接口:K型
标准直径:3MM
金属针长:可选择长度,最短的20CM
测量范围:-50~800℃
手柄长度:13CM
导线长度:拉直后接近2000MM
应用:适用于食品,油,铁水,铝水,钢水等液体或半固态,或能插入的固体温度;
提醒:
此探头为耗损件,使用后不保修,不包退换.
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温度范围 | -40°F~ 311°F (-40°C ~155°C) |
精 度 | ±1.0°F (-4°F to 113°F ) ±0.5°C (-20°C to45°C) otherwise ± 1.8°F (± 1°C) |
分辨率 | 0.1 °F/°C |
LCD显示屏 | 38mm x 12.7mm |
数据刷新率 | 2秒 |
防潮性能 | 等级为IP56 |
探 针 | 总长:100mm 其中尖状部分:长:23mm直径:1.7mm |
整体长度 | 175mm |
证 明 | DeltaTRAK出厂证明,NIST,NSF,CE |
电 池 | 1.5V纽扣电池 |
SRP-4面铜探头 产品特点: CMI SRP-4探头配套于CMI760和CMI563;微电阻原理;用于精确测量表面镀铜厚度 CMI SRP-4探头应用: 配套于CMI760和CMI563;微电阻原理;用于精确测量表面镀铜厚度 CMI SRP-4探头参数: 测量范围:0.01-10mils
SRP-4面铜探头测试技术参数:铜厚测量范围:化学铜:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)电镀铜:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)线形铜可测试线宽范围:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)度:±1% (±0.1 μm)参考标准片精确度:化学铜:标准差0.2 %;电镀铜:标准差0.5 %分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
产品特点
1、°F/°C 双模式 2、比传统温度计测量速度快3倍3、LCD液晶显示当前温度4、防潮,易清洗 11000型探针中心温度计度设计小巧,携带方便,适合测量产品的中心温度,还可以替代传统的玻璃温度计的用途。它的探针前端非常尖锐,可以直接刺进一些食品中测量中心温度,反应快速。仪器外壳采用ABS工程塑料密封,经久耐用,表面光滑,使用触摸按钮,起到防水、防油脂、易清洗。在HACCP体系中被广泛采用。
技术指标:
温度范围 | -40°C ~150°C (-40°F~ 302°F) |
精 度 | ±1℃ |
分 辨 率 | 0.1°C |
传 感 器 | 不锈钢探针总长113mm,前端非常尖锐 |
显示刷新率 | 2秒 |
电 池 | 1.5V纽扣电池 |
证 书 | CE |
-AXXORA,
WI小型探针位移传感器
小型位移传感器的大用途 ...
如果因为空间狭窄让你放弃使用电感式位移传感器的话,现在你可以考虑使用新的小型探针位移传感器 WI 系列. 额定的测量长度为2 mm, 5 mm 和 10 mm 可选,并带有8 mm 夹钳。保护等级为IP67。
特点
型号: 探针
连接类型: 半桥
灵敏度 [mV/V]: ±40
线性误差 %: ±0.2
保护等级: IP67
额定位移 [mm], 0 ... 2, 5, 10
额定温度 [°C]: 10 ... 60
FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。广泛用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针
一、设备概述:高低温真空腔探针系统主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。
极低温测试:
因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆
上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些
需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵
的运转。
高温无氧化测试:
当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会
越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误
差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵
抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,探针座位于腔体外部,可以在不破坏真空度的同时调整探针达到理想位置进行测量。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。
二、技术参数:
1、探针平台:
探针座采用真空室外置结构,通过探针臂与探针实现同步、线性位移;探针座采用铝制整体式结构,结构紧凑、承载大、精度高、稳定性好等优点,三维调节范围为X、Y、Z±20mm,驱动方式为手动测微头,驱动位置为V型导轨+交叉滚珠中心驱动,产品定向性能稳定,采用精密研磨丝杆M3*0.5分辨率高,配合做大手轮,最小刻度0.01mm,精度0.001mm,直线度单轴0.002mm,重复定位精度±2微米,单轴直线度±2微米,固定方式为沉孔螺钉固定。自重1.7Kg,负载5Kg。
探针夹具采用同轴探针夹具,接BNC公接头。阻抗,50欧姆;
接头,Coaxial BNC公口;最小漏电流,10pA;线径,30AWG;最大
电压,700V。考虑到在做晶圆测试时是在高温下测量,所以探针夹具
连接处需采用高纯陶瓷连接,这样既可以耐高温,也可以减少放气量,
有利于高真空获得和数据的性!
探针臂采用优质304不锈钢光轴,可以有效保证探针的水平准直
度和变温环境下的刚性,减少形变造成的不良影响。
探针臂移动真空密封装置,采用压缩比达到1:6.5的焊接波纹
管,压缩寿命优于10万次。保证探针臂行程的同时减少对探针座造
成的负担。
2、光学平台
隔振支撑采用超薄复合材料气囊、自定心准无摩擦球头摆杆和带
附加扩散口的多小孔准层流阻尼技术,隔振性能良好。自动水平,自
动充气,全部气动执行元件采用德国FEST0产品,静音空气压缩机气
源、噪声低。
应用范围:适用于对振动要求高的场所。如光电测量、全息成
像、光栅制作等。轻松调节,结构稳定可靠。
台面为三层夹心蜂窝状支撑结构,采用ICR17优质高导磁不锈钢
平台表面粗糙度0.5?0.6 um
平面度0.02 ~ 0.05 mm/m2
固有频率1.5 ~2 Hz
振幅小于1 um
重复定位精度±0.10 mm
工作压力0.2~0.6(Mpa)
3、显微镜
1、鉴别力高,视场范围大,景深长。2、工作距离长至115mm。3、左右目镜屈光度可调正负5度,能满足不同视力的操作者观察。4、能随意调节手轮的力矩,满足不同操作者的使用习惯,更可以
锁定手轮,方便定倍观察。5、本显微镜为连续变倍,变倍比为6.3:1 ,物镜变倍范围
0.8X-5X。
6、双目观察倾斜45度,双瞳距调节范围52-75mm。
7、三目体式显微镜,可安装CCD成像系统。
8、最大倍率可达200X。
产品优点:
产品造型比较新颖
机械特性,操作舒适度高。
光学系统鉴别力达300线对以上,符合国际标准
超长的工作距离位于国内同行之首
独有的3A设计
创见性人机学设计,产品细节考虑。
配CCD采用USB连接电脑,分辨率≦2微米,像素≧500万
3A特性:
密封性-------防尘,防油\防水污染,此种接口密封性设计能安全防
尘\防油\防水或其它污染,这就减少了常规的维护,
从而降低了总的费用.
防霉性------使其同样适用于闷热或潮湿的环境,此独有的设计保证
了显微镜在高温或是潮湿下都能安然无恙
防静电------防静电设计可以释放显微镜内不断产生的静电,防止标
本被损坏,保证提高产量和降低产品成本
4、高低温控制系统
控温系统采用日本岛电温控仪表配置固态继电器、热电偶形成闭
环PID控温和自整定调节,智能化30段可编程控制,控温可达
到±1℃,显示精度1℃,温度均匀性±3℃;
加热器220V供电,最高温度600℃,液氮制冷,最低温度可达
到-130℃。
5、充气系统
充气系统采用采用质量流量计及控制显示器3路,采用日本原装
品牌,提供原产地证明,精度1%FS,响应时间优于1sec;
测量气体:待定 ,量程:待定 ,数量:3路,连接尺寸:F6
双卡套。
真空截止阀3个,连接尺寸:F6双卡套。
F52mm*L200mm混气罐1个,接头4个,连接尺寸:F6双卡套。
连接管路采用F6无缝BA级316材质不锈钢管。
6、真空系统
真空获得设备:抽真空机械泵采用中韩合资型号TRP-36,9L/s
抽速,自带防返油阀门,KF25接口,KF25排气口,
配有油雾过滤器。极限真空度优于10Pa。
真空连接管道:配置KF40手动真空挡板阀,波纹管密封,性能
可靠,外观大气,手感好;放气阀配置KF16手动
放气阀,体积小巧,性能可靠;所有真空管道采
用不锈钢液压波纹管,具备很好的柔韧度,消除
机械泵震动所带给探针台的影响。
真空测量:真空测量采用全金属KF16电阻规,配合真空计实时显
示从大气压到0.1Pa的真空度,外形美观,日后维护
成本低。
7、备品配件
赠送全套密封件1套,探针10只,探针臂陶瓷连接件2个。
三、各部位参数说明:
部位一
真空腔体
• 直径为8英寸,高度7英寸的304材质真空室
• 上盖带4英寸石英观察窗
• 下法兰带固定端,与光学平台连接
• 1个KF40抽真空排气口,3个CF16充气口,1个KF16电阻规接口,1个
KF16放气口,1个CF35预留接口,1个CF63 BNC真空贯穿接口,1个CF35
冷却液接口,4个CF63探针台接口
• 系统极限真空优于10Pa
• 直径为4英寸的紫铜材质样品台,平整度5微米
项目二
探针平台
• 探针平台,密位移方向XYZ三轴,采用交叉滚柱导轨,产品定向性能稳定,
采用精密研磨丝杆M3*0.5分辨率高,配合做大手轮,行程:X轴40mm,Y
轴40mm,Z轴40mm,分辨率3微米,螺距,M3*0.5,重复定位精度±2微
米,单轴直线度±2微米,固定方式沉孔螺钉固定。
• 探针夹具,同轴探针夹具 漏电精度10PA,接BNC公接口,陶瓷结构。
• 探针臂,采用304不锈钢光轴,保证水平的准直度和刚性。
• 探针臂移动真空密封装置,配置可压缩50mm的焊接波纹管。
项目三
真空系统
• 配置机械泵,抽速9L/s,不返油设计,冷态极限真空度优于10Pa。
• 配置KF40手动挡板阀1个,KF16手动放气阀1个
• 真空测量配置薄膜真空计,安装1个全金属KF16电阻规
项目四
光学平台
• 自动平衡精密隔振光学平台配置气悬浮自动平衡支架
项目五
显微镜
• 配CCD采用USB连接电脑,分辨率≤2 μm ,像素≥500万。
项目六
高低温控制系统
• 两路PID温度控制,显示精度1℃,控温精度±1℃,温度均匀性±3℃;
高温部件构成及低温部件构成;
最高温度600℃,最低温度-130℃。
项目七
充气系统
• 3路质量流量计,配置质量流量计;
3路CF16手动充气针阀。
项目八
备品配件
导热系数测试仪采用瞬态探针法,适用于测量高粘流体、胶状、颗粒、粉末等材料导热系数。本仪器将热线法与探针法相结合,在保证测量精度的同时大大提高了操作的便携性,用户仅需将探测器插入被测试样,通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数,特别适用于现场测量。
主要特点:
1. 操作便捷、测试速度快、测量准确
2. 特别适用于现场测量
3. 对样品无特殊形状要求
4. 自动化测试软件,操作方便
5. 配试样温度控制器,可测试样不同温度下导热系数。
主要技术参数:
1. 测量范围: 0.01~5.0 W/(m·K)
2. 耐压范围: 常压
3. 温度范围:室温,(检测样品不同温度下导热系数,需配温度控制器)
4. 精 度: <±3.0 %
5. 样品形状: 疏松物质
6. 样品用量: 长度不小于10cm,直径不小于3cm (用量与所配探针大小有关)
7. 测量时间: 5分钟
导热系数测试仪(瞬态探针法),胶体导热仪,颗粒导热仪
导热系数测试仪采用瞬态探针法,适用于测量高粘流体、胶状、颗粒、粉末等材料导热系数。本仪器将热线法与探针法相结合,在保证测量精度的同时大大提高了操作的便携性,用户仅需将探测器插入被测试样,通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数,特别适用于现场测量。
主要特点:
1. 操作便捷、测试速度快、测量准确
2. 特别适用于现场测量
3. 对样品无特殊形状要求
4. 自动化测试软件,操作方便
5. 配试样温度控制器,可测试样不同温度下导热系数。
主要技术参数:
1. 测量范围: 0.01~5.0 W/(m·K)
2. 耐压范围: 常压
3. 温度范围:室温,(检测样品不同温度下导热系数,需配温度控制器)
4. 精 度: <±3.0 %
5. 样品形状: 疏松物质
6. 样品用量: 长度不小于10cm,直径不小于3cm (用量与所配探针大小有关)
7. 测量时间: 5分钟
主要技术参数:
1. 测量范围: 0.01~5.0 W/(m·K)
2. 耐压范围: 常压
3. 温度范围:室温,(检测样品不同温度下导热系数,需配温度控制器)
4. 精 度: <±3.0 %
5. 样品形状: 疏松物质
6. 样品用量: 长度不小于10cm,直径不小于3cm (用量与所配探针大小有关)
7. 测量时间: 5分钟