本仪器广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。观察目标:大于3 微米小于20微米,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
二、技术指标
正交偏光装置
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【备 注】: 芯片检查显微镜TX400主要技术参数见下表:
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芯片检查显微镜技术参数:1.镜筒:三目,30°倾斜 2.高眼点目镜:WF10X/Φ25mm 3.无限远长工作距离物镜:4X、10X、20X、40X 、100X4.转换器:五孔 5.工作台尺寸:310mm×350mm 6.调焦:粗微动同轴,范围36mm,微动0.002mm 7.光源:垂直照明,卤素灯12V100W,亮度可调 8.DIC装置:偏光装置、明暗场转换
详情请参照:www.szwdt.com
本仪器广泛的应用于透明,半透明或不透明物质,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
二、技术指标
本仪器广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。观察目标:大于3 微米小于20微米,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。
二、技术指标
正交偏光装置
放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离(mm) | 备注 |
5X | 0.12 | 9.70 | |
10X | 0.25 | 3.73 | |
20X | 0.40 | 7.23 | |
40X | 0.60 | 3.04 |
放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离(mm) | 备注 |
5X | 0.12 | 9.70 | |
10X | 0.25 | 3.73 | |
20X | 0.40 | 7.23 | |
40X | 0.60 | 3.04 |
芯片检查显微镜 小型光学检测系统
型号:GH/TX400
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北京GH/TX400芯片检查显微镜使用方法【备 注】: 放在倍率:21X--135X 可扩大倍率:84X--540X 工作距离:32mm--275mm 显示方式:电脑/显示器/液晶屏/电视机 照明光源:环型光源 标准配置: 大面积万能工作台 1 台 彩色监视器 1 套 照明光源(环形冷光源) 1 套 高清晰彩色摄像机 1 套 高清晰目镜 1 套 选配:计算机+多功能图象采集卡,完成图象的存储和打印,方便学校,研究机构和企业用来质 量分析,反馈跟踪,静态图象处理,静态图像编辑,表面图像分析,裂痕分析等. |
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【备 注】: 放在倍率:21X--135X 可扩大倍率:84X--540X 工作距离:32mm--275mm 显示方式:电脑/显示器/液晶屏/电视机 照明光源:环型光源 标准配置: 大面积万能工作台 1 台 彩色监视器 1 套 照明光源(环形冷光源) 1 套 高清晰彩色摄像机 1 套 高清晰目镜 1 套 选配:计算机+多功能图象采集卡,完成图象的存储和打印,方便学校,研究机构和企业用来质 量分析,反馈跟踪,静态图象处理,静态图像编辑,表面图像分析,裂痕分析等. |