本仪器采用紫外线灯管及滤光片组成。一机能分别发出强烈的253.7nm和365.0nm紫外线,亦能同时一次性混合使用两种波长。
型号 | 工作室尺寸 (mm) | 功率 (W) | 规格 | 主要技术参数及备注 |
WFH–204 | 便携手提式 | | | 波长:反射300nm |
WFH–201BJ | 暗箱可见 | | | 反射254、365nm,透射300nm、可见光 |
WFH–201B | 暗箱 | | | 反射254、365nm,透射300nm |
GL–200 | 暗箱 | | | 312nm,透射白光 |
GL–312 | 简洁台式 | | | 254、312、365nm任选 |
GL–3120 | 简洁台式 | | | 加盖子254、312、365nm任选 |
WFH–202B | 暗箱 | | | 透射300nm |
WFH–201A | 无暗箱 | | | 波长:反射254、365nm,透射300nm |
WFH–202 | 无暗箱 | | | 透射300nm |
WFH–205B | 暗箱 | | | 反射254、300、365nm,透射可见光 |
WFH–203B | 暗箱三用 | | 新一代 | 波长:反射254、365nm |
WFH–203 | 三用 | | 台灯式 | |
ZF–1 | 三用 | | 波长:254、365nm点样 | |
WFH–204B | 便携手提式 | | | 波长:反射254、365nm |
水分仪 快速水分测定仪 水分分析仪
水分仪其他称呼又被称为水分测定仪、快速水分测定仪、水分计、水分检测仪、水分测量仪、水分分析仪,测水仪,验湿仪。 编辑本段应用范围可广泛应用于一切需要快速测定水分的行业,如医药、塑胶、冶金、矿山、煤炭、建材、化工、食品、粮食、饲料、种子、菜籽、茶叶、农林、造纸、橡胶、纺织等行业中的生产过与实验过程中。 编辑本段水分仪分类目前市场上主要有两种分析方法的水分仪销售: 1、化学分析法水分仪,顾名思义化学分析方法就是物质发生了质的变化,即生成了新的物质,此类主要用于微量水分精确测定。 2、物理分析法水分仪,这类相对结构简单,不需要那么复杂的实验,通过加热到一定的温度去蒸发掉自由水分,快速精确,虽然精度达不到化学分析法那么高,目前也可以达到万分之一,即1ppm。 化学分析法的水分测定仪主要包括卡尔•费休水分测定仪、库仑水分仪、露点水分仪。 卡尔•费休法属经典方法,又称为微量水分测定仪,其主要应用于水分值含量较低的样品检测,经过近年来改进,大大提高了度,扩大了测量范围。 露点水分测定仪操作简便,仪器不复杂,所测结果一般令人满意,常用于性气体中微量水分的测定。但此法干扰较多,一些易冷换气体特别在浓度较高时会比水蒸气先结露产生干扰。 库仑水分测定仪常用来测定气体中所含水分。此法操作简便,应答迅速,特别适用于测定气体中的痕量水分。如果用一般的化学方法测定,则是非常因难的事情。但电解法不宜用于碱性物质或共轭双烯烃的测定。 物理分析法的水分测定仪主要包括红外线水分仪、卤素水分仪、针式水分仪、感应式水分仪。 红外线水分仪\\卤素水分仪都是采用物理加热的方式去掉自由水分通过重量变化来测量水分的,常用于精度要求不是太高的行业,如医药、塑胶、化工、食品、粮食等。因为相对烘箱来说测试时间短,使用方便,精度高,比烘箱效率高得多,一般只需要几分钟。精度可以达到万分之一,这已经相当精确,可以满足绝大多数水份测定要求。 针式水分仪是利用被测物体的导电率来进行水分测量的,水分含量越高,相应的导电率越大,通过测量被测物体的导电率就可以测出水分值。 感应式水分仪是微波水分仪的一种,水分含量高,被测物体的介电常数大,相应的等效电容也就变大。通过测量被测物体的等效电容就可以测出水分值。
普通型热电阻/铠装热电阻 /端面热电阻 /隔爆型热电阻 / 金属热电阻/
精通型热电阻/陶瓷铂电阻 云母铂电阻Pt10、Pt100、Pt1000;Cu50和Cu100
简介 |
· PRO 2是意大利微纳德针对现代社会日益复杂的电磁环境安全问题最新推出的一款高性能低频电磁辐射频谱分析仪套装(主机NHT 3D+探头 |
PROBE 33N),频率范围DC - 20kHz。其中,PROBE 33N是一款具有三合一测试功能(静态磁场、低频电磁场)的三维探头,对应三维 |
(x&y&z)空间的分量可单独地在探头输出,操作者只需要一台主机(NHT 3D)搭配一个PROBE 33N探头,即可实现对静态磁场、低频电磁 |
场的有效测量。 |
· PRO 2主机内置三脚架安装接口,基于Windows的PC软件Waves,可通过光纤实现远程操作,因此,在独立工作模式下,即可实现长时 |
间全自动地测量,如24小时全天候测量,并存储测量结果。 |
· PRO 2具有功能强大的FFT频谱分析模式,频率范围覆盖DC - 20 kHz。在低频范围内,电磁场限值与频率有很大关系,因此,单纯宽带 |
的测量方法往往不能准确地对信号进行评估,而频谱分析模式可以获取信号的完整频率构成信息。低频信号通过窄的分辨带宽和较高的频 |
率分辨率进行捕获;较高的频率可以采用较宽的分辨率,这样就可以实现较快的测量。电场和磁场的频谱测量在各个轴向同时进行,并给 |
出在同一时刻记录的频率范围的宽带测量值。 |
典型应用 |
· 静态磁场(如地球磁场) |
· 供电厂、高压输电线、变电站 |
· 铁路和地面运输系统电力设备的测量 |
· 工业炉、焊接、回火和干燥设备 |
· 透热设备和医疗设备(如NMR/MRI) |
· CEI EN 50500《对人体暴露于铁路电子电气设备环境测量标准》 |
NHT 3D 规格参数 | ||
设备名称 | 宽频综合频谱分析场强仪 | |
品 牌 | 微纳德(Microrad) | |
型 号 | NHT 3D | |
频率范围 | DC -40GHz | |
SPAN / 分辨率 | 0Hz -1 KHz / 0.075Hz | |
0Hz - 20KHz / 1.5Hz | ||
0Hz - 400KHz /30Hz | ||
显示 | 类型 | 半透半反式LCD,单色 |
尺寸 | 6.4x3.5cm,128*64图形点阵 | |
背光 | 白光,关闭 / 10s / 常开 | |
刷新率 | 200ms | |
测量 | 测量单位 | mW/cm², W/m², V/m, A/m, Tesla |
测量类型(各向同性、RSS) | 实际值 (ACT)、最大值 (MAX)、平均值 (AVG) | |
测量类型(X-Y-Z模式) | Actual X,Y,Z | |
可选指标 | II98,WP10,IB50,IRSS | |
接口界面 | 光接口 | 全双工 |
探头输入 | 即插即用,自动检测,LEMO连接器 | |
内存容量 | 内存容量能够存储29组采样数据,1024条单点数据 | |
GPS | 集成式(可开关控制) | |
软件 | Waves(操作系统:Windows XP, 7,8, Vista) | |
电源 | 可充电锂电池 | |
操作时间 | 30小时 | |
充电时间 | 4小时 | |
电池电压(显示) | 柱状图,四电压等级 | |
工作温度 | -10℃ ~ +50℃ | |
存储温度 | -20℃ ~ +70℃ | |
充电温度 | 0℃ ~ +40℃ | |
湿度 | 5% ~ 95% 非冷凝 | |
尺寸(高*长*宽) | 160*98*46 mm(单主机) | |
重量 | 600g(包含内置电池,不包含探头) |
PRO 2标准配置 |
· 主机 NHT 3D |
· 探头 PROBE 33N |
· 光口 / USB转换器 |
· 光纤电缆(10m) |
· AC / DC 电源适配器 |
· 原厂校准证书 |
· 用户手册(电子文档) |
· 黑色重型包装箱(可同时装3个探头) |
· 木质三脚架(1-2m),含携带包 |
李经理
13267179527
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Innov-X Delta DP6000 高端型 矿石分析仪技术性能
1. 真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的ppm含量与百分比含量。
2. 只需将Delta矿石分析仪直接接触待测矿石表面,无须等待和花费时间即可现场确定矿石等级。
3. 被检测的样品的对象可以是矿石、岩石、矿渣、碎片;土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油等等的固体、液体物质。
4. 全球最快的分析速度, 仅需2秒钟就可识别矿石元素。
5. 用户化Windows CE 6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成,用户化Windows CE仅保留有最基本的Windows与Delta系统有关的性能,使程序更具灵活性。
6. 无需借助电脑,可在现场随意指定,查看,放大相关元素的光谱图。
7. 防尘,防雾,防水:一体机设计,软胶与塑胶部件凸槽 & 凹槽 构造设计,使仪器具有很好的三防性能,可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。
8. 超大的功率。40kV,100uA高达4W的大功率X射线管技术使仪器具有更低检测下限。
9. 腰带、枪套、肩带能将仪器牢牢地固定在你的腰部,可在野外活动自如。
10. 更高的检测精度,多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。
11. 超大的图标显示,菜单式驱动,微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。
12. 电磁干扰被屏蔽,即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
Innov-X Delta DP6000 高端型 矿石分析仪独特性能
1. 超高的检测精度精确度高。
2. 超高的稳定性,超高的重复性。
3. 优异的线性相关性。
4. 铑元素阳级本身就提高了2倍检测镁元素的结果。
5. 超大型SDD硅漂移探测器的使用将从镁到硫元素的检测下限、精度提高了四倍。
6. 超大型SDD硅漂移探测器的使用提高了五倍银元素的检测下限,两倍镉元素的检测下限
7. 采用了完全重新设计的射线管、无高压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。
8. 结构更精密,缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离,对于某些应用信号提高了~40%.
新的滤波轮更轻、更薄,在位置上更加接近被测样品,具有8 个滤波器,可适应最高的配置,不同的
德国安杰莱公司成功开发的MicroQuick全自动清洁度分析系统特别适用于金属零部件的清洁度分析。该仪器的测试方法符合标准VDA-19和ISO-16232。MicroQuick能在几分钟内完成对滤膜上粒子大小的分析。
全自动清洁度分析系统适用标准德国安杰莱公司成功开发的全自动清洁度分析系统特别适用于金属零部件的清洁度分析。该仪器的测试方法符合标准VDA-19和ISO-16232。MicroQuick能在几分钟内完成对滤膜上粒子大小的分析。
测量所需时间
安杰莱全自动清洁度分析系统采用全新的扫描分析模式,比起同类型的显微镜检测方法,其测量时间更短,仅需3分钟即可完成滤膜的扫描分析工作。且能够有效的避免显微镜检测法中,颗粒物裂解分析的情况。
在传统的显微镜测试方法中,由于镜头的移动拼凑,会把颗粒物裂解分析,造成测试结果的偏差
可测量颗粒物大小范围大于25微米,可满足现有主要测试标准的要求。
智能化生成报告该全自动清洁度分析系统配套软件能够在Microsoft Excel中自动生成清洁度报告,颗粒图像库会显示大的十个粒子,而且配有方便用户编辑的报告模板,报告的模板符合各相应检测标准的要求。
滤膜固定框
这是一个用于直接扫描滤膜的适配器,滤膜使用固定框装在一个6x6的载玻片上并置于扫描仪玻璃板,使之或更好地贴合扫描系统。
光刻微粒子标准滤膜
光刻微粒子标准滤膜-这是一个用于直接扫描滤膜的适配器,滤膜使用固定框装在一个6x6的载玻片上并置于扫描仪玻璃板,使之或更好地贴合扫描系统。
技术参数 |
1.分 析 物: 水溶液 2.分析目的: 在线监控的浓度 3.测量方法: 比色法(两次比色分析) 4.测量范围: 0-1mg/L (更多量程可选) 5.IP65/NEMA4 6.外形尺寸:660 x 440 x 305 mm 7.模拟信号:0/4-20mA 8.继电器开/关信号:分析结果上、下限报警;过程报警 9.三个可编程开/关量信号 |
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Alert在线分析仪运用比色计对同一样品进行两次测量。该分析仪的时间程序可任意调节,进样、分析、清洗都能进行充分。分析仪应用成熟的湿化学分析方法与的微电子技术确保了结果的性和重复性。分析可按照实验室方法或国标方法进行,结果的性。 a.两次比色分析 : Alert 2004在一次分析周期里对同一样品进行两次比色测量;次测量样品的初始吸光值,第二次测量同一样品加入试剂反应后的吸光值。根据两次测得的吸光值和已经存储好的标准曲线计算出样品浓度。补偿了样品色度和浊度带来的干扰。 b.独立的取样管路 : 取样、定量、标样、排液和每种试剂都有独立的管路配合独立的高精度蠕动泵,的模拟了手工分析的流程,布置明了、易于维护。次测量就能得到稳定、的结果。 c.的样品定量设计 : 通过取样泵和定量泵的配合进行样品高度定量,精确、。泵管的老化和泵的转子磨损对其定量精度没有任何影响。 d.系统简单,维护方便 : 流路系统结构简单,无复杂部件、无需使用专用工具,维护方便。电路系统集成设计并且与湿化学组件隔离,运行安全、故障率低。 |
产品信息: 实验室中的桌面操作,提供使用特殊的样品包容器或特殊样品杯,样品可放置于塑料袋中。通过的扫描和分析确定污染程度。
可同时分析土壤中的所有有害元素。无需样品准备(现场分析)或只需将样品放置在塑料包中(现场实验室分析)。只在分析样品中含量低于100ppm的元素时需要额外的样品准备工作。典型的分析时间为15秒到300秒,取决于要求的性能、具体应用及感兴趣的元素。
北京全波仪器有限公司提供专业二手测试仪器
品牌:Anritsu型号:MS4623B/02,03B,04,05,08,10,11,13, NC346B,3750LF频率范围:10MHz-6GHz测量速度:150μs/点 动态范围:-125dB 源功率输出:+10dBm 接收机噪声底电平:-115dB S-参数误差:<0.05dB opt02:时域; 03B:3 端口; 04:3GHz噪声系数; 05:频率转换群时延, 08:谐波测量; 10:自动校准件; 13:交调失真测量; NC346B:噪声源; 3750LF:原装校准件(SMA)
我公司对销售的仪器提供计量院提供的计量合格证书。同时对所经营的仪器仪表均负责保修一年,保修期外提供有偿维修服务。