X-RAY膜厚仪专场,X-RAY膜厚仪商家多、资料全面阿仪网

美国x-ray膜厚仪

产品用途：电镀层厚度及多镍镀层电位测量

应用领域：PCB、LED、航天航海、电子电器、线路板、五金锁具、塑胶电镀、标准件、钕铁硼、技术监督部门及科研机构。

测量镀种：装饰铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉、硬铬、化学镍、多层镍，复合镀层（如Cr/Ni/Cu）约30几种镀层基体组合。如需测量其他镀层可事先提出.

镀层底材：金属、非金属、钕铁硼等

镀层层数：单层及复合多层

测量范围：13号~92号元素（保证精度情况下，更厚镀层也可测量）

美国x-ray膜厚仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。

美国x-ray膜厚仪精密度测试，精密度表示对同一个对象进行多次测量，表征测试结果分散程度的物理量，它是一个与多次测试数据的标准偏差有关的物理量。目前，对一组具有嵌套性或不具有嵌套性的数据的标准偏差求解问题的研究已经相当成熟，对测量设备精密度的研究可以转化为对测量设备测试数据标准偏差的求解。使用成熟的数据处理方法研究比较新的高精度设备的精密度是一种简单可行而又科学的方法。

联系人: 舒翠

手机: 13602568074

电话:

传真:

邮箱: sc@kinglinhk.net

地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502

该公司产品分类：膜厚仪

美国bowman博曼X-RAY膜厚仪，采用真正的基本参数原理（FP）来测量厚度。電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給操作員放置樣品及關閉測量門時移動X/Y 桌變速返回到測量位置。高解像彩色攝影機配合強大的放大倍數功能使樣品的對位十分容易及在測量中也可以監視測量的位置。如型號配備了可編測量位置的儀器更有雷射對位裝置來更快速及準確對準樣品的位置測量。開槽式的測量室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測量室還大的，例如：電路板，也可以測量。在整體操作上，在簡易操作及強大功能的電腦WinFTM?軟件下，所有的測量數據的統計可以十分清楚地表達出來。符合美國的出口規定軟件是儀器的基本操作.此軟件可以同時間測量最多至四層鍍層、或是進行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。是另外選購，此軟件可以容許設定測量多至24個需要分析的參數。在不使用標準片做校正的情況下，可以達至一個相當不錯的測量結果。測量的準確度是可以用標準片校正來提高，程式是可以接受多至64個標準片來做校正，標準片校正也可以保證測量可以有追溯性。如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快！联系人：舒翠 136 0256 8074 QQ:2735820760

该公司产品分类：膜厚仪

x-ray膜厚仪

x-ray膜厚仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。

x-ray膜厚仪精密度测试，精密度表示对同一个对象进行多次测量，表征测试结果分散程度的物理量，它是一个与多次测试数据的标准偏差有关的物理量。目前，对一组具有嵌套性或不具有嵌套性的数据的标准偏差求解问题的研究已经相当成熟，对测量设备精密度的研究可以转化为对测量设备测试数据标准偏差的求解。使用成熟的数据处理方法研究比较新的高精度设备的精密度是一种简单可行而又科学的方法。

x-ray膜厚仪主要性能：

* 可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

* 可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。

* 薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。

* 备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

联系人: 舒翠

手机: 13602568074

电话:

传真:

邮箱: sc@kinglinhk.net

地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502

该公司产品分类：膜厚仪

X-ray膜厚仪

镀层厚度测试方法般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

Thick800A金属电镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，得到了客户的广泛应用和认可。

应用优势

1 快速：般测量个样品只需要10S～40S，样品可不处理或进行简单处理；

2 无损：物理测量，不改变样品性质；

3 ：对样品可以分析；

4 直观：直观的分析谱图，元素分布幕了然，定性分析速度快；

5 环保：检测过程中不产生任何废气、废水。

性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg标准配置

1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：

(1) X光管 (2) 半导体探测器

(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台

(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统

(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

3 计算机、打印机各台

计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）

4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。

5 标准附件

准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）

应用域黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。

金属镀层分类

若按镀层的成分则可分为单一金属镀层、合金镀层和复合镀层三类。

若按用途分类，可分为：①防护性镀层；②防护性装饰镀层；③装饰性镀层；④修复性镀层；⑤功能性镀层

按用途分类可分为

①防护性镀层：如Zn、Ni、Cd、Sn和Cd-Sn等镀层，作为耐大气及各种腐蚀环境的防腐蚀镀层；

②防护．装饰镀层：如Cu—Ni—Cr、Ni-Fe-Cr复合镀层等，既有装饰性，又有防护性；

③装饰性镀层：如Au、Ag以及Cu．孙仿金镀层、黑铬、黑镍镀层等；

④修复性镀层：如电镀Ni、Cr、Fe层进行修复一些造价颇高的易磨损件或加工超差件；

⑤金属电镀层测厚仪功能性镀层：如Ag、Au等导电镀层；Ni-Fe、Fe-Co、Ni-Co等导磁镀层；Cr、Pt-Ru等高温抗氧化镀层；Ag、Cr等反光镀层；黑铬、黑镍等防反光镀层；硬铬、Ni．SiC等耐磨镀层；Ni．VIEE、Ni．C(石墨)减磨镀层等；Pb、Cu、Sn、Ag等焊接性镀层；防渗碳镀Cu等。

应用域

铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni， □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag

铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr

锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au

镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au

塑胶基体－－--plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

该公司产品分类：邻苯检测仪器 ROHS2.0检测仪器 ROHS仪 Explorer 系列 Genius 系列锌合金检测仪不锈钢成分分析仪硅钙合金成分检测仪铝合金检测仪铁合金检测铜合金检测电镀层厚度分析仪 X-ray膜厚仪 XRF镀层膜厚分析仪 X光膜厚检测仪台式镀层测厚仪无损测厚仪 X光电镀层测厚仪荧光测厚仪金属电镀层厚度分析检测仪

X-ray膜厚仪

仪器介绍

天瑞公司92年开始做X荧光光谱仪，在质量管理方面有完善的质量管理体系，在来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关，确保产品的性能和质量精优。天瑞仪器在检测精度、检测功能、操作便捷性等方面直保持内。 Thick800A是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，性价比优的金属电镀层厚度检测仪。

镀层厚度测试方法般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

性能优势

1.性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的性更高。

2.满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

3.快速：40S就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

4.无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

5.直观：实时谱图，可直观显示产品测试点

6.简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

7.性价比高：相比其他类类仪器，x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。

该公司产品分类：波长色散X射线荧光光谱仪WDX4000 气质联用仪GC-MS6800 手持式RoHS检测仪膜厚仪Thick800A RoHS检测仪EDX1800B 镀层测厚仪Thick800A ICP3000电感耦合等离子体发射光谱仪大气重金属在线监测仪电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS 液相色谱质谱联用仪原子荧光光谱仪 AAS原子吸收光谱仪水质在线分析仪 X荧光测硫仪食品重金属检测仪高频红外碳硫分析仪碳硫分析仪矿石分析仪粮食重金属快速检测仪铜合金分析仪

萤光X-Ray膜厚仪

荧光X-Ray膜厚仪

萤光X-Ray膜厚仪说明：1. 测量主机精巧,不占空间2. 厚度测量极限:0.001um3. 可测试单层膜厚、多层膜厚、化学镍层膜厚、锡铅合金层膜厚及组成比、元素分析4. 准直器最小孔径仅0.05φmm,可测量微小部品5. 采用中文窗口软件,测定报告的撷取,非常简便

荧光X-Ray膜厚仪

产品型号:	EX-3000
产品名称:	萤光X线膜厚计 EX-3000
相关说明:
荧光X-Ray膜厚仪特性： 1. 采用中文窗口操作系统，操作性简便。 2. 厚度测量极限:分辨率0.001um。 3. 可测试项目:单层膜厚、双层膜厚、三层膜厚、化学镍膜厚、铅合金膜厚及组成、压铸锌上镀铜、二层同时测定、元素光谱分析。 4. 油浸式微小焦点X线管，50KV管电压，由上而下垂直照射方式。 5. 采用多频分析器，可快速处理能谱分析，可执行测定物之能谱分析表示，操作简单。 6. 滤波器:采用Co、Ni金属及数字式滤波器，可单一或同时使用。 7. 准直器：采用5种孔径一体式之Collimator可设定任意切换方式。 8. 彩色样品观察系统，附有＋字刻度线，清楚显示测定位置。 9. 客户、各部品番号、批号，可登录在频道内，共有300个测量频道数。 10.自动测定测量台，可使利用鼠标或摇杆来输入及调整测定位置，可登录储存100组自动测定频道，可作坐标补正及频道连结。 11.采用中文窗口作业软件，设计及打印测量报告，插入测量位置的彩色图片、非常容易。 12.可作数据统计处理及三次元之分布图案。 13.自动诊断机能，故障排除对策迅速。附有X线管的使用时间及寿命表示机能，加强保养的安全性。 14.测定资料可保存在频道内，在统计项目设定后可做统计处理。