Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。Compact eco X-射线荧光分析测厚仪可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)Compact eco X-射线荧光分析测厚仪可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm
Compact eco X-射线荧光分析测厚仪
自动测量功能：编程测量，自定测量修正测量功能：底材修正，已知样品修正定性分析功能：光谱表示，光谱比较定量分析功能：合金成份分析数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。Compact eco X-射线荧光分析测厚仪综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.超越其他品牌的所谓FP软件.镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.多年来，我们一直于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！