M-OG P.I.G.破壞式膜厚計(塑钢外壳)
測試範圍 :No: 1 0 - 2500 um/ 一小格 20umNo: 2 0 - 1250 um /一小格 10umNo: 10 0 - 250 um /一小格 2um放大鏡 : 50倍(附光源)組 成 : 本體(含放大鏡,有刻劃)一台 , 刮刀 , No: 1 , No: 2 , No:10 各一支 , 皮套一個 , 筆一支 , 乾電池二個廠 牌 : MICRO / 美國
测量方式 | 电磁式 | 涡流式 |
探头型号 | LEP-J(Fe) | LHP-J(NFe) |
测量对象 | 磁性金属(铁、钢)上非磁性涂镀层 | 非磁性金属(非铁)上的绝缘层 |
测量范围 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) |
测量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | |
分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
存储数据 | 约3000个 | |
预存通道 | 电磁式和涡流式各50个,共计100个 | |
显示方式 | LCD数显 | |
数据输出 | 连接电脑或打印机 | |
电源 | 5#电池×4个 | |
消费电量 | 80mW(不使用背光状态下) | |
电池寿命 | 100小时(不使用背光状态下连续使用的情况下) | |
室温要求 | 0~40℃ | |
外形尺寸 | 主机:75(W)×145(D)×31(H), 340g | |
标准配置 | 铁基体,非铁基体,标准片,V型块,主机皮套,电池×4个,使用说明书 | |
可选附件 | 标准片,专用台架,软件,数据线,探头 |
测量方式 | 电磁式 | 涡流式 |
探头型号 | LEP-J(Fe) | LHP-J(NFe) |
测量对象 | 磁性金属(铁、钢)上非磁性涂镀层 | 非磁性金属(非铁)上的绝缘层 |
测量范围 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) |
测量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | |
分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
存储数据 | 约3000个 | |
预存通道 | 电磁式和涡流式各50个,共计100个 | |
显示方式 | LCD数显 | |
数据输出 | 连接电脑或打印机 | |
电源 | 5#电池×4个 | |
消费电量 | 80mW(不使用背光状态下) | |
电池寿命 | 100小时(不使用背光状态下连续使用的情况下) | |
室温要求 | 0~40℃ | |
外形尺寸 | 主机:75(W)×145(D)×31(H), 340g | |
标准配置 | 铁基体,非铁基体,标准片,V型块,主机皮套,电池×4个,使用说明书 | |
可选附件 | 标准片,专用台架,软件,数据线,探头 |
330系列和200系列都有配备了无线探头的衍生型号除探头不同以外,其他都和使用有线探头的型号一致
生产厂家:日本Kett公司
该系列包括LE-200J/LH-200J/LZ-200J三种型号
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。内置打印机,可打印数据,有四个统计功能,可外接电脑。
LE-200J为电磁型/LH-200J为涡流型/LZ-200J为两用型
生产厂家:日本Kett公司
该系列包括LE-900J/LH-900J/LZ-900J三种型号
900系列掌上型膜厚计,小巧、实用,用于无损、快速、精确的测量涂层、镀层厚度。采用磁性和涡流两种方式测量膜厚计。可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
LE-900J为电磁型/LH-900J为涡流型/LZ-900J为两用型
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LU-200型
测定方法 超声波反射式测定对象 树脂、玻璃、金属等基体上的涂镀层测定范围 10~700um测定精度 <50um±2um >50um±4%分辨率 1um统计功能 测试数/标准偏差最大值/最小值/平均值
生产厂家:日本Kett公司