CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 高性能X射线荧光光谱仪 快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度 简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素 性能优化，测量元素范围广： 可预设参数 CMI900 提供800多种预设应用参数/方法 杰出的长期稳定性： 自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果 简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正 坚固耐用的设计 可以在实验室或生产线上操作 坚固的工业设计 经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台
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利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
无损分析：无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性
操作简单，只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制，
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B ：精确度领先于世界C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 一：手动样品台1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI920系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI920可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。 2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。