荧光镀层测厚仪产品介绍:Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
X荧光镀层测厚仪产品指标:
测厚技术:X射线荧光测厚技术
测试样品种类:金属镀层,合金镀层
测量下限:0.003um
测量上限:30-50um(以材料元素判定)
测量层数:10层
测量用时:30-120秒
探测器类型:Si-PIN电制冷
探测器分辨率:145eV
高压范围:0-50Kv,50W
X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
光管靶材:Mo靶;
滤光片:专用3种自动切换;
CCD观察:260万像素
微移动范围:XY15mm
输入电压:AC220V,50/60Hz
测试环境:非真空条件
数据通讯:USB2.0模式
准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
软件方法:FlexFP-Mult
工作区:开放工作区 自定义
样品腔:330×360×100mm
X荧光镀层测厚仪标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜:100张
保险管:3支
计算机主机:品牌+双核
显示屏:19吋液晶
打印机:喷墨打印机
X荧光镀层测厚仪
完全满足客户铜镀锡、铜镀镍、铜镀银、铜镀金、铜镀镍镀金、镍镀金、铁镀锌、铁镀铬等常用金属镀层测厚分析,并具有开放性工作曲线功能,能根据具体需求添加适合现场使用的镀层测试工作曲线,能够满足所有金属镀层测厚分析。
Ux系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。
可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
产品名称:X荧光镀层测厚仪波谱校正片
产品型号:X荧光镀层测厚仪CMI900,CMI920波谱校正片,测厚仪校正片,膜厚仪校正片
X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 920金属镀层厚度的准确测量
CMI 900 / 920 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制。
技术参数:
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先测厚行业。
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多达5层、15 种元素。
B :精准度领先行业 :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D :统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
E :可测量任一测量点,可达0.025 x 0.051毫米样品台选择:CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为: 一:手动样品台1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二:自动样品台
1 程控样品台:XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI920系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:1 全程控样品台:XYZ 三轴程序控制样品台,可接纳的样品高度为150mm,XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。 2 Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品高度为270mm。
3 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品高度为356mm。 可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。
厂家提供X荧光镀层测厚仪Thcik800A1.性能优势Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量般为ppm到99.9% 。镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用领域黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
1、专业的电镀和表面处理厂家2、电子元器件、二极管铜镀银,圆晶镀锡、镀硅厚度测量3、射频连接器镀锡厚度测量4、PCB板行业镀层厚度测量5、LED支架镀银层百度测量6、卫浴行业镀铬层厚度测量7、陶瓷镀钼、金属化镀层厚度测量8、紧固件镀锌、镀银等电镀镀层厚度测量9、铁路配件等电镀镀层厚度测量10、各种金属电镀膜厚相关的企业厂家的电镀镀层厚度测量
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是大的镀层测厚仪生产企业, 产品打破了外垄断局面,性价比高,在行业内销量领先,分析仪器上市公司。公司专业生产镀层测厚仪,ROHS检测仪,气相色谱质谱仪(GCMS),五金镀层测厚仪,x射线测厚仪,,手持式镀层测厚仪,手持式合金分析仪,ROHS检测设备,电镀层测厚仪,五金镀层测量仪,天瑞ROHS仪,X射线镀层测厚仪。天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售XRF荧光光谱仪起步,目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是内上市的分析仪器企业。
配件(1) X光管 (2) Si-PIN电制冷半导体探测器(3) 信号检测电子电路 (4) 高精度二维移动平台 (5) 高清晰摄像头 (6) 高低压电源(7) 开放式样品腔 (8)双激光定位装置(9) 铅玻璃屏蔽罩产品特点该款仪器为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、饰手表、检测机构等行业量身打造的业仪器。XYZ三个可调节方向、方位的样品观察系统和激光定位使得检测更方便。超大的测试内部空间,良好的散热效果和抗电磁干扰能力,模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便,可适应恶劣工作环境。 采用公司新的能量色散X荧光FpThick软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作。谱图区域采用动态模式,测试时元素观察更直观。 具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。 产品用途1、电子半导体行业接插件和触点的厚度测量2、印刷线路板行业功能镀层厚度测量3、贵金属饰手表行业镀层厚度测量4、五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量产品优势满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm磁性材料电镀层测厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护参数规格1 型号Thick800A磁性材料X荧光镀层测厚仪2外型尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm3样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm4 样品台尺寸 30(W)×210(D)mm5 Z轴升降平台升降范围0~140mm6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)7 *分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法8 测量元素范围 原子序数为16S~92U之间的元素均可测量9 *同时检测元素次可同时分析多24个元素,五层镀层10 *检出限 金属镀层分析薄可达0.005μm11 厚度范围 分析镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)12 稳定性 多次测量重复性可达1%13 检测时间 30-6014 *探测器及分辨率25mm2Be窗口SDD探测器,分辨率140±5eV15 激发源50KV/1000uA-W靶X光管及高压电源16 *多道分析器 DMCA数字多道分析技术,分析道数4096道17 准直器和滤光片固定Ф0.2mm准直器,可选配其他孔径,Al滤光片18 定位 平台电机重复定位精度小于0.1um19 样品观察 配备CCD多彩摄像头,图像放大可达40倍,实现微小样品清晰定位。20 平台稳定性 Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力,实现平台的恒力升降,降低Z轴电机负荷,并了Z轴的垂直度。21 安性 双重安保护设施:防撞激光检测器与样品室门开闭传感器;待机无辐射,工作时辐射水平远低于际安标准,且具有软件连动装置。22 操作环境温湿度 15℃~30℃,≤70%23 仪器重量 90kg24 工作电源 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源公司介绍江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。 天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售X 荧光光谱分析仪起步,目从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是内在创业板上市的分析仪器企业。公司产品主要应用于环境保护与安(空气、土壤、水质污染检测等)、矿产与资源(地质、采矿)、商品检验甚至人体微量元素的检验等众多域。
江苏天瑞仪器股份有限公司是业生产ROHS检测仪,X射线测厚仪,电镀层测厚仪,磁性材料X荧光镀层测厚仪,气相色谱质谱联用仪,LCMS,手持式合金分析仪,铜金成分分析仪器等。