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测定模式 | 标准:接触、动态、相位 |
选配模式:力调制模式、电流模式、磁力(MFM)模式、表面电位模式(KFM)、水平力模式(LFM) | |
分辨率 | 水平0.2nm 垂直0.01nm |
最大扫描范围(X/Y/Z) | 30μm×30μm×5μm(标准) |
125μm×125μm×7μm(选配) | |
55μm×55μm×13μm(选配) | |
最大样品形状 | 24mm × 8mm |
样品装载方式 | 头部滑动机构 |
分束器滑动机构 | 内置在AFM头内 |
仪器特点 : 计算机全数字化控制,操作简捷直观。 步进马达自动进行针尖--样品逼近,实验圆满成功。 深度陡度测量,三维显示。 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 X、Y二维样品移动平台,快速搜索样品区域. 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 样品观测范围从0.001um-20000um。 扫描速度达40000点/秒 可选配纳米刻蚀功能模块。 技术指标 : SPM探头 样品尺寸:直径小等于30mm;厚度小等于15mm。 XY最大扫描范围:标准6X6微米 XY向分辨率:0.4nm(轻敲模式);0.3nm(AFM模式);0.1nm(STM模式) Z向分辨率:0.05nm(轻敲模式);0.03nm(AFM模式);001nm(STM模式) XY二维样品移动范围:5mm;精度0.5微米 步进马达自动进行针尖-样品逼近 44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配) 电化学针尖块,液电池,液体轻敲式成像功能(选配) 全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台(选购) 电子学控制器 : XTZ控制 18-Bit D/A 数据采样 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 Z向反馈 DSP数字反馈 反馈采样速率 64.0KHz 高压放大器 集成高压运算放大器,最大电压范围+/-150V 频率范围 20K-1000KHz 幅度范围 0-10.0V 扫描速率 >40000点/秒 扫描角度 0-360度连续可调 扫描偏移 任意 图像采样点 256X256或512X512 步进马达控制 手动和自动进退 计算机接口 标准RS232串行/USB |
扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。•头部滑动机构 高稳定性&高速分析处理•鼠标操作即可实现丰富的3D图像显示•从观察到分析实现无拘无束的可操作性•满足所有要求的功能和扩展性•粒度分析软件(选配)•超微小硬度计复合型SPM系统SPM+TriboScope(TriboScope为美国Hysitron公司产品) 可以进行极薄膜的硬度试验和压痕试验。•微小部热分析试验仪器复合型SPM系统 SPM+nano-TA2(nano-TA2为Anasys Instruments公司产品)可以进行样品表面的三维形貌观察和点的热分析。
产品信息 |
探知未来 扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。
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