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荧光镀层测厚仪

本公司精力打造高科技产品，力争成为国内科研仪器供应商。同时，我们售前，售中，售后全程为您服务。欢迎来电咨询!

荧光镀层测厚仪参数：

主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器）在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器）样品室 CMI900 CMI950 －样品室结构开槽式样品室开闭式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm －XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm －Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。－基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point ａnd Shoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能设定测量点连续多点测量测量位置预览（图表显示）－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书－系统安全监测功能 Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

荧光镀层测厚仪产品说明：

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽 NIST认证的标准片全球服务及支持

该公司产品分类：大龙移液器广电通讯检测分析仪器类广电通讯磁性工具恒温/加热/制冷常用通风设备通风采暖照明气动工具热学分析仪器移液/分液防静电设备低压控制试剂及耗材静电/无尘电气及自动化电动工具测绘无损检测量具工具力学检测仪器

湖北武汉CMI900X射线荧光镀层测厚仪

高性能X射线荧光光谱仪快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素性能优化，测量元素范围广：可预设参数 CMI900 提供800多种预设应用参数/方法的稳定性：自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正坚固耐用的设计可以在实验室或生产线上操作坚固的工业设计经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台

该公司产品分类：德国马尔Mahr 粗糙度仪材料试验无损测量光谱仪光度计圆度仪、粗糙度仪影像测量仪、投影仪显微镜三坐标测量机分析仪器长度计量光学仪器

X射线荧光镀层测厚仪价格优惠

Ø 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。

Ø 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

Ø 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。

Ø 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。

Ø 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

Ø 低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

该公司产品分类：加工设备常用量具测量仪器

SFT110X射线荧光镀层测厚仪

Ø 通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。

Ø 微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

Ø 多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。

Ø 广域观察系统（选配）可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。

Ø 对应大型印刷线路板（选配）可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

Ø 低价位与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

该公司产品分类：尼康卡规、角度尺、水平仪步距规、量块、测厚规测长仪数码工程打印机其他各种常用量具数显表、百分表、杠杆表卡尺、千分尺、微分头材料试验机除锈油美国施泰力东京精密三坐标测量机涂层测厚仪镀层测厚仪测量投影仪、影像测量仪电子天平、水分测试仪色差、光泽计齿轮测量仪显微镜、内窥镜

x荧光镀层测厚仪

x荧光镀层测厚仪产品应用：

（1）电子行业：有效控制生产过程，提高生产力，分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu，测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy。

（2）五金电镀行业：电镀表面处理的成本最小化，产量最大化，多样品和多点分析，单层或多层厚度测量，镀液成份分析。

（3）贵金属/金属合金：珠宝及其他合金的快速无损分析，黄金分析及其他元素测定，金属合金检测。

（4）一致性检测：确保产品符合规格测定有害物质从ppm级到高百分比级。

（5）有毒元素定量分析：例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定，按照IEC62321进行RoHS筛选。对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测。

（6）新能源行业：确保产品有效一致，光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通过镀层厚度分析优化导电性。

x荧光镀层测厚仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。

x荧光镀层测厚仪精密度测试，精密度表示对同一个对象进行多次测量，表征测试结果分散程度的物理量，它是一个与多次测试数据的标准偏差有关的物理量。目前，对一组具有嵌套性或不具有嵌套性的数据的标准偏差求解问题的研究已经相当成熟，对测量设备精密度的研究可以转化为对测量设备测试数据标准偏差的求解。使用成熟的数据处理方法研究比较新的高精度设备的精密度是一种简单可行而又科学的方法。

联系人: 舒翠

手机: 13602568074

电话:

传真:

邮箱: sc@kinglinhk.net

地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502

该公司产品分类：膜厚仪

电镀镀层测试仪，X荧光镀层测厚仪，X射线镀层厚度测量仪

荧光镀层测厚仪产品介绍：

Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界领先。

采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。

设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。

X荧光镀层测厚仪产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：145eV

高压范围：0-50Kv，50W

X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：专用3种自动切换；

CCD观察：260万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm

软件方法：FlexFP-Mult

工作区：开放工作区自定义

样品腔：330×360×100mm

X荧光镀层测厚仪标准配件

样品固定支架1支

窗口支撑薄膜：100张

保险管：3支

计算机主机：品牌+双核

显示屏：19吋液晶

打印机：喷墨打印机

X荧光镀层测厚仪

完全满足客户铜镀锡、铜镀镍、铜镀银、铜镀金、铜镀镍镀金、镍镀金、铁镀锌、铁镀铬等常用金属镀层测厚分析，并具有开放性工作曲线功能，能根据具体需求添加适合现场使用的镀层测试工作曲线，能够满足所有金属镀层测厚分析。

Ux系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。

可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存

该公司产品分类：电镀测厚仪金属成份分析仪镀层测厚仪合金分析仪 ROHS检测仪、卤素检测仪影像设备环境实验检测设备 X谢线仪

X射线荧光镀层测厚仪

Thick800A金属电镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，得到了客户的广泛应用和认可。

性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg

标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用域黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。

金属镀层分类

若按镀层的成分则可分为单一金属镀层、合金镀层和复合镀层三类。

若按用途分类，可分为：①防护性镀层；②防护性装饰镀层；③装饰性镀层；④修复性镀层；⑤功能性镀层

按用途分类可分为

①防护性镀层：如Zn、Ni、Cd、Sn和Cd-Sn等镀层，作为耐大气及各种腐蚀环境的防腐蚀镀层；

②防护．装饰镀层：如Cu—Ni—Cr、Ni-Fe-Cr复合镀层等，既有装饰性，又有防护性；

③装饰性镀层：如Au、Ag以及Cu．孙仿金镀层、黑铬、黑镍镀层等；

④修复性镀层：如电镀Ni、Cr、Fe层进行修复一些造价颇高的易磨损件或加工超差件；

⑤金属电镀层测厚仪功能性镀层：如Ag、Au等导电镀层；Ni-Fe、Fe-Co、Ni-Co等导磁镀层；Cr、Pt-Ru等高温抗氧化镀层；Ag、Cr等反光镀层；黑铬、黑镍等防反光镀层；硬铬、Ni．SiC等耐磨镀层；Ni．VIEE、Ni．C(石墨)减磨镀层等；Pb、Cu、Sn、Ag等焊接性镀层；防渗碳镀Cu等。

该公司产品分类：邻苯检测仪器 ROHS2.0检测仪器 ROHS仪 Explorer 系列 Genius 系列锌合金检测仪不锈钢成分分析仪硅钙合金成分检测仪铝合金检测仪铁合金检测铜合金检测电镀层厚度分析仪 X-ray膜厚仪 XRF镀层膜厚分析仪 X光膜厚检测仪台式镀层测厚仪无损测厚仪 X光电镀层测厚仪荧光测厚仪金属电镀层厚度分析检测仪

THICK800AX荧光镀层测厚仪，膜厚仪，天瑞THICK800A

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

该公司产品分类：环境监测化学仪器 WDX edx

X荧光镀层测厚仪波谱校正片

产品类型：配件及消耗品

产品名称：X荧光镀层测厚仪波谱校正片

产品型号：X荧光镀层测厚仪CMI900，CMI920波谱校正片，测厚仪校正片，膜厚仪校正片

X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 920金属镀层厚度的准确测量

CMI 900 / 920 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制。

技术参数：

CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都领先测厚行业。

A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层

（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多达5层、15 种元素。

B ：精准度领先行业：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，可达0.025 x 0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：一：手动样品台1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

二：自动样品台

1 程控样品台：XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI920系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品高度为270mm。

3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品高度为356mm。可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

该公司产品分类：其他线路板检测仪器阻抗测试仪系列镀层测厚仪系列配件及耗材铜厚测试仪系列

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产品特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护参数规格型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量般为ppm到99.9% 。镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业

该公司产品分类：邻苯二甲酸盐检测仪液相色谱仪 x射线电镀层测厚仪增塑剂（DBP、BBP、DEHP、DIBP）检测仪 rohs2.0检测仪器 vocs在线监测仪合金分析仪粮油重金属检测仪XRF 镀层测厚仪离子色谱IC 电感耦合等离子体光谱仪（ICP）波长色散（WDX）能量色散（XRF）车内有机物检测汽车有害元素检测汽车有害物质检测方案皮革八大重金属检测仪 rohs检测仪土壤重金属测试仪器皮革邻苯7P检测仪