硬度测量范围 | 5-3000HV |
显微维氏标尺 | HV0.01, HV0.025, HV0.05, HV0.1, HV0.2, HV0.3, HV0.5, HV1 |
显示 | 保持时间(秒),硬度值 |
试验力 | 0.098-0.24-0.49-0.98-1.96-2.94-4.9-9.8N 10、25、100、300、500、1000gf |
精度 | 符合EN-ISO 6507和ASTME384GB/T4340 |
加载控制 | 自动(加载/保持/卸载) |
试验力保持时间 | 5 ~ 99秒 |
试验力选择 | 外置式选力旋钮,试验力显示在LCD屏上 |
物镜 | 10×,40× |
目镜放大倍数 | 10× |
总放大倍数 | 100×(观察),400×(测量) |
测量范围 | 200μm |
分辨率 | 0.5μm |
XY试台尺寸 | 100 x 100mm |
行程范围 | 25 x 25mm |
分辨率 | 0.01mm(微分头) |
最大高度 | 85mm(2.55") |
最大宽度 | 120mm(3.35")(从压头中心线至机壁距离) |
光通道 | 双光信道(目镜及CCD摄像通道) |
电源 | 110、220V、60/50Hz |
尺寸 | 513×320×560mm |
重量 | 36kg |
机台特点: 原装日本尼康LU物镜和显微技术,包括:明场,暗场,DIC衬度,偏光和落射荧光。可以在物镜转换器上安装五个物镜。特别适用于在高倍率物镜时对产品观察测量,。 型号及产品参数 1290(测量范围:X轴1200mm,Y轴900mm) 1000(测量范围:X轴1000mm,Y轴1000mm) 9060(测量范围:X轴900mm,Y轴600mm) 5040(测量范围:X轴500mm,Y轴400mm) 4030(测量范围:X轴400mm,Y轴300mm) 3020(测量范围:X轴300mm,Y轴200mm) 2010(测量范围:X轴200mm,Y轴100mm) 1010(测量范围:X轴100mm,Y轴100mm) Z轴测量范围:150mm, 显示器分辨率:0.001um\0.0005um\0.0001um可选配
观察倍率:15x-3000x(根据物镜与物镜的组合)
◆倍率:25×-1500× (明暗场可以选择)
◆3-6寸晶片、LCD、PCB、FPC及金属表面组织观察
◆可以选配专业偏光(Polarizer)
◆可以选配微分干涉棱镜 (DIC)
◆可以附加NIKON 专业数码相机及CCD影像扩展
◆可以附加专业金相测量软件实现电脑测量
这些显微镜提供了良好的性能在视察半导体,平板显示器,包装,电子基板,材料,医疗设备,以及其他各种样品。
支援客户定制专属自己的检查机
类别 | 放大倍数 | 视场直径(mm) |
平场目镜 | 10× | φ18 |
16× | φ11 |
类别 | 放大倍数 | 数值孔径(NA) | 工作距离(mm) |
平场消色差物镜 | 4× | 0.10 | 37.5 |
10× | 0.25 | 7.31 | |
40× | 0.65 | 0.63 | |
100×(油) | 1.25 | 0.18 |
1. 系统功能
A. 系统联动
通过自动化对硬度计动作的控制及信息的获取。包括控制硬度计转塔、加载、保载时间设定、照明亮度调节以及当前压力等实验参数的获取。
B. 平台联动
控制电动载物台按照设定的方向、距离、速度进行各种方式的移动。
C. 数字成像
采用最新流行的数字成像技术,通过USB2.0接口成像。
D. 硬度测量
通过自动读数、手动读数等方式,实现维氏硬度或努氏硬度数值的读取,并可转换为多种硬度等效值。
E. 结果输出
存储测量结果、测量环境、压痕图像等多种试验过程数据及结果数据,打印检测报告及图像。
2. 性能特点
A. 与硬度计系统全面互动
全面控制硬度计动作及硬度计参数采集,包括硬度计物镜、压头的选择、保载时间的设置、灯光亮度的调节、加载的启动以及力值的获取、实验方法(HV/HK)的选择、测量结果(D1、D2、HV)的获取等。
B. 高精度、多样性的自动载物台控制
1) 高数度的自动载物台
重复精度≤3微米;最小步距≤1微米;操作方式为手动控制、电动控制、计算机控制。
2) 方便的载物台控制
软件控制载物台的上电或下电状态,用户根据习惯,选择手动控制、电动控制、计算机控制等任一模式进行工作;支持X、Y轴同步移动,节省移动时间。
3) 灵活的计算机控制模式
定位移动:物台直接移动到软件设定位置;
定点移动:选择试样上任一点,移动到压头下方;
定向移动:鼠标点击控制载物台进行八个方向任意移动,移动步距可设置;
任意移动:鼠标拖拽载物台向任意方向移动,便于用户浏览试样表面情况;
变速移动:平台移动时,共有多档速度可选;
其他功能:原点位置任意设置、自动复位、机械限位等多种专业功能,满足各种需求。
4) 多样载物台应用模式
软件通过对硬度计控制、自动载物台控制、数字成像、自动/手动读数等各种方式的组合,提供各种程序化的试样测试方法。
C. 高分辨率的数字成像技术
采用高分辨率的数字成像系统,最高分辨率达到300万像素,远远超过一般模拟摄像头的分辨率,为高精度地测量提供了基础。
即插即用、带电插拔的USB2.0接口,使得安装和维护异常方便,无需关闭计算电源,即可完成所有安装、调试、维修工作。
支持多种图像格式存储,满足用户不同需求。
D. 先进独特的测量技术,保证高精度、高重复性的测量
1) 方便适用的定标功能-----利用标准测试卡,方便地进行整个系统的标定工作;
2) 领先的自动读数技术-----领先的自动读数技术,不仅可以得到亚像素、高精度、高重复性的结果,而且适用于一般的压痕图像甚至包括有少量锈蚀、划痕、光线不匀、浅腐蚀的图像,测量速度极快;
3) 独特的手动点取、自动寻点技术-----用户可以在压痕四个顶点附近,大致点取,系统自动判别最佳的顶点位置,直接读数;即满足一般用户的习惯,又大大降低用户的劳动强度;
4) 一般的手动测量方法-----包括4顶点测量、2对角测量等。4顶点测量时,可按任意顺序点取4个顶点,方便用户。
E. 完善的结果处理、保存和输出功能
1) 硬度换算
依据国家标准,自动进行多种硬度数值的转换,实时显示。
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项目 | SMZ745/745T |
光学系统 | 内斜式格里诺光学系统 |
物镜筒 | 内嵌0.55倍镜头,适用于2/3英寸以下的CCD |
镜 筒 | 固定式 |
俯视角 | 45° |
瞳距调整范围 | 52~75mm |
目 镜(有视度补偿) | C-W10xB(视野数22)、C-W15x(视野数16)、(标配) C-W20x(视野数12.5)、C-W30x(视野数7)(选配) |
光学变焦范围 | 0.67~5倍 |
变焦比 | 7.5:1 |
辅助物镜 | G-AL0.5 x (工作距离211 mm)G-AL0.7 x(工作距离150 mm)G-AL1.5 x (工作距离61 mm)G-AL2x(工作距离43.5 mm) |
工作距离 | 115mm(标准配置时) |
重 量 | 1.8kg(SMZ745T) 1.55kg(SMZ745) |
产品简介: 连续变倍体视显微镜,标准配置连续放大倍率:7X~45X,放大限度范围:在3.5X-180X之间(使用辅
助物镜),调焦手轮松紧可调,升降范围49mm,使用高眼点广角目镜,为佩带眼镜的观察者提供方便,标
准工作距离为100mm,最长限度范围:30mm-165mm超长的工作距离,为使用者提供更大的工作空间.
应用领域: 工业上的装配、测试、测量以及品质控制,尤其是IT产业测试;学校和研究所自然科学方面的培训和
教育;医疗机构的日常检查、生物工程和科学的研究;能满足现代生物研究、半导体和其它科技工业领域等
高科技领域。
功能特点:
● 防静电功能:采用铝制材料,同时加喷防静电漆,能防止静电的干扰。
● 密封功能:变倍镜筒、10X目镜都具有密封功能,当显微镜在油气、水汽等湿度较高的环境中仍能较
方便的使用。
● 创见性人机学设计,更加操作者长时间舒适操作。
● 具有高清晰度、大视场,长工作距离等特点。WH10X20mm高眼点广角目镜,为佩带眼镜的观察者提供
方便, 30mm-165mm超长的工作距离,为使用者提供更大的工作空间.
IDEA SCIENCE爱迪赛恩公司为您提供的解决方案
Evex凭借NanoAnalysis系统----完整的电子显微镜方案----引领显微镜的新时代。Evex NanoAnalysis系统由Evex Mini-SEM,Evex Mini-SEM,EvexQDD的探测器技术和Evex NanoAnalysis软件组成。Mini-SEM是具有高清度,高放大率,高性能的台式扫描电子显微镜。Mini-SEM结合了传统SEM的性能,但在大小,价格和易操作方面超越了台式显微镜。运用能量分散光谱(EDS/EDX)技术时,添加EvexQDD,无液氮高速X射线探测器和Evex X射线NanoAnalysis软件(光谱采集模式,图像采集模式和元素绘图模式)到其中,可在几秒内分析样品的元素成分和描绘元素相关位置。
Evex将该系统设计成实用,易操作且购买得起的。几秒钟内从10X到30000X (120000X数字变焦)变焦。自动聚焦,亮度和对比度自动调整让每张图片都很。
Mini-SEM可用于医疗保健,仪器科学,法医学,生命科学,材料科学,军队或教育领域。无论何种应用,Mini-SEM都是的工具。
Evex NanoAnalysis系统是确认一个样品的元素成分的最有力的分析工具。将样品插入测试室内,几秒内就出现图像。事先浏览整个图像视野或在某一个特征上放大。点击图像中的一点,收集光谱开始。几秒内通过元素成分确认物质。接下来,激活任一绘图功能来确定元素的空间位置,通过使用任何以下绘图模式来完成:点式,多点式,线扫描,区域绘图,变焦绘图,索引绘图和痕量感光分析(T.S.A)的索引绘图。
Evex NanoAnalysis系统的绘图功能包括索引绘图(用于图像的每个像素的一段光谱)和T.S.A(痕量感光分析),后者能测定整个样品中极微量的物质浓度。索引绘图的最大优势是它能保存整个实验,因此你可以在任何工作地点的任何时候检索原始数据。
Evex Mini-SEM技术参数 放大率: 30,000X(数字变焦4 -120,000X)加速功率: 1kv – 30kv探测器: SEI(标准),BEI/EDS(可选)图像大小: 4096×4096图像格式: JPG,TIFF,BMP,PNG数据显示: Micron Bar, Magnificaiton, Date, Kv电压: 110v或220v
无液氮高速X射线探测器
探测器窗口 SUTW UTW Be 检测限 Be4/B5 C6 Na11 精度 128FWHM @ 5.9kev MN-Ka 1000cps 传感器尺寸 10mm, 20mm, 30mm 冷却 Peltier
A – Evex Mini-SEM (扫描电子显微镜)B – 电源开头 & 样品交换按钮C – 真空标准Vacuum Level -D – 样品交换Sample Exchange -- 样品室大小 - 4x4x4- 样品大小- 2x2x2- 样品位置 (X,Y,R)E – 高速无液氮X射线探测器- 检测元素范围:4 - 92 $$$$ (Be - U) (SSUTW)- 检测元素范围:5 - 92 $$$ (B - U) (SUTW)- 检测元素范围:6 - 92 $$ (C - U) (UTW)- 检测元素范围:11 - 92 $ (Na - U) (TW)F - NanoAnalysis – 软件G – 光谱采集组件 – 元素组成成分H – 图像收集组件 – 图像I – 射线探测器电源J – 元素绘图
量 程 范 围 | 0~±100、500……1000Pa |
0~2、10……1000 Kpa | |
过 载 压 力 | 2倍满量程 |
测 量 介 质 | 非腐蚀性干燥气体 |
输 出 信 号 | 4~20mA 0~10mA 二线制 |
1~5VDC 0~5VDC 三线制 | |
显示方式 | 3位半LED |
供 电 电 压 | 12~36VDC (标定值为24VDC) |
精 确 度 | ±0.1%F.S ±0.2%F.S ±0.3%F.S |
长 期 稳 定 性 | ≤±0.2%F.S/年 |
补 偿 温 度 | -10~+60℃ |
介 质 温 度 | -20~+85℃ |
响 应 时 间 | ≤1ms |
负 载 电 阻 | R=(U-12.5)/0.02-RD 其中:U为电源电压,RD为电缆内阻 |
寿 命 | >1×108压力循环(25℃) |
压 力 接 口 | Φ6、Φ8塔型接口 |
电 气 链 接 | 电缆出线 |
防 爆 等 级 | ExiaIICT6 |
防 护 等 级 | IP65 |
代 码 | 说 明 | |||
YZ21XM | | 智能数显微差压变送器 | ||
| FS | | 压力满量程 | |
J | | 精 度 | ||
| I | | 电流输出 | |
| V | | 电压输出 | |
| M | 螺纹安装 | ||
| H | 电缆线长度 |