CMI700涂层测厚仪是涵盖面铜测量仪及孔铜测量仪是一款具有标准组件,无破坏性的涂/镀层厚度测量仪,其设计目的为精确测量不同基材上的不同涂/镀层厚度,依据不同的探头测量不同的基材的厚度,ETP探头是专业测量孔铜厚度,SPR-4探头是专业测量面铜厚度。
CMI700涂层测厚仪介绍
CMI700系列是一款具有标准组件,无破坏性的涂/镀层厚度测量仪,其设计目的为精确测量不同基材上的不同涂/镀层厚度
CMI700涂层测厚仪应用
磁性基材上的非磁性镀层
导性基材上的非导性镀层
磁性基材上的电镀层
CMI700涂层测厚仪特性
可利用扫描方法来测量不均匀的基材,这可提高重复率和再现率;大型液晶,高对比度显示器,可以从较远的距离以及各个角度观察到屏幕的显示内容;菜单操作界面以及软钥;统计结果及统计图可被显示或被打印;操作软件可选择七种语言;存放五千个读数、校整和系统参数;人体工学化设计;有各种测试探头可供选择。牛津仪器独有的数据统计和报告生成系统使您能够方便的定制属于您自己的质量检测报告。
CMI700涂层测厚仪技术参数
探头类型:CMI700的探头ETP
应用范围:孔铜厚度测量;测量范围:2.036~101.6um;测量精度:±5%
探头类型:CMI700的探头SRP-4
应用范围:面铜厚度测量;测量范围:0.762~254um;测量精度:±3%
探头类型:CMI700的探头TRP-M
应用范围:微孔孔铜厚度测量;测量范围:2.036~101.6um;测量精度:±5%
探头类型:CMI700的探头ECP-(ECP)M
应用范围:非导电电膜(绿油)厚度测量;测量范围: 1016um;测量精度:±5%
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。
- 可测试高温的PCB铜箔- 显示单位可为mils,μm或oz- 可用于铜箔的来料检验- 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试- 可用于电镀铜后的面铜厚度测试- 配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头- 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
SRP-T1:CMI165专用可更换探针 牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。详细说明 |
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。 - 可测试高温的PCB铜箔 - 显示单位可为mils,μm或oz - 可用于铜箔的来料检验 - 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试 - 可用于电镀铜后的面铜厚度测试 - 配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头 - 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试 SRP-T1:CMI165专用可更换探针 牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。 ![]() SRP-4:可更换探针 (专利号:7,148,712) CMI563和CMI760使用的探头SRP-4是牛津仪器工业分析部研发的具有水平的探头,它利用微电阻原理测量表面铜箔厚度。SRP-4探头坚固耐用,同时SRP-4探头能适应微小的测试面积,实用十分方便。 ![]() ·SRP-4探针可更换 ·探针如损坏,可现场及时更换,操作简单,最大限度降低设备的停用时间 ·探针可更换的特点降低了更换整个探头的成本 一站式服务:我们的产品系列为您对PCB/PWB和面铜厚度测量需求提供完整解决方案! |
品牌:milum 机型:mm125
应用:微电阻式测量PCB表面铜膜厚度
PCB面铜测试头可应用于各式机型milum, Oxford(牛津), CMI ....等之相兼容
介绍:
milum mm615是手持式充电池供电的面铜测厚仪。附有补偿功能的测量PCB镀铜厚度之测厚仪,其所测出来的数据极为精确且稳定性高。
它能于蚀刻前、后,测量PCB面铜镀层厚度。独特设计的人性化操作界面使能一目了然轻松上手。
SCP-15为面铜厚度测量专用测试头,其能选用不同的探针距离规格并快速精确地测量PCB面铜之厚度,测试头可应用于各式机型milum, Oxford(牛津), CMI ....等之相兼容。
行业:PCB制造业及其采购业
特点:
设计之人性化操作界面
测量模式为微电阻式快速测量面铜厚度
多功能画面显示明显易读,方便操作
具有背光显示型的LCD
可设定补偿值,以符合产品标准
可设定高、低极限,方便辨别出是否超出所测量的范围
操作简易、方便携带
测量单位mil及um
标准片校正
可依测量范围作探针的选用
测试头采用快速插拔式接头设计
探针头采用替换式的探针设计
拥有USB传输接口,可连接计算机作数据统计
使用充电式的电池,寿命耐用,既免去电池更换烦恼又附环保功效。
规格:
测量范围:0.01~8mil (0.25~200um)
误 差:± 1% (根据标准片)
分 辨 率:1~3位 (固定)
PCB板厚限制: 无
记忆容量:15,000笔读值
尺 寸:(长) 130mm / (宽) 70mm / (高)30mm
输出接口:USB
重 量:210克(不含保护套)
电 池:1 个 9V充电式附AC转接器
电池寿命:可充电重复使用
品牌:milum 机型:mm610
应用:涡电流式: 测量PCB通孔内镀铜膜厚 。
测试头可应用于各式机型milum, Oxford(牛津), CMI ....等之相兼容
介绍:
milum mm610是手持式充电池供电的孔铜测厚仪。具有自动温度补偿功能的测量PCB通孔镀铜之测厚仪,其所测出来的数据既精确且稳定性高。
测量PCB板厚30mil以上,孔径35mil以上孔铜镀层厚度,亦能于蚀刻前、后作量测。设计独特的人性化操作介面,使能一目了然轻松上手。
THP-10 为孔铜厚度量测专用测试头,采用特殊的分离可换式探针设计,除具有精确地稳定性,并具便利经济性与环保效益,测试头可应用于各式机型milum, Oxford(牛津), CMI ....等之相兼容。
特点:
设计之人性化操作界面
量测模式为 涡电流感应式快速量测孔铜厚度
多功能画面显示明显易读,方便操作
具有背光显示型的LCD
可设定高、低极限,方便辨别出是否超出所测量的范围
操作简易、方便携带
测量单位mil及um,自由快速变换
标准片快速校正
测头采用快速插拔式接头设计
探针头采用替换式的探针设计
拥有USB传输接口,可连接计算机作数据统计
使用充电式的电池,寿命耐用,既免去电池更换烦恼又附环保功效。
规格:
量测范围:0.04~4mil (1~102um)
误 差:±1% (根据标准片)
分 辨 率:1~3位 (固定)
PCB最小孔径限制 35mil (0.9mm)
PCB最小板厚限制 30mi (0.75mm)
记忆容量:15,000笔读值
尺 寸:(长) 130mm / (宽) 70mm / (高)30mm
输出接口:USB
重 量:210克(不含保护套)
电 池:1 个 9V充电式附AC转接器
电池寿命:可充电重复使用
CMI700多功能孔壁铜/表面铜测厚仪
CMI 700 台面系统测量仪的在测厚方面的应用范围十分广泛,能够替代传统上需要使用多台仪器进行复杂的工序才能完成的测量。 系统提供了理想的技术,为电镀工、正极化工、 质量管理专家及电路板厂提供理想测量解决方案来测量涂层或镀层的属性。 CMI700的独有优势:当测试不同的钢铁时,机器不需要再进行调校。由于磁性的不同频繁的调校需要经常对机器进行清楚,举例来说——钢铁上镀锌、镉、或铜。 CMI 700的设计符合人体工学的原理,同时可以适应复杂恶劣的工作环境。大型的液晶显示器的显示角度很宽,使用户不必拘泥于屏幕前的正对区域进行测量操作。用户可使用位于显示器的右侧和下侧的箭头来进行简便的菜单操作
CMI系列的产品能够应用于十分广泛的领域,包括:
• 电子行业检验,如电路板镀膜厚度测试
• 家具、电器行业镀漆厚度检验
• 汽车工业镀漆厚度检验,航空航天工业检验
• 紧固件镀膜测试,石油、天然气输送管道防蚀镀膜检验
• 普通管道防蚀镀膜检验,公共设施镀漆厚度检验
磁性基材上的非磁性镀层
导性基材上的非导性镀层
磁性基材上的电镀层
功能一:测量PCB板表面铜(微电阻原理)
配置SRP探头及标准片,利用微电阻原理,可测量大面积或细小铜箔厚度。
测量范围:1-300um
功能二:测量PCB板孔铜(电涡流及微电阻原理)
1)测量PCB板大孔内铜厚:配置ETP探头及标准片
测量孔径在:875–1400um
2)PCB微孔测量配置TRP探头及标准片
测量孔径在250-2500um
功能三:测量量PCB板绿油厚度(阻焊膜)
配置ECP探头测量导体上覆盖的非导体
测量厚度范围为:0--1000um
CMI做为品牌在PCB行业已形成一个行业标准,90%以上的大型企业都在使用CMI700做为同时测量电路板孔铜及面铜厚度的行业工具CMI 700 为多功能的测厚仪, 分涡流/磁性(EM7)及微电阻(MR7)两种模式, 配置不同的探头, 可以精确测量各种镀层/涂层厚度. 在PCB领域应用最为显著, 除了测量表面铜厚, 还可测量孔壁铜厚及绿油厚度。
功能一:测PCB板表面铜(微电阻原理)
1) 配置SRP探头及标准片,利用微电阻原理,可测量大面积或细小铜箔厚度测量范围:125-300um(5.0-12.0mil)
功能二:测PCB板孔铜(电涡流原理)
1)测量PCB板大孔内铜厚:配置ETP探头及标准片,测量范围:孔径0.89--3.0mm
2)PCB微孔测量配置ERP台及探头和标准片,测量孔径在0.25-0.8mm
功能三:测量PCB板绿油厚度(阻焊膜)
配置ECP探头测量导体上覆盖的非导体
测量范围厚度为:0--1000um
CMI700多功能孔壁铜/表面铜测厚仪
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。
- 可测试高温的PCB铜箔- 显示单位可为mils,μm或oz- 可用于铜箔的来料检验- 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试- 可用于电镀铜后的面铜厚度测试- 配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头- 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
SRP-T1:CMI165专用可更换探针 牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。CMI165面铜测厚仪是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。CMI165的温度补偿功能解决了这个问题,确保测量结果精 确而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩,确保探针的耐用性,即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。 CMI165面铜测厚仪产品特色: —— 可测试高温的PCB铜箔 —— 显示单位可为mils,μm或oz —— 可用于铜箔的来料检验 —— 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试 —— 可用于电镀铜后的面铜厚度测试 —— 配有SRP—T1,带有温度补偿功能的面铜测试头 —— 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试 CMI165面铜测厚仪产品规格: ——利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN 14571测试标准 ——厚度测量范围:化学铜:(0.25—12.7)μm,(0.01—0.5) mils 电镀铜:(2.0—254)μm, (0.1—10) mils ——仪器再现性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils) ——强大的数据统计分析功能,包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。 ——数据显示单位可选择mils、μm或oz ——仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择 ——仪器无需特殊规格标准片,同样可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量,可测线宽范围低至 0.2 mm ——仪器可以储存9690条检测结果(测试日期时间可自行设定) ——测试数据通过USB2.0实现高速传输,也可保存为Excel格式文件 ——仪器为工厂预校准 ——客户可根据不同应用灵活设置仪器 ——用户可选择固定或连续测量模式 ——仪器使用普通AA电池供电 SRP—T1:CMI165面铜测厚仪专用可更换探针