X-Strata980（X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪）
产品简介：
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积
的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，
能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，
帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系
数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别
出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱
门使样品更易放入。
应用:
－－RoHS/WEEE
－－有害元素痕量分析
－－焊料合金成分分析和镀层厚度测量
－－电子产品中金和钯镀层的厚度测量
－－五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
－－贵金属合金分析和牌号鉴定
产品特点:
－－100瓦X射线管
－－25mm2PIN 探测器
－－多准直器配置
－－扫描分析及元素分布成像功能
－－灵活运用多种分析模型
－－清晰显示样品合格/不合格
－－超大样品舱
－－同时分析元素含量和镀层厚度
技术参数:
－－元素范围:S（16） to U（92）
－－可测镀层层数:5 层 （4 层+ 底材）,可同时分析25种元素成份
－－X射线管功率:100W （50kV ａnd 2mA）微焦点钨靶X射线管
－－探测器:25mm2 PIN 电制冷固态探测器
－－滤波器/准直器:最多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 （0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø）
－－数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正
－－电脑/显示器/系统软件
Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
15”LCD, 1024 x 768
MicrosoftTM XP SP2
－－摄像系统:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
－－电源:85~130V or 215~265 V, 频率47Hz to 63Hz
－－工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
－－XYZ轴行程: 203 x 152 x 216 mm （8 x 6 x 8.5”）
－－最大样品尺寸
305 x 390 mm （12 x 15.4”），样品高度为 50mm （2”）
305 x 352 mm （12 x 13.9”），样品高度为 203mm （8”）
－－舱室尺寸: （W x D x H）:584 x 508 x 220mm （23 x 20 x 8.7”）
－－外型尺寸
高765mm （30.1”）
宽 700mm （27.5”）, 840mm （5.5”） with one mouse pad extended
深790mm （31.1”）, 990 mm （39”） with keyboard tray extended
－－重量: 135 kg