海达仪器HD-520AS跌落测试用途:本机专用于测试产品包装受到坠落之受损情况,及评估运输搬运过程时耐冲击强度。主要用于模拟包装件在运输、装卸过程中受跌落冲击的影响程度鉴定包装件的耐冲击强度及包装设计的合理性.广泛适用于商检、企业、技术监督机构以及院校。可用于试验面跌落、角跌落、棱跌落等
跌落测试注意事项及维修保养
1、每次测试完毕,须把跌落臂落下,以免长时间复位的跌落臂把弹簧拉变形,影响测试效果,每次跌落前请先复位置电机停止转动后方可按跌落键;
2、单翼跌落试验机关于跌落高度调整:打开主机电源,设定试验所需高度(方法如下),按上升键使之达到所设高度;若在中途停止,则必须使之达到设定高度后才可以执行反向运行命令;
3、将被测物体放于工作台面,然后用固定杆加以固定;
4、按双翼跌落试验机的上升键使被测物体提升至设定高度;
5、按跌落键使工作台面瞬间脱离被测物体,被测物体做自由跌落运动;
6、按复位键使工作台恢复工作状态;
7、双翼跌落试验机若重复试验,则重复上述步骤.
8、在试验完后:按降低键使工作台面运作至位置关闭电源键;
名称 | 技术指标 | 名称 | 技术指标 |
主控单元 | 工业级专用系统 | 显示方式 | 640×480高亮度TFT真彩液晶屏 |
声时精度 | 0.05μs | 通道数 | 1发射+2接收+外触发 |
声时测度范围 | 0~629000μs | 触发方式 | 信号触发、外触发 |
接收灵敏度 | ≤30μv | 自动测桩提升系统 | 双通道自动测桩提升系统 |
采样间隔(周期) | 0.05μs~400μs,14档可调 | 最小测点间距 | 0.05mm |
放大器增益 | 82dB | 测试速度 | 1m/s(0.1m一个点) |
放大器带宽 | 10kHz~250 kHz | 单剖面最大测点数 | 1024 |
幅度分辨率 | 0.39% | ||
发射电压(V) | 65、125、250、500、1000可选 | 通用接口 | 并口+USB口、支持移动存储 |
发射脉宽 | 20μs~20ms可调 | 操作方式 | 快捷键+光电旋钮 |
存储容量 | 256M(CF卡)+1G(U盘) | 管口导向轮 | 2×0.3kg,27×9×10cm |
三种供电方式 | 内置高能锂电池,连续工作达6h | 主机适用打印机 | HP及其兼容激光打印机 |
外置接口:12V DC | 主机尺寸(mm) | 250×185×58 | |
100V~240V、50/60Hz | 主机重量 | 1.8kg(含内置电池) |
| ![]() | | ![]() |
ZBL-U520A主机一台 | ZBL平面换能器1对 | 10米信号线1对 | 径向换能器1对 |
| ![]() | ![]() | ![]() |
AC-DC充电器1个 | 深度记录轮 | 管口导向轮 | 三脚架 |
![]() ![]() | | | ![]() |
指南针U盘 | 钢卷尺1个 | 防水仪器箱2个 | 信号线1根 |
![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
产品质保书1个 | 主机使用说明书1本 | 分析软件说明书1本 | 装箱单合格证各1个 |
![]() | | ![]() |
ZBL平面换能器 | 10米信号线 | 径向换能器 |
![]() | | |
冲击回波配件 | AC-DC充电器 | 防水仪器箱 |
类别 | 测试界面 | 分析界面 |
综合法测强 | ![]() | ![]() |
不密区和空洞检测 | ![]() | ![]() |
裂缝深度检测 | ![]() | |
声波透射法测桩 | ![]() | ![]() |
测井测试 | ![]() | |
冲击回波法测厚度及缺陷 | ![]() | ![]() |
![]() | ![]() |
测缺处理软件 | 测强处理软件 |
![]() | ![]() |
测桩处理软件 | 测桩打印设置 |
![]() | ![]() |
测桩曲线 | 生成报告 |
上海亚荣旋转蒸发器RE-52A技术参数:
主机:0-150转/分,电子无级调速,手轮丝杆升降,稳定可靠
冷却器:立式,夹层有加冰容器,附阀门式加料管,供连续加料
温度:自动控制室温-99度数字显示
加热锅:不锈钢特氟隆复合锅透明罩
输入功率:1000W
电压:-220V/50HZ
特点: 加热锅设有全透明防护罩,保温,节能,防爆,防溅,防污染主要金属采用耐腐蚀优质不锈钢制造
出厂标配收集瓶500ml 旋转瓶250ml
AZ3520 温湿度传感器 | ||||||||||||||||||
规格:
|
SSD测试夹具,2246en主控,一块测试板+2只DIP48座子。工厂直销!
2246EN转DIP48测试板 暂时只能支持MLC等级的FLASH,支持4CE以下的芯片,产品特点:可以测试各类封装的FLASH BGA100 /132/152 /TSOP48/LGA等转DIP48的测试座都可以随意更换,每款测试座都转成了由我公司定义的行业通用标准48pin,不仅可以用在固态硬盘测试架上,如果有一些不能用于SSD等级的芯片也可以用我们的测试座插在U盘方案的一拖四测试架上面测试,为客户减少测试架成本。我们的测试座限位框都是只需要取两个螺丝就可以轻松更换。
产品简介
产品用途:对BGA152/132的IC芯片进行测试
适用封装:BGA152、BGA132 引脚间距1.0mm
测试座:BGA152/132-1.0
特点:可更换测试座,节约成本
规格尺寸
型号:BGA152/132-1.0
引脚间距(mm):1.0
脚位:88
芯片尺寸:12*18/14*18 可更换限位框。
SSDsocketFlashBGA152测试座 SSD一拖二测试板SM2246EN闪存测试
测量范围 | 露点: -80 ... +20 ºCtd 温度: -30 ... +50 ºC 压力: -0.1 ... 1.5 MPa |
精度 | 露点: ±2 ºCtd @ -50 ºCtd 温度: ± 0.3 ºC 压力: ± 0.005 MPa |
显示单位 | g/m3, mg/m3, ppmV, g/kg 露点, 大气露点 |
反应时间 | -50 -> -10 ºCtd 10 秒 -10 -> -50 ºCtd 5 分钟 |
电池时间 | 6 小时 |
操作环境 | 温度: 0 ... +50 ºC 压力: < 1.5 Mpa (表压) 湿度: <90% 非冷凝 |
可选配置 | |
数据记录 | 100,000,000个数据 |
接口 | 蓝牙 |
供应德国狼牌wolf调焦镜头产品型号:85261.242、85261.272、85261.501
用 途:可调焦或可变焦
消毒方式:可高温高压消毒