技术参数：
| 测头类型 | N | |
| 测量原理 | 电涡流 | |
| 测量范围 | 0-1250um/0-40um（铜上镀铬） | |
| 低限分辨力 | 1µm（10um以下为0.1um） | |
| 探头连接方式 | 一体化 | |
| 示值误差 | 一点校准（um） | ±[3%H+1.5] |
| 两点校准（um） | ±[（1%~3%）H+1.5] | |
| 测量条件 | 最小曲率半径（mm） | 凸3 凹10 |
| 基体最小面积的直径（mm） | ф5 | |
| 最小临界厚度（mm） | 0.3 | |
| 温湿度 | 0~40℃ 20%RH～90%RH | |
| 统计功能 | 平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、 测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV） | |
| 工作方式 | 直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl） | |
| 测量方式 | 连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） | |
| 上下限设置 | 无 | |
| 存储能力 | 15 个测量值 | |
| 打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | |
| 关机方式 | 自动 | |
| 电源 | 二节3.6V镍镉电池 | |
| 外形尺寸 | 150×55.5×23mm | |
| 重量 | 150g | |
非铁基涂层测厚仪TT230价格|规格
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非铁基涂层测厚仪TT230价格|规格 产品说明：
●可进行零点校准及二点校准；可对测头进行基本校准●设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）●可存贮和统计计算15个测量值●具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）●自动关机功能●删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量●操作过程有蜂鸣声提示●有欠压指示功能●有错误提示功能本仪器采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
非铁基涂层测厚仪TT230价格|规格 参数：
测量范围 1～1250μm 测量精度 ±（3%H+1.5）μm（零点校准），±[（1～3）%H+1.5] μm（二点校准）
其他科研实验试剂：
现GMS80045.1,石蜡切片冯库萨（VON KOSSA）钙染色试剂盒,50次CAS:129397-85-9,Boc-Cysteinol（pMeBzl）,Boc-Cysteinol（,98%P0412,PALCAM琼脂/PALCAM Agar,单增李氏菌的选择性分离,250克,RTGMS50431.3,血液葡萄糖激酶（glucose kinase）比色法定量检测试剂盒,20次E-0280，菊苣酸,标准品，Cichoricacid，≥98%E-0400，鸢尾黄素,标准品，Tectorigenin，≥97%CAS:496-12-8，异吲哚啉价格|现货,Isoindoline,超氧化物歧化酶检测试剂专题,,CAS:15244-38-9,硫酸铬溶液/无水硫酸铬/硫酸铬（III）/Chromium（III） sulfate,CP，38%,500克,RTGMS50410,磷脂酰丝氨酸PS（phosphatidylserine）液相色谱法定量检测试剂盒,20次N-三氟乙酰-DL-酪氨酸,N-Trifluoroacetyl-DL-tyrosine-15N,用作生物医药示踪剂，主要用于生命科学、农业科学等研究领域,丰度：1；化学纯度：≥98.5％5-氟尿嘧啶核苷CAS:316-46-1,Fluorouridine,用于抗肿瘤药物DFUR和FUDR生产的中间体、基因工程和生化试剂等,编号:bs-1391R,细胞周期检测点激酶2抗体,Anti-CHK2（Checkpointkinase2）,规格:0.1ml/0.2ml,CAS:19461-38-2,L-甘-异白二肽/甘氨酰-L-异亮氨酸/Gly-lleu,BR，98%,1克,RT现GMS12117.10.2,酵母菌SD-TRP/HIS/ADE培养基,100毫升CAS:1317-39-1,氧化亚铜/一氧化二铜/红色氧化铜/氧化亚铜（I）/Cuprous oxide,LR，95%,500克,RTGMS10093.1,细胞β-内酰胺酶报告基因活性荧光定量检测试剂盒,20次反-3-己烯酸乙酯CAS:2396-83-0,Ethyltrans-3-hexen,98%
时代超声波测厚仪:TT500,TT100,TT300等
TT230涂层测厚仪:
TT230本仪器是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。主要功能 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。主要技术指标 测量原理：涡流法 测量范围：1～1250μm 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准） ±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）
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| 技术参数：
基本配置：主机 标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um） 铝基体 充电器 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 时代TT230数字式涂层测厚仪的产品介绍: | ||
| TT230数字式涂层测厚仪的是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于TT230数字式涂层测厚仪 的体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 TT230数字式涂层测厚仪的主要功能 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。 TT230数字式涂层测厚仪的主要技术指标 测量原理：涡流法 测量范围：1～1250μm 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准） ±[1～3%H+1.5] μm（二点校准） |
涂层测厚仪TT230是一种超小型的涂层测厚仪，TT230涂层测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230涂层测厚仪体积小，测头与仪器一体化，涂层测厚仪TT230特别适用于工程现场测量。
TT230涂层测厚仪要功能 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、 标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行 新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。
涂层测厚仪TT230主要技术指标 测量原理：涡流法 测量范围：1～1250μm 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准） ±[（1～3）%H+1.5] μm（二点校准）