一、产品说明
采用量块或标准零件,以高精度比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150 mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各级计量室的基本长度计量仪器之一。
二.技术参数
1.被测件最大长度: 150 mm2.工作台行程: 5 mm
3.测杆移动范围:0.5mm
4.分划板刻度范围:±50格5.直接测量范围:5-20μm6.分度值调整范围: 0.05 - 0.2μm7.推荐使用分度值: 0.1μm8.测量压力: (1.5 ± 0.1) N9.仪器示值稳定性: 0.02μm10.仪器误差: ±(0.03 + 3n i λ) μm ( n-格数, i- 格值, λ-滤光片波长误差)11.仪器体积:28*50*70cm12.仪器重量:40KG
13.标准配件: 五筋园台;九筋玛瑙台;可调园平台;辅助台; 平面测帽 Ф2;小球面测帽;干涉滤光片
立式接触式干涉仪 JDS1
一、仪器用途本仪器是是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各计量室的基本长度计量仪器之一。立式接触式干涉仪JDS-1技术参数:1、被测件大长度:150 mm2、工作台行程:5 mm3、测杆移动范围:0.5mm4、分划板刻度范围:±50格5、直接测量范围:5-20μm6、分度值调整范围:0.05-0.2 μm7、推荐使用分度值:0.1 μm8、测量压力:(1.5±0.1) N9、仪器示值稳定性:0.02 μm10、仪器误差:±(0.03+1.5ni △λ/λ)um n 是格数, i是格值,λ是滤光片中心波长,△λ是滤光片波长误差 11、仪器体积:280×500×700 mm12、仪器重量:40 kg标准配件:1、五筋园台2、九筋玛瑙台3、可调园平台4、辅助台5、平面测帽 Ф26、小球面测帽7、干涉滤光片
SLF-C-1 |
SLF-C-2 |
YBLX-KLT2-1 |
YBLX-KLT2-2 |
YBLX-KLT2-I |
YBLX-KLT2-II |
KHJ0.3/24 |
KHJ0.05/12 |
KHJ0.5/12 |
KHJ1/12L |
KHJ-3/24 |
ZWL2-I-C2 |
ZWL2-II-C2 |
LXB-02GKK |
SFXL-I |
SFXL-II |
SP-2DM |
SP-2DMS |
ZGLS-Z |
立式接触式干涉仪 接触式干涉仪
型号:LT/JDS-1