X荧光镀层测厚仪专场,X荧光镀层测厚仪商家多、资料全面阿仪网

X荧光镀层测厚仪X-Strata960 X荧光镀层测厚仪X-Strata960

X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移动范围）/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制（230mm或9inch移动范围）。
测厚仪内置PC用户界面

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发和检测	牛津仪器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦点钨靶X射线管
X射线激发和检测	高分辨封气（Xe）正比计数器可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果
数字脉冲处理	4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取的信号采集（每秒计数量），从而的测量统计结果
手动或自动透镜控制	手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
手动或自动透镜控制	自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离
自由距离测定	简化系统设置和维护
	在聚焦距离范围内仅需要一个校正
	对不规则样品更灵活的测量
	在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可测量样品表面的任何一点
	通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、的确定聚焦距离

附带自动透镜功能的自动激光聚焦	独特的、自动样品摆放系统
	激光扫描单键启动
	消除样品碰击Z轴的机会
	改善DIM的聚焦过程
标准激光聚焦	标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
	Z轴聚焦扫描单键启动
	改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
微小准直器	仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以化测量，并提高测量效率
	备有各种规格准直器（0.015mm – 0.5mm）,园形或矩形供客户选用
	多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
大样品室设计	方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
	大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
	三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
	标准配置自动化Z轴：最大高度230mm
集成化计算机	工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
	简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
	减少整机占用空间
	USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点	CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
	温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，的仪器稳定性
	光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器的稳定性
	坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
	一体化工作站设计实现的人机

该公司产品分类：真空度计日本理音日本小野欣锐仪器德国Novi 德国百瑞高台湾泰仕TES 德国德图testo 美国雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希玛SMART 德国QBL 意大利哈纳HANNA 美国联合系统美国ESC 美国斯德克韩国卡利安株式会社德国喜利得HILTI

CMI900CMI900(X荧光镀层测厚仪)

详细说明

CMI900镀层测厚仪特点：

精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
	在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室	CMI900		CMI950
－样品室结构	开槽式样品室		开闭式样品室
－最大样品台尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选		300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm		XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统		高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
		激光自动对焦功能
		可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置		IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件		操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围		可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能		采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
		样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
		可检测元素范围：Ti22 – U92
		可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
		贵金属检测，如Au karat评价
		材料和合金元素分析，
		材料鉴别和分类检测
		液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
－调整和校正功能		系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
－测量自动化功能		鼠标激活测量模式：“PointShoot”
		多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
		测量位置预览功能
		激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能		设定测量点
		连续多点测量
		测量位置预览(图表显示)

－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
	任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

行业

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。

应用

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

X-Strata960 X荧光镀层测厚仪X-Strata960

X-Strata960测厚仪基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间
更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。
距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
的大型测厚仪样品室 - 更大的开槽式测厚仪样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
3种测厚仪样品台选项 - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移动范围）/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制（230mm或9inch移动范围）。
测厚仪内置PC用户界面

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发和检测	牛津仪器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦点钨靶X射线管
X射线激发和检测	高分辨封气（Xe）正比计数器可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果
数字脉冲处理	4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取的信号采集（每秒计数量），从而的测量统计结果
手动或自动透镜控制	手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离
手动或自动透镜控制	自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离
自由距离测定	简化系统设置和维护
	在聚焦距离范围内仅需要一个校正
	对不规则样品更灵活的测量
	在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可测量样品表面的任何一点
	通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、的确定聚焦距离

附带自动透镜功能的自动激光聚焦	独特的、自动样品摆放系统
	激光扫描单键启动
	消除样品碰击Z轴的机会
	改善DIM的聚焦过程
标准激光聚焦	标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响
	Z轴聚焦扫描单键启动
	改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程
微小准直器	仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以化测量，并提高测量效率
	备有各种规格准直器（0.015mm – 0.5mm）,园形或矩形供客户选用
	多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器
大样品室设计	方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品
	大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品
	三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台
	标准配置自动化Z轴：最大高度230mm
集成化计算机	工作站式设计：改善人机工程学、方便使用
	简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆
	减少整机占用空间
	USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点	CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
	温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，的仪器稳定性
	光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器的稳定性
	坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
	一体化工作站设计实现的人机工程学

该公司产品分类：纺织仪器工具记录仪变送器仪器配件电源供应器温度热电偶空调检测仪器农业检测仪器表面测试仪器家居系列产品安规检测仪器测绘检测仪器建筑检测仪器计量标定仪器通用检测仪器电子电力工具水质分析仪器电力电工仪器警用安检设备

X-Strata960X荧光镀层测厚仪

基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进的设计：

l 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间

l 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。

l 距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。

l 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。

l 的大型样品室 - 更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。

l 3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。

l 内置PC用户界面　

技术参数

l X射线激发和检测

牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管

高分辨封气(Xe)正比计数器可获取的计数灵敏度，配合二次滤光器机构实现的检出效果

l 数字脉冲处理

4096通道数字多道分析器，数字光谱处理过程可获取的信号采集(每秒计数量)，从而的测量统计结果

l 手动或自动透镜控制

手动透镜控制：通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离

自动透镜控制：激光束自动寻找DIM系统的分析聚焦距离

l 自由距离测定

简化系统设置和维护

在聚焦距离范围内仅需要一个校正

对不规则样品更灵活的测量

在12.7mm-88.9mm的自由距离内，可测量样品表面的任何一点

通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能，可快速、的确定聚焦距离

l 附带自动透镜功能的自动激光聚焦

独特的、自动样品摆放系统

激光扫描单键启动

消除样品碰击Z轴的机会

改善DIM的聚焦过程

l 标准激光聚焦

标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自动寻找正确的Z轴位置，提高分析再现性，结果不受人为操作的影响

Z轴聚焦扫描单键启动

改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程

l 微小准直器

仪器至少装备一个客户指定规格的准直器以化测量，并提高测量效率

备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用

多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器

l 大样品室设计

方便超大样品的推拉式平台：如大面积PCB板、较长的管材样品

大型开发式样品室：方便于从各方向进样和观察样品

三种样品台备选：可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台

标准配置自动化Z轴：最大高度230mm

l 集成化计算机

工作站式设计：改善人机工程学、方便使用

简化设备安装：仅需要接入主电源线，没有其他电缆

减少整机占用空间

USB和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能

l 其他硬件特点

CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测

温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，的仪器稳定性

光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器的稳定性

坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境

一体化工作站设计实现的人机工程学

该公司产品分类：超声波测厚仪

X-Strata980X荧光镀层测厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。X-Strata980X荧光镀层测厚仪技术指标

100瓦X射线管
25mm²PIN 探测器
多准直器配置
扫描分析及元素分布成像功能
灵活运用多种分析模型
清晰显示样品合格/不合格
超大样品舱
同时分析元素含量和镀层厚度

CMI900X荧光镀层测厚仪

CMI900 X荧光镀层测厚仪

产品特点：

u 精度高、稳定性好

u 强大的数据统计、处理功能

u 测量范围宽

u NIST认证的标准片

u 全球服务及支持

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器）
	在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器）
样品室	CMI900		CMI950
－样品室结构	开槽式样品室		开闭式样品室
－最大样品台尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选		300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm		XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统		高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
		激光自动对焦功能
		可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置		IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件		操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围		可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能		采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
		样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
		可检测元素范围：Ti22 – U92
		可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
		贵金属检测，如Au karat评价
		材料和合金元素分析，
		材料鉴别和分类检测
		液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
－调整和校正功能		系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
－测量自动化功能		鼠标激活测量模式：“PointShoot”
		多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
		测量位置预览功能
		激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能		设定测量点
		连续多点测量
		测量位置预览（图表显示）
－统计计算功能		平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
		数据分组、X-bar/R图表、直方图
		数据库存储功能
		任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能		Z轴保护传感器
		样品室门开闭传感器
		操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

行业：

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。

应用：

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。

该公司产品分类：产品介绍 JAZ系列光谱仪 NIR近红外光谱仪 QE65000系列光谱仪 maya2000系列光谱仪 HR4000系列光谱仪 USB2000系列光谱仪海洋光学

900CMI900（X荧光镀层测厚仪）

应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的

情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。

主要规格规格描述

X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构开槽式样品室

－最大样品台尺寸 610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度 43.18mm

－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

（50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析

－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式，测量位置预览功能，激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能设定测量点，连续多点测量，测量位置预览

－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能

－系统安全监测功能 Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器

●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

●NIST认证的标准片

●全球服务及支持

980X荧光镀层测厚仪ROHS检测仪

主要规格规格描述

X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

样品室

－样品室结构开槽式样品室

－最大样品台尺寸 610mm x 610mm

－XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选

－Z轴程控移动高度 43.18mm

－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。

（50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)

可检测元素范围：Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析

－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－样品台程控功能设定测量点，连续多点测量，测量位置预览

－系统安全监测功能 Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器

●精度高、稳定性好

●强大的数据统计、处理功能

●测量范围宽

●NIST认证的标准片

●全球服务及支持

湖北武汉十堰宜昌襄阳黄石X荧光镀层测厚仪CMI900

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。高性能X射线荧光光谱仪快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素性能优化，测量元素范围广：可预设参数 CMI900 提供800多种预设应用参数/方法杰出的长期稳定性：自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正坚固耐用的设计可以在实验室或生产线上操作坚固的工业设计经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台

该公司产品分类：德国马尔Mahr 粗糙度仪材料试验无损测量光谱仪光度计圆度仪、粗糙度仪影像测量仪、投影仪显微镜三坐标测量机分析仪器长度计量光学仪器

x荧光镀层测厚仪

x荧光镀层测厚仪产品应用：

（1）电子行业：有效控制生产过程，提高生产力，分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu，测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy。

（2）五金电镀行业：电镀表面处理的成本最小化，产量最大化，多样品和多点分析，单层或多层厚度测量，镀液成份分析。

（3）贵金属/金属合金：珠宝及其他合金的快速无损分析，黄金分析及其他元素测定，金属合金检测。

（4）一致性检测：确保产品符合规格测定有害物质从ppm级到高百分比级。

（5）有毒元素定量分析：例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定，按照IEC62321进行RoHS筛选。对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测。

（6）新能源行业：确保产品有效一致，光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通过镀层厚度分析优化导电性。

x荧光镀层测厚仪由于X光测厚仪是在线测量仪表，检测的厚度是钢板热态时的厚度，这样会和冷态时的厚度有一定的偏差，所以就增加了温度补偿系数。使在线测量的数据与冷态时保持一致。同样如果轧制材质有变化时，也会给测量带来误差。这时只需将不同材质的样板进行检测，计算出合金补偿系数，也可以使测量数据和实际材质厚度保持一致。

x荧光镀层测厚仪精密度测试，精密度表示对同一个对象进行多次测量，表征测试结果分散程度的物理量，它是一个与多次测试数据的标准偏差有关的物理量。目前，对一组具有嵌套性或不具有嵌套性的数据的标准偏差求解问题的研究已经相当成熟，对测量设备精密度的研究可以转化为对测量设备测试数据标准偏差的求解。使用成熟的数据处理方法研究比较新的高精度设备的精密度是一种简单可行而又科学的方法。

联系人: 舒翠

手机: 13602568074

电话:

传真:

邮箱: sc@kinglinhk.net

地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502

该公司产品分类：膜厚仪