CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 高性能X射线荧光光谱仪 快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度 简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素 性能优化，测量元素范围广： 可预设参数 CMI900 提供800多种预设应用参数/方法 杰出的长期稳定性： 自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果 简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正 坚固耐用的设计 可以在实验室或生产线上操作 坚固的工业设计 经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台
| 品牌：OXFORD CMI（英国牛津） 简介：CMI900X射线荧光测厚仪,欢迎您来电咨询CMI900X射线荧光测厚仪的详细信息!天津天巴仪器仪表销售有限公司提供的CMI900X射线荧光测厚仪不仅具有国内外领先的技术水平,更有良好的售后服务和的解决方案 □适用范围：CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等，涉及到其它仪器不能检测的测试领域。 □服务优势：具有最多的服务网点和强大的技术支持 □测量精度：1%或±0.1μm依照参考标准片，分辨率：0.01mils（0.25μm） □测量范围：磁感应0-120mils（0-3.05mm）；涡流0-60mils（0-1.52mm） 用途：广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量
广东正业科技有限公司http://www.zhengyee.com 联系人：黎前华 电话：13712542526 http://www.hua.cpooo.com/product/2192094.html 广东正业仪器仪表销售有限公司专业供应销售CMI900X射线荧光测厚仪，欢迎您来电咨询CMI900X射线荧光测厚仪的详细信息！天津天巴仪器仪表销售有限公司提供的CMI900X射线荧光测厚仪不仅具有国内外领先的技术水平，更有良好的售后服务和的解决方案。供应CMI900X射线荧光测厚仪，CMI900X射线荧光镀层测厚仪，广东CMI900X射线荧光测厚仪， |
主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 最多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器） 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器） 样品室 CMI900 CMI950 －样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 －最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm －XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 －样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统：Windows2000中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 －测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 －基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量） 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 贵金属检测，如Au karat评价 材料和合金元素分析， 材料鉴别和分类检测 液体样品分析，如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较 元素光谱定性分析 －调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 －测量自动化功能 鼠标激活测量模式：“Point ａnd Shoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 －样品台程控功能 设定测量点 连续多点测量 测量位置预览（图表显示） －统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 －系统安全监测功能 Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
广东正业科技有限公司http://www.zhegnyee.com
联系人：黎前华
电话：13712542526
STRATA960,980,CMI900,CMI700,CMI500,CMI900CMI900CMI165等各种型号镀层测厚仪,并为客户提供及时,的售前/售后服务和技术支持13712542526CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪CMI900X射线荧光测厚仪
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
无损分析：无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性
操作简单，只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制，
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B ：精确度领先于世界C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 一：手动样品台1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI920系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI920可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。 2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。