用途：
该X射线晶体分析仪，主要用于研究物质内部微观结构。如：单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。
| 晶体分析仪是利用X射线衍射原理分析物质内部结构的一种大型精密分析器，是多晶体分析的最基本方法。广泛用于教学、工业、农业国防和科研领域。 DXJ-2000型晶体分析仪高压控制单元采用单片机控制，并有故障诊断功能，仪器整机性能稳定，主要技术指标如下： |
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| X射线发生器部分 |
| ●额定输出功率：3kW； ●管电压：10~60kV 1kV/step； ●管电流：5~80mA 1mA/step； ●管电压、管电流稳定度：<0.01%； ●有过压、过流、过功率、无压、无水、X射线管工作水温等保护； ●kV、mA升降，光闸开关由微机控制功能。 |
| X射线防护 |
| ●铅玻璃防护，光闸窗口与防护罩连动，防护罩外射线计量不大于1μSv/h。 |
| X射线管 |
| ●最大额定功率：2kW、焦点尺寸：1×10mm； ●靶材：Cu靶或其他靶材； ●滤波片：Ni或与靶材匹配。 |
| X射线照相机 |
| ●劳厄相机：用微X射线衍射对晶体结构进行分析； ●德拜相机：用X射线衍射对微小微量的样品进行分析。 |
| 电 源 | AC220V 50HZ 30A |
| 功 率 | 2KW |
| 靶 材 | Cu |
| 管电压 | 50KV （连续可调） |
| 管电流 | 50mA （连续可调） |
| 制 冷 | 循环水、制冷水箱 |
| 防 护 | 铅有机玻璃防护罩 |
| 照 相 | |
| 相 机 | 背反射劳厄相机 |
| 照相方式 | 自动定时（） |
| 定时时间 | （ 1 秒～ 9999 秒） |
| 定 向 | |
| 方 式 | 高精度（前置单色器） |
| 测角范围 | θ 10 °～ 50 °、 2 θ 10 °～ 100 ° |
| 显示器 | 数字显示，度、分、秒 |
| 显示精度 | 1 ″ |
| 光 闸 | 脚踏电磁光闸 |
| 分辨率 | ± 15 ″（优于） |
| 产品概述 |
| 晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。 晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。它测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。 |
| 产品特点 |
| 1. 阻抗值、ppm同时显示 2. 无需人工校对，直接测试多种参数 3. 新技术，符合IEC-444标准，满足国人需求，可替代进口设备 4. LCD显示
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| 我们的优势 |
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| 特性 |
| 1. 中心频率范围： 20KHz-100MHz任意设定 2. 负载电容：4-20P 任意设定 3. 负载谐振电阻：1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范围测量：±300ppm 5. PPm测量精度：< 0.5ppm 6. 时基频率：16.384M 7. 晶振稳定性：2×10-8 /日 8. 体积：80×235×305（mm） 9. 保修期：三年 |
| 订购注意事项 |
| 1. 此产品网上订购，价格不含税不含运费，承诺质量保证并十五天内包退换，下单即可备货发货。 2. 请告知我们待测产品，以方便我们为您正确选型。 3. 如有特殊要求时请在订购产品时注明。 4. 若已由设计单位选定的型号，请按型号直接向我司销售部订购。 5. 当使用的场合非常重要或环境比较复杂时，请您尽量提供设计图。 6. 如有任何疑问，请随时致电我们，我们一定会尽心尽力为您提供优质的服务。 |
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