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德国K.K精密超声波测厚仪CL3/CL3DL/CL400

德国K.K(KrautKramer)公司CL3&CL3 DL精密测厚仪具有更高的精度，更多的功能：＊分辨率可达0.001mm，精密零件＊配合不同的探头使用时，既能满足一般测厚要求，又能测量薄壁工件、塑料及陶瓷制品＊背光采用场致发光显示，更加明亮清晰＊用户自定义厚度上下极限，读数超出后仪器自动报警＊德国K.K公司CL400精密测厚仪在此基础上另有附加功能德国K.K精密超声波测厚仪CL3/CL3DL/CL400技术参数

操作原理测量范围材料声速显示刷新率显示分辨率操作时间操作温度电源自动关机尺寸重量数据存储接口

超声脉冲回波法接触探头方式：2到381毫米(钢)延迟探头方式：0.25到25毫米(钢)塑料探头方式：从0.13毫米开始254到15000米/秒4Hz4位数LCD带背光，数字高度12.7mm接触探头方式：0.01,0.1毫米延迟探头方式：0.001,0.01毫米塑料探头方式：0.001,0.01毫米无背光情况下大于35小时－10℃到50℃3节1.5V AA碱性电池不用后3.5分钟165×72×41mm(H×W×D)包括电池400克1200个读数，99组文件(CL3DL)RS232C，SPC(CL3DL)

德国K.K精密超声波测厚仪CL3和CL3 DL探头技术数据

探头名称	探头类型	接触直径	测量范围	标称频率
Alpha 2DFR	延迟	7.6mm	0.25到25mm	15MHz
Alpha 2A,mini DFR	延迟	4.8mm	0.25到5mm	20 MHz
CA211A	接触	19.1mm	2到381mm	5 MHz
CA215	接触	12.7mm	2到51mm	5 MHz
Alpha 2F(标准探头)	接触	9.7mm	2到254mm	10 MHz
Alpha DFR-P	塑料	7.6mm	0.13到3.8mm(塑料)	20 MHz

德国K.K精密测厚仪CL3/CL3DL

德国K.K精密测厚仪CL3：精密测厚仪用于各种不同材料(如金属、玻璃、陶瓷、塑料)制成精密零件的测量，测量记录仪可作为选择（CL3DL）。可测厚度从0.25mm(钢)或0.125mm塑料开始选择显示分辨率:0.1/0.01/0.001mm 二个测量模式:接触方式,延迟方式(用于金属)和塑料方式 DIFferential方式相对用户特定的参考值大屏幕易读的带背光的LCD显示可选择单位(inch/mm) 测量范围:接触方式:2到380mm(钢) 延迟方式:0.25到25mm(钢) 塑料方式:从0.125mm开始使用声速:254到15000m/s 显示类型:4位数字LCD,高12.7mm,带开关背光显示精度:可选:0.1mm,0.01mm,0.001mm 测量涮新率;4HZ 接口:RS232,SPC 数据内存(CD 3DL):1200个测厚读数,99个文件HI/LO方式打印输出温度:-10度到50度电源供应:3个碱性电池,1.5V类型AA 操作时间:40小时(不带背光情况下) 尺寸: 72×165×41mm 重量:400g包括电池德国K.K精密测厚仪CL3DL CL3DL有附加功能 HI/LO方式:当厚度超过公差或额定值,即能报警. 最多可存储1200测量读数和99个文件通过打印机用5种语言打印文档标准的RS232接口