德国K.K精密超声波测厚仪CL3/CL3DL/CL400

德国K.K精密超声波测厚仪CL3/CL3DL/CL400

德国K.K(KrautKramer)公司CL3&CL3 DL精密测厚仪具有更高的精度,更多的功能:* 分辨率可达0.001mm,精密零件* 配合不同的探头使用时,既能满足一般测厚要求,又能测量薄壁工件、塑料及陶瓷制品* 背光采用场致发光显示,更加明亮清晰* 用户自定义厚度上下极限,读数超出后仪器自动报警* 德国K.K公司CL400精密测厚仪在此基础上另有附加功能德国K.K精密超声波测厚仪CL3/CL3DL/CL400技术参数

操作原理测量范围材料声速显示刷新率显示分辨率操作时间操作温度电源自动关机尺寸重量数据存储接口超声脉冲回波法                                     接触探头方式:2到381毫米(钢)延迟探头方式:0.25到25毫米(钢)塑料探头方式:从0.13毫米开始254到15000米/秒4Hz4位数LCD带背光,数字高度12.7mm接触探头方式:0.01,0.1毫米延迟探头方式:0.001,0.01毫米塑料探头方式:0.001,0.01毫米无背光情况下大于35小时-10℃到50℃3节1.5V AA碱性电池不用后3.5分钟165×72×41mm(H×W×D)包括电池400克1200个读数,99组文件(CL3DL)RS232C,SPC(CL3DL)
德国K.K精密超声波测厚仪CL3和CL3 DL探头技术数据

探头名称探头类型接触直径测量范围标称频率
Alpha 2DFR延迟7.6mm0.25到25mm15MHz
Alpha 2A,mini DFR延迟4.8mm0.25到5mm20 MHz
CA211A接触19.1mm2到381mm5 MHz
CA215接触12.7mm2到51mm5 MHz
Alpha 2F(标准探头)接触9.7mm2到254mm10 MHz
Alpha DFR-P塑料7.6mm0.13到3.8mm(塑料)20 MHz

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