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X荧光镀层测厚仪X-Strata960 X荧光镀层测厚仪X-Strata960

X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移动范围）/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制（230mm或9inch移动范围）。
测厚仪内置PC用户界面

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发和检测	牛津仪器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦点钨靶X射线管
X射线激发和检测	高分辨封气（Xe）正比计数器可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果
数字脉冲处理	4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取的信号采集（每秒计数量），从而的测量统计结果
手动或自动透镜控制	手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
手动或自动透镜控制	自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离
自由距离测定	简化系统设置和维护
	在聚焦距离范围内仅需要一个校正
	对不规则样品更灵活的测量
	在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可测量样品表面的任何一点
	通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、的确定聚焦距离

附带自动透镜功能的自动激光聚焦	独特的、自动样品摆放系统
	激光扫描单键启动
	消除样品碰击Z轴的机会
	改善DIM的聚焦过程
标准激光聚焦	标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
	Z轴聚焦扫描单键启动
	改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
微小准直器	仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以化测量，并提高测量效率
	备有各种规格准直器（0.015mm – 0.5mm）,园形或矩形供客户选用
	多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
大样品室设计	方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
	大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
	三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
	标准配置自动化Z轴：最大高度230mm
集成化计算机	工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
	简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
	减少整机占用空间
	USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点	CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
	温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，的仪器稳定性
	光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器的稳定性
	坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
	一体化工作站设计实现的人机

该公司产品分类：真空度计日本理音日本小野欣锐仪器德国Novi 德国百瑞高台湾泰仕TES 德国德图testo 美国雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希玛SMART 德国QBL 意大利哈纳HANNA 美国联合系统美国ESC 美国斯德克韩国卡利安株式会社德国喜利得HILTI

CMI900CMI900(X荧光镀层测厚仪)

详细说明

CMI900镀层测厚仪特点：

精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
	在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室	CMI900		CMI950
－样品室结构	开槽式样品室		开闭式样品室
－最大样品台尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选		300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm		XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统		高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
		激光自动对焦功能
		可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置		IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件		操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围		可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能		采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
		样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
		可检测元素范围：Ti22 – U92
		可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
		贵金属检测，如Au karat评价
		材料和合金元素分析，
		材料鉴别和分类检测
		液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
－调整和校正功能		系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
－测量自动化功能		鼠标激活测量模式：“PointShoot”
		多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
		测量位置预览功能
		激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能		设定测量点
		连续多点测量
		测量位置预览(图表显示)

－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
	任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

行业

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。

应用

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

CMI900X-荧光镀层测厚仪

CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，南华地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具

X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 950金属镀层厚度的精确测量

CMI 900 / 950 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/950主机的自动化控制，

技术参数：

CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业

A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层

（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。

B ：精确度领先于世界，精确到0。025um (相对与标准片)

C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；

如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；

E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：一：手动样品台1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

二：自动样品台

1 程控样品台：XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品最大高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。 2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品最大高度为270mm。

3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品最大高度为356mm。可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

CMI900/950主要技术规格如下：

No.	主要规格	规格描述
1	X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
		空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
		标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
		功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选 X射线管功率可编程控制
		装备有安全防射线光闸
2	滤光片程控交换系统	根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
		二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
		位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
3	准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
		多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4	测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
		在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5	X射线探测系统	封气正比计数器
		装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6	样品室	CMI900	CMI950
	－样品室结构	开槽式样品室	开闭式样品室
	－最大样品台尺寸	610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm	300mm x 300mm
	－Z轴程控移动高度	43.18mm	XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
	－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

X-Strata960 X荧光镀层测厚仪X-Strata960

X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移动范围）/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制（230mm或9inch移动范围）。
测厚仪内置PC用户界面

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发和检测	牛津仪器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦点钨靶X射线管
X射线激发和检测	高分辨封气（Xe）正比计数器可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果
数字脉冲处理	4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取的信号采集（每秒计数量），从而的测量统计结果
手动或自动透镜控制	手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
手动或自动透镜控制	自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离
自由距离测定	简化系统设置和维护
	在聚焦距离范围内仅需要一个校正
	对不规则样品更灵活的测量
	在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可测量样品表面的任何一点
	通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、的确定聚焦距离

附带自动透镜功能的自动激光聚焦	独特的、自动样品摆放系统
	激光扫描单键启动
	消除样品碰击Z轴的机会
	改善DIM的聚焦过程
标准激光聚焦	标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
	Z轴聚焦扫描单键启动
	改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
微小准直器	仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以化测量，并提高测量效率
	备有各种规格准直器（0.015mm – 0.5mm）,园形或矩形供客户选用
	多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
大样品室设计	方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
	大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
	三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
	标准配置自动化Z轴：最大高度230mm
集成化计算机	工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
	简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
	减少整机占用空间
	USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点	CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
	温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，的仪器稳定性
	光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器的稳定性
	坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
	一体化工作站设计实现的人机工程学

该公司产品分类：纺织仪器工具记录仪变送器仪器配件电源供应器温度热电偶空调检测仪器农业检测仪器表面测试仪器家居系列产品安规检测仪器测绘检测仪器建筑检测仪器计量标定仪器通用检测仪器电子电力工具水质分析仪器电力电工仪器警用安检设备

XRF2000荧光镀层测厚仪

详细资料请电：１３７６１４００８２６

韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）可测量厚度范围：原子序 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV（程控）准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 电脑系统：IBM相容,17”显示器综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度（如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等）,简单的核对方式,无需购买标准药液. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质

该公司产品分类：共立水质测试包孔铜测厚仪 X光测厚仪其他检测设备其他检测设备其他自动添加控制器电镀生产线自动添加设备测厚仪

X-Strata960X荧光镀层测厚仪

基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

l 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间

l 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。

l 距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。

l 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。

l 的大型样品室 - 更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。

l 3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。

l 内置PC用户界面　

技术参数

l X射线激发和检测

牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管

高分辨封气(Xe)正比计数器可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果

l 数字脉冲处理

4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取的信号采集(每秒计数量)，从而的测量统计结果

l 手动或自动透镜控制

手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离

自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离

l 自由距离测定

简化系统设置和维护

在聚焦距离范围内仅需要一个校正

对不规则样品更灵活的测量

在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可测量样品表面的任何一点

通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、的确定聚焦距离

l 附带自动透镜功能的自动激光聚焦

独特的、自动样品摆放系统

激光扫描单键启动

消除样品碰击Z轴的机会

改善DIM的聚焦过程

l 标准激光聚焦

标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响

Z轴聚焦扫描单键启动

改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程

l 微小准直器

仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以化测量，并提高测量效率

备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用

多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器

l 大样品室设计

方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品

大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品

三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台

标准配置自动化Z轴：最大高度230mm

l 集成化计算机

工作站式设计：改善人机工程学、方便使用

简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆

减少整机占用空间

USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能

l 其他硬件特点

CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测

温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，的仪器稳定性

光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器的稳定性

坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境

一体化工作站设计实现的人机工程学

该公司产品分类：超声波测厚仪

CMI960X荧光镀层测厚仪

CMI900 X荧光镀层测厚仪特点:● 精度高、稳定性好 ● 强大的数据统计、处理功能 ● 测量范围宽 ● X荧光镀层测厚仪NIST认证的标准片 ● 全球服务及支持

CMI900 X荧光镀层测厚仪技术参数： X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统X荧光镀层测厚仪最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)样品室结构：开槽式样品室最大样品台尺寸： 610mm x 610mm XY轴程控移动范围：标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 Z轴程控移动高度:? 43.18mm XYZ三轴控制方式: X荧光镀层测厚仪多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制样品观察系统:高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能计算机系统配置: IBM计算机,惠普或爱普生彩色喷墨打印机分析应用软件:? 操作系统：Windows2000中文平台, 分析软件包：SmartLink FP软件包测厚范围:?可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 CMI900 X荧光镀层测厚仪基本分析功能:采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析调整和校正功能: 系统自动整和校正功能，自动消除系统漂移测量自动化功能鼠标激活测量模式：“PointShoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能样品台程控功能: 设定测量点, 连续多点测量, 测量位置预览(图表显示)X荧光镀层测厚仪统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

CMI900X荧光镀层测厚仪

CMI900 X荧光镀层测厚仪

产品特点：

u 精度高、稳定性好

u 强大的数据统计、处理功能

u 测量范围宽

u NIST认证的标准片

u 全球服务及支持

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器）
	在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器）
样品室	CMI900		CMI950
－样品室结构	开槽式样品室		开闭式样品室
－最大样品台尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选		300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm		XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统		高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
		激光自动对焦功能
		可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置		IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件		操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围		可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能		采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
		样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
		可检测元素范围：Ti22 – U92
		可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
		贵金属检测，如Au karat评价
		材料和合金元素分析，
		材料鉴别和分类检测
		液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
－调整和校正功能		系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
－测量自动化功能		鼠标激活测量模式：“PointShoot”
		多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
		测量位置预览功能
		激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能		设定测量点
		连续多点测量
		测量位置预览（图表显示）
－统计计算功能		平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
		数据分组、X-bar/R图表、直方图
		数据库存储功能
		任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能		Z轴保护传感器
		样品室门开闭传感器
		操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

行业：

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。

应用：

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

该公司产品分类：产品介绍 JAZ系列光谱仪 NIR近红外光谱仪 QE65000系列光谱仪 maya2000系列光谱仪 HR4000系列光谱仪 USB2000系列光谱仪海洋光学

900CMI900（X荧光镀层测厚仪）

应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。

主要规格规格描述

X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构开槽式样品室

－最大样品台尺寸 610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度 43.18mm

－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

（50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析

－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式，测量位置预览功能，激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能设定测量点，连续多点测量，测量位置预览

－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能

－系统安全监测功能 Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器

●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

●NIST认证的标准片

●全球服务及支持

980X荧光镀层测厚仪ROHS检测仪

主要规格规格描述

X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构开槽式样品室

－最大样品台尺寸 610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度 43.18mm

－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

（50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析

－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式，测量位置预览功能，激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能设定测量点，连续多点测量，测量位置预览

－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能

－系统安全监测功能 Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器

●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

●NIST认证的标准片

●全球服务及支持