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Compact ecoX-射线荧光测厚仪

Compact eco X-射线荧光分析测厚仪

Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。Compact eco X-射线荧光分析测厚仪可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)Compact eco X-射线荧光分析测厚仪可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

Compact eco X-射线荧光分析测厚仪

自动测量功能：编程测量，自定测量修正测量功能：底材修正，已知样品修正定性分析功能：光谱表示，光谱比较定量分析功能：合金成份分析数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。Compact eco X-射线荧光分析测厚仪综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.超越其他品牌的所谓FP软件.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！

CMI900CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪CMI900

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900介绍

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽 NIST认证的标准片全球服务及支持

CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900技术参数

主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 －样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。－基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“PointShoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览(图表显示) －统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

CMI960x射线荧光测厚仪

CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，90%以上的大型企业在使用CMI系X-RAY机做为测量镀层厚度的行业工具，而今上市一款X-starata960在测量贵金属方面达到同行业前所未有的高度

X-starata960说明及与CMI900的对比

基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
的大型样品室 - 更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
PC用户界面

新型X-STRATA 960即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新提高了我们X线系列产品的性能。X-STRATA 960能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并测量氮化钛镀层。X-STRATA 960分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的技术中获益。像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们在售前和售后都提供的服务。测量和材料分析系统软件所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。规格简介无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体l 5层/15种元素/普通元素效正同时为多达15种元素进行成份分析贵重金属分析和金纯度检查材料与合金元素分析材料鉴定与区别吸收测量方式液体分析：分析液体中的金属，如电镀液系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化光谱计数速率峰值位移效正重叠荧光峰值数字峰值反卷定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱Oxford统计数字和报告产生器LE（轻型）Oxford SmartLink 补充软件系列Oxford统计数字和报告产生器配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器Oxford即时分析Oxford材料区别Oxford Percent P有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。Oxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化X-STRATA 960仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。激励下视X线。X线射束90度采样100W风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mA准直管：多个（最多4个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）主要过滤器：提供各种厚度及材料X线探测器和信号处理X线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能样品处理样品室：开槽在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）彩色样品图像捕获和打印激光样品聚焦电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项测量鼠标器启动“点击”测量自动测量重复功能安全：多用户多级密码保护电脑/处理器oxford是IBM的授权PC附加值销售商。请致电oxford了解的IBMPC规格。

印机：Epson或惠普喷墨打印机。请致电oxford查询的型号和规格。可联网荣誉由oxford拥有/管理的国际现场服务团队符合ISOGuide25号的要求CE标志

测厚仪手提式X射线荧光测厚仪

技术参数重量：基体配置1.2kg；1.6kg带电池尺寸：长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm X射线发生器：银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50µA 主要过滤器：5个过滤器测量尺寸：接触样品表面测量时，7.75 mm X射线探测管：Si-PIN高分辨率探测系统温度范围：-10℃—50℃ 电源：可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。参数调整：不锈钢316作为参考标准

主要特点 HMX系统主要特点无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量现场的样品分析基材管理的合金分类以及合金确认独特的“分组测量”模式，允许计算一组部件的平均厚度

美国THEMOR荧光测厚仪美国THEMOR荧光测厚仪

美国THEMOR荧光测厚仪:

-射线金属镀层测厚仪世界首创光学准直器，光束最少可达0。025mm 集中X-射线光束，强度加强5-8倍适合较薄镀层测量，测量时间为正常的1/5 配有ZOOM功能，图像可放大到200倍更新FP方法，适合多层厚度测量

ＥＤＸ３６００X荧光测厚仪

技术指标配置

分析精度：0.05% 多样自动进样系统

分析范围：1PPM-99.99% 计算机，喷墨打印机

同时分析：几十种元素同时分析真空泵（可选）

测量镀层：镀层厚度测量精确至0.01微米压片机（可选）

测量元素：Na-U 硅针半导体探测器

测量对象：粉末，固体，液体放大电路

测量时间：60-300秒高低压电源

工作温度：15-30℃ X光管

相对湿度：≤70%

重量：80KG

工耗：200W

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪

产品名称	CMI900/950系列X射线荧光测厚仪
产品功能	CMI900/950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；幷且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
产品特点
产品图片

电镀表层测厚仪,荧光测厚仪，X光线测厚仪

电镀测厚仪,电镀层测厚仪，电镀膜厚仪,电镀表层测厚仪,荧光测厚仪，X光线测厚仪,二手测厚仪,二手膜

厚仪

Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析

,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品

也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大

的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV（程控）准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm电脑系统：IBM相容,17”显示器

综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方

式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯

度.统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

TEL：13798524697

该公司产品分类：日本笠原微生物菌类测试管水质快速检测试纸水质中离子含量测试纸共立WAK水质试剂盒镀层测厚仪 MICROPioneer测厚仪 MicopXRF-2020测厚仪德国罗威邦水质分析仪共立理化学研究所水质重金属离子检测 RO-103微量氧气分析仪韩国微先锋XRF-2020测厚仪 XRF-2000测厚仪标准片 X-RAY膜厚仪 X射线镀层测厚仪水质分析仪/多参数水质分析仪

X射线荧光测厚仪

产品说明

设备图片

设备介绍

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：

●标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

●程控样品台：XYZ轴自动控制。

●超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：

●全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY轴程控移动范围为●300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

●Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。

●全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。

●可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

技术规格

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W4-50kV，0-1.0mA－标准 75W4-50kV，0-1.5mA－任选 X射线管功率可编程控制
	装备有安全防射线光闸
滤光片程控交换系统	根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
	位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm 使用0.025 x 0.05 mm准直器
	在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm 使用0.3mm准直器
X射线探测系统	封气正比计数器
	装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
样品室	CMI900	CMI950
－样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
－最大样品台尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，150mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统	高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。 50倍和100倍观察系统任选。
	激光辅助光自动对焦功能
	可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置	IBM计算机：2.8G奔腾IV处理器，256M内存，1.44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，15寸液晶，56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件	操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围	可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能	无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
	样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体镀液中的元素含量
	可检测元素范围：Ti22 – U92
	可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
	组成分析时，可同时测定15种元素
	多达4个样品的光谱同时显示和比较
	元素光谱定性分析
－调整和校正功能	系统自动调整和校正功能：校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移
	谱峰计数时，峰漂移自动校正功能
	谱峰死时间自动校正功能
	谱峰脉冲堆积自动剔除功能
	标准样品和实测样品间，密度校正功能
	谱峰重叠剥离和峰形拟合计算
－测量自动化功能要求XY程控机构	鼠标激活测量模式：“PointShoot”
	多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
	测量位置预览功能
	激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能	设定测量点
	One or Two Datumn reference Points on each file
	测量位置预览图表显示

－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师
－任选软件	统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
	液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
	材料鉴别和分类检测
	材料和合金元素分析
	贵金属检测，如Au karat评价

DX-320 1800.1800BRoHS检测仪、RoHS仪器、卤素检测仪、X荧光测厚仪

我公司为客户提供下列服务：1、RoHS仪器维修/部件更换/卤素升级天瑞：EDX3000/EDX3000B/EDX2800/EDX1800/EDX1800B/EDX600/EDX3600/Thick800A/Thick600 华唯：Ux-210/Ux-220/Ux-230/Ux-310 3V：EDX8600/EDX8300/EDX8800 岛津：EDX700/EDX720/EDX-GP 精工：SEA-1000A/SEA-1000S/SEA-1200VX 斯派克、热电等2、维修X射线镀层测厚仪菲希尔：XUL/XDL/XAN/XDV/XUV等系列精工：SFT-110/SFT-157/SFT9100M/SFT9200/SFT9300/SFT9400 牛津：CMI-900 MicroPoineer、宏德等3、RoHS仪器出租可灵活选择日租、月租、年租，价格优惠、服务周到。

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