数显式磁性测厚仪QUC-200
| 用途：测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度 试验技术特征：专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度测定;机内备有充电电池便于涂装施工现场应用 | |
测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。执行标准：GB/T1764-79 GB/T13452.2-92 ISO2808-74QUC-200数显式磁性测厚仪试验技术特性适用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度的测定，机内备有充电电池，便于涂装施工现场使用。QUC-200数显式磁性测厚仪主要技术参数测量范围：0-200μm测量精度：（±0.7μm+3%H）＊H为标准厚度
| 技术参数： | 执行标准：GB/T1764-79 GB/T134522-92 ISO2808-74测量范围：0-200μm测量精度：+/-（0.7μm+3％H）＊H为标准厚度 |
本品符合GB1764﹑GB/TB452.2.ISO2808标准，用于测量涂镀层厚度。技术要求：测量范围2-200μm测量精度±（0.7Uum±3%）可测量φ20mm以上曲面及薄板涂层厚
| 技术参数：依据磁阻原理对磁性材料表面上的非磁性涂镀层厚度进行非破坏性测量的仪器测量范围：0～200μm测量精度：±（3%H+0.7）μm分辨率：0.1μm |
QUC-200数显式磁性测厚仪测定磁性材料基体上非磁性涂镀层厚度 GB/T1764-89 GB/T13452.2-92 ISO2808-74专用于磁性材料基本表面非磁性涂镀层厚度测定。机内备有充电电池，便于涂装施工现场应用
技术参数：
测量范围：0-200μm测量精度：
±（0.7μm+3%H）
注：H为标称值