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SFT9400系列南京镀层厚度测量仪，X射线荧光镀层厚度测量仪（SFT9400系列）,

产品简介

　　产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪　　产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455 　　产品特点：　　★搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器＋比例计数管）　　可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。　　能够对Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量　　对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量　　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度　　★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件　　对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域　　★适用超微小面积的测量　　标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。　　★搭载了可3段切换的变焦距光学系统　　★拥有防冲撞功能　　★搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）　　★搭载激光对焦系统　　★搭载测试报告自动生成软件　　　　产品特征：　　　　为了对应电子工业当中越来越复杂的镀金工艺而设计，是在以往的SFT9300的基础上升级的产品。他继承了SFT9300的75W高功率X射线管，还配备双检测器（半导体检测器＋比例计数管）。是SFT9000系列里级的机型，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。　　产品介绍：　　SFT9400系列产品规格　　型号：SFT9400／SFT9450／SFT9455 　　仪器的特长：微小面积对应及高性能型　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi）　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶）　　管电压：50kV管电流：1.5mABe窗　　滤波器：一次滤波器：Mo-自动切换　　二次滤波器：无　　照射方式:上方垂直照射方式　　检测器:半导体检测器＋比例计数管（不需液氮的检测器）　　仪器校正:自动校正＋手动校正　　准直器（标准配置）:○型（4种）　　安全性能:样品室门锁，样品防冲撞功能　　样品图像对焦:有（激光对焦）　　样品观察:CCD摄像头＋倍率光学器＋卤素灯照明　　焦点切换功能:3段切换9400：10／40／70mm 　　9450：10／25／40mm 　　X-rayStation 台式电脑　　（OS；MS-WindowsXP®）　　打印喷墨打印机　　应用单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍　　软件块体FP法软件、薄膜FP法软件　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像识别处理　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正　　统计处理功能：MS-EXCEL® 　　报告制作功能：MS-WORD®

该公司产品分类：荧光分析热分析表面分析拉拔仪环境箱测厚仪建工量具无损检测制样设备硬度计试验机元素分析仪器附配件分析仪器检测仪器试验机

SFT9300南京X射线荧光镀层厚度测量仪

产品简介

　　适用于手机零件等微小的电子部件等样品，专门配备了微型准直器（最小15μm）和75W（50kV，1mA）高功率X射线管，满足测量微小区域及高精度的需求。测量样品的微小部时与以往的机种相比，得出相同度的前提下大大缩短了测量时间。（SFT9300、SFT9350、SFT9355）　　　　产品介绍：　　SFT9300系列产品规格　　型号：SFT9300／SFT9350／SFT9355 　　仪器的特长：微小面积对应型　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi）　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶）　　管电压：50kV管电流：1.5mABe窗　　滤波器：一次滤波器：Mo-自动切换　　二次滤波器：Co-自动切换　　照射方式：上方垂直照射方式　　检测器：比例计数管　　仪器校正：自动校正　　准直器（标准配置）：○型（三种）　　□型（三种）　　安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能　　样品图像对焦：有（激光对焦）　　样品观察：CCD摄像头＋倍率光学器＋卤素灯照明　　焦点切换功能：3段切换9300：10／40／70mm 　　9350：10／25／40mm 　　应用单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍　　软件块体FP法软件、薄膜FP法软件　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像识别处理　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正　　统计处理功能：MS-EXCEL® 　　报告制作功能：MS-WORD®

该公司产品分类：荧光分析热分析表面分析拉拔仪环境箱测厚仪建工量具无损检测制样设备硬度计试验机元素分析仪器附配件分析仪器检测仪器试验机

SFT9200南京X射线荧光镀层厚度测量仪，SEIKOSFT3000改进机型

产品简介

　　是改进SEIKOSFT3000而上市的一种新产品，添加了SFT3000系列没有的激光对焦，自动样品台等功能，使使用者操作更简便更快捷的仪器。与他社仪器相比具有2048通道的MCA采样分析电路，大大减小了分析误差并配备了5种圆形，方形准直器，不受样品形状的影响能够更地进行测量。　　　　产品介绍：　　型号：SFT9200／SFT9250／SFT9255 　　仪器的特长：广泛应用型　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi）　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）　　管电压：45kV管电流：1mABe窗　　滤波器：一次滤波器：A1-自动切换　　二次滤波器：Co-自动切换　　照射方式：上方垂直照射方式　　检测器：比例计数管　　仪器校正：自动校正　　准直器（标准配置）：○型（三种）　　□型（三种）　　安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能　　样品图像对焦：有（激光对焦）　　样品观察：CCD摄像头固定倍率、卤素灯照明　　焦点切换功能：3段切换9200：10／40／70mm 　　9250：10／25／40mm 　　应用单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、无电解镍（最多可测5层）　　软件薄膜FP法软件　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像处理　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正　　统计处理功能：MS-EXCEL® 　　报告制作功能：MS-WORD®

该公司产品分类：荧光分析热分析表面分析拉拔仪环境箱测厚仪建工量具无损检测制样设备硬度计试验机元素分析仪器附配件分析仪器检测仪器试验机

SFT-110型南京X射线荧光镀层厚度测量仪

［SFT-110的主要特征］1. 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。2. 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。3. 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。4. 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像测量位置。5. 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。6. 低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。［主要产品规格］检测器：比例计数管X射线源：空冷式小型X射线管准直器： 0.1、0.2mmφ2种样品观察： CCD摄像头样品台移动量：250（X）×200（Y）mm样品最大高度：150mm

该公司产品分类：荧光分析热分析表面分析拉拔仪环境箱测厚仪建工量具无损检测制样设备硬度计试验机元素分析仪器附配件分析仪器检测仪器试验机

960X-STRATA 960 （X荧光镀层厚度测量仪）

技术参数:

--元素范围: Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；最多同时15种元素定量

--X射线激发: 100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管（可选钼靶X射线管）

--X射线检测: 高分辨封气 (Xe)正比计数器，灵敏度高，可最多装备3种二次滤光片

--准直器: 单准直器或多准直器系统，准直器系统最多可安装4种规格的准直器，备有各种规格准直器（0.015mm-0.5mm)圆形或矩形供客户选用

--数字脉冲处理器: 4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能

--样品台: 程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm

手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴

固定位置样品台，最大高度230 mm

--CCD系统: 1/2" CMOS-640X480 VGA resolution镜头标准为15倍，可选购40倍或由软件放大X1、X2、X3、X4 激光自动对焦

--自由距离测量DIM: 在12.7~88.9mm自由聚焦范围内可聚焦样品表面任意测量点，并有自动雷射聚焦功能

--统计报表功能: 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、量测点数、控制上线图、控制下线图、CP、CPK数据分组、X-bar/R图、直方图

数据储存功能统计报告软件允许用户自行设计报表 (另可选购Excel 输出功能)

--电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz

--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

--仪器尺寸: H744 x W686 x D813

--重量: 160公斤

X射线荧光镀层厚度测量仪

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 程控样品台：XYZ轴自动控制。 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为： 全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。CMI900/950主要技术规格如下：No. 主要规格规格描述1 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2 滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口3 准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)5 X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6 样品室 CMI900 CMI950－样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm 300mm x 300mm－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能7 计算机系统配置 IBM计算机：1.6G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。8 分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台中文分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用，我们将列表可测定的厚度范围－基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围：Ti22 – U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算－测量自动化功能(要求XY程控机构) 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能(要求XY程控机构) 设定测量点One or Two Datumn (reference) Points on each file测量位置预览(图表显示)－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师－任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析贵金属检测，如Au karat评价

X射线荧光镀层厚度测量仪 SFT-110

型号:SFT-110

测量元素:原子序号22（Ti）～83（Bi） X射线源:空冷式小型X射线管检测器:比例计数管准直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2种样品观察:CCD摄像头（可进行广域观察）对焦:激光点（自动）滤波器：一次滤波器：自动切换样品台（台式尺寸）: 500（W） x400（D） x 150（H）mm （移动量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:电脑、19寸液晶测量软件:薄膜FP法（最多5层膜、10种元素）、标准曲线法数据处理:配备有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全机构:样品门连锁、样品的防冲撞功能、仪器诊断功能

配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110]，使操作性进一步提高。　　对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可产品的功能及品质，降低成本。精工从1971年推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。　　为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。　　近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。

特点即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。　 10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！以的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量！将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置！通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（最大250×200mm）中方便地指定测量位置

该公司产品分类： EO灭菌柜环氧乙烷灭菌器顶空气相色谱紫外可见分光光度计环氧乙烷残留量检测仪环氧乙烷灭菌柜环氧乙烷灭菌器仪器租赁泰斯肯扫描电镜莱伯泰科电感销售海光仪器二手仪器回收二手仪器销售二手仪器销售和回收仪器维修保养赛默飞世尔（热电）韩国赛可仪器瑞士万通仪器日本精工仪器

SFT-110X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

即放即测；10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量；

可无标样测量；通过样品整体图像更方便选择测量位置！

主要特点：

1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大

提高样品定位的操作性。 2.微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅

度提高膜厚测量的精度。 3.多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4.广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5.对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6.低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

产品规格：

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜

SFT9500系列X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径

为 0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而

无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、

高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的

有害物质进行分析测量。

主要特点：

1.X射线发生系统采用了聚光导管由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，

从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

2.无需液氮的半导体检测器在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。

SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，

所以无需液氮。

3.能谱匹配软件（选配件）可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。

对识别材料十分有效。

4.块体检量线软件（适用于电镀液分析）（选配件）可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

5.绘图软件（选配件）将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

6.电镀液容器（选配件）

7.各种标准物质（选配件）

产品规格：

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜

SFT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪

概述：

SFT9000系列里最好的机型“SFT9455”，搭载75W高速X射线管和双重检验装置（半导体检验装置十比

例计数管）。适用“薄膜”、“金属膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测定要求的高性能膜

厚测量仪器。而且 “SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可以用作异物定性分析和材料成分分析。

主要特点：

搭载双向分离工检测器（半导体检测器+比例计数管）：搭载在X射线能量分辨率上，优秀的半导体检测器

（起作用液化氮）和计数率优秀的比例计数管，能够根据运用需要对应使用。特点是半导体检测器，能够

区分Ni和Cu这样相似的元素。它有以下的特点：

1.能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次过滤的情况下进行测定。

2.对于含Br的打印基板，可以做到不受Br干扰进行高精度的Au镀膜厚度测定。　　　

3.能够测定0.01μm以下极薄的Au镀膜。

4.薄膜FP软件：对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域。

5.适用测定极微小部分,15μmΦ的准直管为标准装备。能够测定微小部分镀膜厚度。　　

6.搭载75W高性能X射线管。

7.容易对微小领域进行观察。搭载了能4阶段切换的可变焦距光学系统。

8.能够测定大型打印基板的大型平台。

9.依据照明，能够观察以往难以观察的样品。

10.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。

11.利用伺服马达精确的驱动平台。

12.正确的对焦,利用激光能够正确得对焦测试样品。

13.报告制作软件,运用微软的软件能够简单得把测定的数据制作成书面材料。

产品规格：

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜