特点: 1、00级高稳定性花岗石底座。 2、采取瑞士TESA专利光学读值测量系统。 3、号：YVM-2010T 测量范围：200（X）X200（Y）X150（Z）mm 精度： 线性精度：（3+L/200）um 重复精度：3um 最小显示位数：0.001mm 系统最小解析度：0.0001 量测方式： 1、影像式＋探针式 2、进口高清晰度彩色摄像机 3、台湾制0.7-4.5Zoom变焦镜头 倍率变化：20X-220X 4、瑞士TESA测头：￠2、￠3mm 5、工作距离范围：115mm（影像） 6、世界电脑：DELL/PC机/17”纯平电脑 量测软体：YR-3T 工作温度：20±1℃ 操作温度：13-35℃ 是否符合电磁兼容实验：OK 机台重量：150Kg 外观尺寸：550*500*680mm 工作电压：220V
仪器特点：
强大的YR-C3T-T测量软件，可实现所有二维平面测量功能，还具备拍地图、产品轮廓扫描、专业SPC统计、手动CNC、宏测量等功能。自带“RENISHAW”测头可实现部分三维尺寸接触式测量。
| 0.0005mm | ||
| X.Y Axis：（3+L/200）μm | ||
| 3μm | ||
| 24~156X（可扩展至12~312X） | ||
| 影像式+探针 | ||
| 43万像素彩色高清晰度摄影机（SONY芯片） | ||
| 高清晰度0.7~4.5Xzoom光变焦镜头 | ||
| 英国RENISHAW MCP10 ¢2mm测头 | ||
| 92mm（影像） | ||
| 品牌电脑 | ||
| YR-C3T | ||
| 00级高稳定性花岗石底座 | ||
| 上、下光源均采用可调亮度LED冷光源 | ||