不含运费,承诺质量保证并十五天内包退换,下单即可备货发货。 2. 请告知我们待测产品,以方便我们为您正确选型。 3. 如有特殊要求时请在订购产品时注明。 4. 若已由设计单位选定的型号,请按型号直接向我司销售部订购。 5. 当使用的场合非常重要或环境比较复杂时,请您尽量提供设计图。 6. 如有任何疑问,请随时致电我们,我们一定会尽心尽力为您提供优质的服务。 |
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产品概述 |
GDS-80 晶体测试仪是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。 GDS-80 晶体测试仪采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。 |
产品特点 |
1. 阻抗值、ppm同时显示 2. 无需人工校对,直接测试多种参数 3. 新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备 4. LCD显示
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我们的优势 |
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特性 |
1. 中心频率范围: 20KHz-100MHz任意设定 2. 负载电容:4-20P 任意设定 3. 负载谐振电阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范围测量:±300ppm 5. PPm测量精度:< 0.5ppm 6. 时基频率:16.384M 7. 晶振稳定性:2×10-8 /日 8. 体积:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
订购注意事项 |
1. 此产品网上订购,价格不含税不含运费,承诺质量保证并十五天内包退换,下单即可备货发货。 2. 请告知我们待测产品,以方便我们为您正确选型。 3. 如有特殊要求时请在订购产品时注明。 4. 若已由设计单位选定的型号,请按型号直接向我司销售部订购。 5. 当使用的场合非常重要或环境比较复杂时,请您尽量提供设计图。 6. 如有任何疑问,请随时致电我们,我们一定会尽心尽力为您提供优质的服务。 |
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