TR101粗糙度测量仪是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化仪器。
TR101粗糙度测量仪集当今微处理器技术和传感技术于一体,以的微处理器和的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。
TR101粗糙度测量仪适用于加工业、制造业、检测、商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测、计量、商检等部门的外出检定。
TR101粗糙度测量仪经过严格的温、湿度试验,可适应高温高湿度的工作环境
元素测量:测量点、线、圆、弧、角度、椭圆,规定点数测量矩形,自动识别点、线、圆、弧。元素构造:中心点构造、交点构造、中点构造、线构造、圆构造、角度构造。元素预置:点、线、圆、弧。图形处理:座标平移,工件摆正。任意轴摆正,座标系重置。图形放大,图形缩小,图形平移,图形打印图形选中,取消选中,图形删除。设置放大,图形缩小,图形打印圆形选中,取消选中,图形删除。设置影像的灰度,饱和度,对比度,影像保存为BMP格式。多种寻边模式,电脑自动取点,自动识别圆、弧大大提高采点速度。影像支持S端子输入;影像大小640*480mm。测量数据直接发送到AutoCAD中,测量的图形可以dxf文档保存。测量数据可发送到WORD,Excel中,进行统计分析,可画出简单的Xbar-S管制图,求出Ca,等各种参数。多种语言界面切换.
数显倾角仪|数字角度仪|倾角测量仪|底部宽量面倾角仪|DP-360W技术参数 : DP-360(不锈钢量面)DP-360H(不锈钢量面,底部带2个M4螺纹底孔)DP-360M(不锈钢量面,底部带磁)DP-360W(不锈钢量面,底部加宽量面)DP-360WM(不锈钢量面,加宽量面带磁)DP-360VM(不锈钢量面,底部V型槽带磁)DP-360A(铝合金量面,上下宽量面)DP-360AM(铝合金量面,上下宽量面,底部带磁) 量程: 4×90°(0~360°) 工作温度: +5℃~+40℃ 工作湿度: ≤85%RH 显示分辨率: 0.1° 精度: 0.2° 电源: CR2032 3V锂电池
Stable V970C全自动影像测量仪http://www.ostable.com/功能簡介
1.非接觸式光學影像幾何量測系統
2.投影儀比對系統
3.量測圖形及影像攝取列印系統
4.資料分析及輸出輸入系統
一.機構系統
1.移動橋架式結構,00級花崗岩底座,確保機構不變形
外觀尺寸:W:1510MM L:2100MM H:1970MM
整機重量:1800KG
2.高精度、低折射率工業專用光學玻璃的工作平臺
測量行程:X:700MM Y:900MM Z:200MM
平臺承重:100KG
3.高精度、高穩定性日本THK直線導軌
導軌直線度:±2µm
XY軸移動速度:500mm/s ;Z軸移動速度:100mm/s
XY軸加速度:1000mm/s2 ;Z軸加速度:350mm/s2
4.高穩定、高耐磨性日本進口SK2鋼帶,確保機器運行平穩
5.高抗扭性日本三木聯軸器
6.玻璃固定治具,固定或壓平軟性工件(選配)
二.Stable V970C全自动影像测量仪電控系統
1.高穩定性日本Panasonic AC伺服馬達
2.美國Galil四軸伺服控制卡
PCI匯流排
脈衝輸出頻率3MHZ
四路編碼器輸入口,頻率12MHZ
8入8出I/O點
最小伺服更新率(Servo loop update rate)
1、2軸:125微秒
3、4軸:250微秒
3.高解析度、高穩定性德國HEIDENHAIN
光柵尺解析度:0.5µm
4.雷賽ENC7480計數卡
32位元PCI匯流排
4軸28位元計數器,最大輸入頻率5MHZ
三.影像系統
1.日本SONY 1/3”CCD,768 X 494 PIXEL
2.美國Navitar 6.5:1全自動變倍鏡頭模組,Motor Zoom 6000
光學放大倍率:0.7-4.5X
影像放大倍率:22-145X
3.工業專用高速、高清晰SDK2000視頻採集卡
解析度:800 X 600 PIXEL;32位元真彩色;60幀/秒
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技术参数:
| 仪器参数 | \\ | 仪器型号 | BROS-2010M-2D | BROS-3020M-2D | BROS-4030M-2D |
| 测量范围(MM) | X | 200 | 300 | 400 | |
| Y | 100 | 200 | 300 | ||
| Z | 120 | 120 | 120 | ||
| 工作台(MM) | 硬铝合金台面 | 356×266 | 506×326 | 606×476 | |
| 玻璃台面 | 260×160 | 360×260 | 460×360 | ||
| 承重 | 20kg | 20kg | 30kg | ||
| 影像及测量系统 | CCD | 日本 V-TECH 高分辨率彩色工业摄像CCD 1/3英寸 480线 | |||
| 物镜 | 0.7-4.5X连续变倍 | ||||
| 放大倍率 | 20-120X | ||||
| 工作距离 | 100 | ||||
| 显示分辨率 | 0.001mm | ||||
| 线性精度(um) | E1=3+L/200 E2=3.5+L/150 (L为被测长度,单位为mm) | ||||
| 外形尺寸(mm) | 600×550×780 | 760×580×820 | 870×620×820 | ||
| 仪器重量 | 110kg | 175kg | 285kg | ||
| 照明 | LED表面光及轮廓光 | ||||
| 电源 | 220V±10%(AC) 50HZ | ||||
希而科张工优势销售DIATEST测量仪、DIATEST小孔量规、DIATEST指示型塞规
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公司介绍DIATEST成立于1948年德国Darmstadt。DIATEST主要生产可重复性使用的高精密测量仪器。DIATEST公司总部在达姆施塔特,DIATEST聘请在生产管理和供应交涉的人员,在世界各地超过35个国家。我们的客户遍布世界各地的制造商,他们要求的精度和质量的高标准,例如,航空航天工业,汽车和液压行业,以及一般工程。
产品简介DIATEST测量仪、DIATEST小孔量规、DIATEST指示型塞规常用型号常用型号
DIATEST NHM1-150 DIATEST R-2.750 DIATEST T-FB-1.75 DIATEST NHM1-100 DIATEST R-1.750 DIATEST MST-58 DIATEST SH-T DIATEST MDU125-1 DIATEST T-HM-2.75 DIATEST NHM3-310 DIATEST T-HM-10.0
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Beck(贝克)压力开关、微差压力开关、微差压力变送器Honsberg (豪斯派克)小口径流量计和流量开关Ahlborn (爱尔邦)万能数据采集器、万能接头Proxitron(柏西铁龙)高温接近开关、热金属检测仪、红外测温仪Mankenberg (曼肯贝格)液位控制阀、压力控制阀KRAL(克拉)螺杆流量计、三螺杆泵
优势备件编码器:Heidenhain、 Kuebler、 LIKA、Huebner传感器:HYDAC、Sitron、BALLUFF、TURCK、Suco、Pomini、Burster电 机:Bauer、VEM、baumuller、DEMAG、WATT、EMOD泵阀类:MOOG、Parker、EA、Linde、Janhs、GESTRA、Knoll、Brinkmann、DENISON 、Kracht、IMAVD、Voith其 他:SIEMENS、Mahle、Helios、Jakob、Heinrichs、Berthold、Pieper、Herzog、Eckelmann、PMA、zimmer、amtec、hanchen、bender、ADZ、Aircom、AMS、BTR、DITTRICH、Dostmann、Dresden、elobau、EHEIM、HJK、Hoentzsch、Hygrocontrol、IL、Kalinsky、Klaschka、Lambrecht、MBE、Membrapor、Paul、PEHA、Priva、SKI、Sonotec、Spega、Stoerk-Tronic、Thermokon、VAIHINGER、Zirox
发热量仪器/氧弹热值仪 / /大卡测定仪
测量发热量仪器/氧弹热值仪 / /大卡测定仪提示:本测量发热量仪器/氧弹热值仪 / /大卡测定仪信息,由本站会员河南I鸿博煤炭化验设备有限公司发布。该企业负责测量发热量仪器/氧弹热值仪 / /大卡测定仪信息内容的真实性、准确性和合法性
CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准,南华地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具,广泛应用于PCB, 五金端子连接器,电子元气件,等贵金属电镀测量行业
X-荧光镀层测厚仪CMI900 金属镀层厚度的精确测量
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,
x射线荧光测厚仪技术参数:
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B :精确度领先于世界,精确到0。025um 相对与标准片
C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D :统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
E :可测量任一测量点,最小可达0.025 x 0.051毫米x射线荧光测厚仪样品台选择:CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:一:手动样品台1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二:x射线荧光测厚仪自动样品台
1 程控样品台:XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI900x射线荧光测厚仪主要技术规格如下:
| No. | 主要规格 | 规格描述 | |
| 1 | X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | |
| 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 | |||
| 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 | |||
| 功率:50W4-50kV,0-1.0mA-标准 75W4-50kV,0-1.5mA-任选 X射线管功率可编程控制 | |||
| 装备有安全防射线光闸
| |||
| 2 | 滤光片程控交换系统 | 根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统 | |
| 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | |||
| 位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
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| 3 | 准直器程控交换系统 | 最多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制 | |
| 多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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| 4 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm准直器 | |
| 在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm使用0.3mm准直器
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| 5 | X射线探测系统 | 封气正比计数器 | |
| 装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
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| 6 | 样品室 | CMI900 | CMI950 |
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| -样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 |
| -最大样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| -XY轴程控移动范围 | 标准:152.4 x 177.8mm 任选:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| -Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时,152.4mm XY轴手动时,269.2mm | |
| -XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | ||