Cube 100便携式能量色散X荧光光谱仪
SPECTRO MIDEX荧光光谱仪
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。在珠宝行业、检测机构、海关商检、电子电器工业以及汽车材材工业等领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析或快速分析，同时对分析面积及灵敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS检测、ELV检测、贵金属成分分析等。
- 电子行业电子元器件RoHS指令的快速检测
- 金属、汽车、航空领域超大及微小部件的成分检测
- 珠宝首饰及贵金属合金的分析
- 司法检定分析
- 其它微区分析和较大样品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。在珠宝行业、检测机构、海关商检、电子电器工业以及汽车材材工业等领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析或快速分析，同时对分析面积及灵敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS检测、ELV检测、贵金属成分分析等。
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- 司法检定分析
- 其它微区分析和较大样品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。在珠宝行业、检测机构、海关商检、电子电器工业以及汽车材材工业等领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析或快速分析，同时对分析面积及灵敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS检测、ELV检测、贵金属成分分析等。
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- 金属、汽车、航空领域超大及微小部件的成分检测
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- 其它微区分析和较大样品表面的元素分布分析
SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。
SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。在珠宝行业、检测机构、海关商检、电子电器工业以及汽车材材工业等领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析或快速分析，同时对分析面积及灵敏度也可能有苛刻的要求，如RoHS检测、ELV检测、贵金属成分分析等。
- 电子行业电子元器件RoHS指令的快速检测
- 金属、汽车、航空领域超大及微小部件的成分检测
- 珠宝首饰及贵金属合金的分析
- 司法检定分析
- 其它微区分析和较大样品表面的元素分布分析
TY-ABR100华南玻璃光弹性系数检测仪器总代理
深圳供应365NM 518NM 595NM 640NM 790NM对应玻璃光弹系数测试仪
光弹系数测试仪可以测量样品的光弹性常数.通过精密测量由负荷引起的双折射，可以精确地“自动”测量光弹性常数.如果从外部附加到弹性体上，则与负荷的大小成比例地样品内部产生各向异性，表现出双折射性.这个比例常数被称为光弹性常数.光弹性常数具有材料固有的值.另外，晶体的情况下，对于晶轴的方向显示出不同的光弹性常数.下图中，根据“圆盘的压缩法”的测量示例如图所示，根据您的要求，任何负荷方法都可以对应。另外，通过应用ABR校准功能，可以消除样品中存在的初始双折射（制造时的残余应力等），分离负荷产生的双折射来测量因此，特别是对小的光弹性常数样品的测量非常有效。
光弹系数测定装置全自动光弹系数测定装置TY-10A(高解析度、高速型)双折射系数的线性解析度高达0.01nm；可同时测量延迟轴和主轴两个方向；基于光学相位差的双折射系数显示；一秒采样时间；应用：液晶显示屏膜；聚合物膜的取向；DVD和CD光学系统组件；由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力；某些透明材料的内部残余应力，如光学玻璃和塑料；某些透明材料的热应力；光弹性系数；全自动光弹系数测定装置TY-22(自动测量线性和周向双折射系数，高速型)
光学特性光弹性常数，双折射
力学特性弹性模量（杨氏模量），破坏强度
通过这些测量，可以分析弹性领域的形态，以及延展特性和取向特性。
光弹系数测定装置特点：1）可同时或独立测量线性和周向双折射系数；2）无需样品旋转，即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角；3）一秒采样时间；4）可选样品旋转台；5）二维或三维显示双折射系数的线性解析度高达0.01nm；6）可全自动操作；主要规格
变形模式：拉伸和压缩测量
样品尺寸：拉伸试验用：10x 80 mm
：压缩测试用：Φ20mm，thin 15mm
厚度：0.3–最多可支持15mm
驱动方式：通过步进马达同时驱动左右螺丝
拉伸压缩距离：100mm Max.
载荷传感器：额定50N（可更换200N1000N）
恒温层温度控制：室温～200℃
温度控制精度：±1℃应用：1）液晶显示屏(TN, STN)的双折射分布；2）液晶显示屏(TN, STN)的双折射系数与电压的关系；3）电－光学器件(如：Pockel效应、Faraday旋转、Kerr旋转等)；4）光学晶体研究；5）聚合物膜研究；全自动光弹系数测定装置TY-30(超高速型)特点：1）可以实现双折射系数的高速测量：100微秒；2）维护成本极低；3）二维或三维显示；4）可选样品旋转台；5）操作方便；应用：1）在静态和高速旋转速度下进行光学储存器件表征；2）动态双折射研究(如液晶、高分子)；3）对某些透明材料的热冲击；4）动态光弹性系数；5）光学相位调制器
RLE-SA02光纤光谱仪应用综合实验
| 产 品 说 明 | |||
| |||
JB-750光电直读光谱仪
【杰博】JB-750光电直读光谱仪/价格/电话/厂家/型号/无锡杰博电器科技有限公司
手机：13301515116 电话： 83211953 联系人：沈先生公司介绍
无锡杰博电器科技有限公司地处长三角经济繁荣区的江苏省无锡市，拥有知识产权，以高速分析仪器研制、生产、市场营销、售后服务为一体的现代化高科技企业，拥有一支精诚团结的高素质队伍。
公司以满足客户需求为己任，凭借坚实雄厚的技术力量，认真严谨的科研态度，稳健的发展战略，成功打造出一支高质高效的科研团队，荟萃了精密仪器、电子工程、材料、计算机、分析化学、机械制造等的佼佼者。从事分析实验仪器的研制开发、生产和销售。 经过细致的市场调研，我们吸收众家之长，潜心研制开发了新一代的光电直读光谱仪和系列红外碳硫分析仪，产品技术领先，性能优越，得到了广大用户的一致好评。产品被广泛应用于冶金、机械、煤炭、焦炭、商检、科研、化工等行业的材料检测。
公司先后通过了ISO9001：2008质量管理体系认证、ISO14001：2004环境管理体系认证和ISO18001:2008职业健康安全管理体系。这标志着杰博产品再一次获得了进入国际市场的绿色通行证，为杰博生产高品质、环保产品提供了有力保障。
拥有一支高素质的售后服务队伍，公司拥有自营进出口权，产品先后出口到东南亚、中东、非洲、南美等三十多个国家和地区。
产品简介
我公司生产的光电直读光谱仪是分析黑色金属及有色金属成份的快速定量分析仪器。本仪器广泛应用于冶金、机械及其他工业部门，进行冶炼炉前的在线分析以及中心实验室的产品检验，是控制产品质量的有效手段之一。
产品细节
产品特点
1、750mm焦距光栅设计，帕型-龙格装置，高真空，分辨率高、灵敏度高等特点；由于机刻光栅可以产生较高级次的光谱，所以选线更具灵活性，从而避免光谱干扰。
2、仪器结构设计合理，电子系统采用国际标准机笼，高集成化电路设计，故障率低。
3、分析速度快、重复性好、稳定性好。
4、采用高稳定的数字光源，激发频率在100—1000Hz之间变化，分析不同的样品，可选择不同的激发参数，可达到最佳的分析效果。
5、采用高集成化的采集和控制系统，自动化程度高。
6、采用进口的光电倍增管，具有暗电流小、信噪比高、使用寿命长等特点。。
7、分析扫描过程可同时对所有元素进行扫描，扫描过程简单，可快速分析出每个元素相对于基体元素的偏差。
8、激发样品过程中，无需对激发台进行水冷却，可连续分析样品也能达到较好的数据。
9、测控系统采用单板机测量与控制，与上位计算机进行数据交换，提高了运行速度。
10、通过计算机软件来调整每个通道的光电倍增管负高压，通道负高压分8档调整，从而大大地提高通道的利用率和分析谱线的最佳线性范围在分析不同材质中的采用，减少了通道的采用数量，降低了成本。
11、可用于多种基体分析：Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等。
12、采用纯中文Windows系统下的操作软件，操作简单易懂。
13、计算机软件建有数据库系统，方便了测量数据的查询与打印，也可通过网络远程传输数据，方便快捷。
14、各项系统独立供电，组成单元，使用方便，维护简单。
15、采用光学部分恒温措施，保证了仪器的正常运行，从而降低了对环境的要求。
16、采用高精度直线电机进行入缝扫描，速度快，精确度高。
17、采用整体出射狭缝，方面增加通道。
参数规格
| 1、激发光源： | ⑴供电电压：50Hz、220V±1% |
| ⑵输入功率：1.0KVA | |
| ⑶充电电容：预燃7.5μF，曝光1.5μF | |
| ⑷峰值电流：预燃120A，曝光30A | |
| ⑸主回路峰压：300VDC(采用自动调整峰压) | |
| ⑹引燃电路：脉冲幅度：+15KV | |
| 辅助间隙：采用隧道二极管 | |
| 放电频率：数字光源100Hz－－1000Hz | |
| 2、激发台 | ⑴样品台分析间隙：4mm |
| ⑵充氩气样品架，无需水冷却 | |
| ⑶分析时间间隔：一般不到1分钟 | |
| 3、分光仪 | ⑴分析波段范围：160~650nm |
| ⑵光栅：曲率半径 750mm | |
| 刻划密度：2400线/mm | |
| 刻划面积：30×50mm2 | |
| 闪耀波长（一级）：300nm | |
| 线色散：0.55nm/mm | |
| ⑶入射狭缝宽度：20μm | |
| ⑷出射狭缝宽度：50μm、75μm | |
| ⑸光电倍增管：直径28mm,10级侧窗管，熔融石英或玻璃外壳 | |
| ⑹允许最多通道：24个（可扩张到48个通道） | |
| ⑺分光仪局部恒温：38℃±0.2℃ | |
| 4、测控系统 | ⑴测控系统：采用单板机测量和控制，与上位计算机进行数据交换 |
| ⑵测量方式：分段积分 | |
| 积分电容容量：0.047μF | |
| 重现性：RSD≤0.2% | |
| ⑶光电倍增管高压电源： | |
| 电压：-1000V | |
| 稳定度：8小时优于0.5% | |
| 高压调节：从-550V到-1000V变化，分8（0-7）档调整 | |
| 高压设置：用户通过计算机软件改变 | |
| 5、外形尺寸： | ⑴主机：长1120mm×宽750mm×高920mm |
| ⑵重量：净重约266Kg |
标准配置项目
| 配置名称 | 数量 |
| JB-750型火花直读光谱仪主机 | 1台 |
| 计算机、标准键盘、鼠标、19寸彩色液晶显示器 | 1套 |
| HP打印机 | 1台 |
随机备件
| 名称 | 规格型号 | 数量 | 名称 | 规格型号 | 数量 |
| 操作应用软件 | 电子版 | 1个 | 工具 |
| 1套 |
| 说明书 | 密封圈 |
| 1套 | ||
| 保险管 | 15 | 2个 | 电极刷 |
| 1只 |
| 钨电极 | W1 | 1个 | 不锈钢管 | 6mm | 2.5米 |
| 极距规 | 4.0mm | 1个 | 氧气减压阀 |
| 1个 |
用户可选配项目
| 选配件名称 | 数量 | 备注 |
| 高精度磁饱和稳压电源（3KVA，铁塔或奥其丝） | 1台 |
|
| 小型空调 | 1台 | 必备 |
| 氩气净化器（氩气不纯时需要） | 1台 |
|
| 磨样机或砂轮机（黑色金属专用） | 1台 | 必备 |
| 高纯氩气（纯度＞99.996%） | 1瓶 | 必备 |
| 小型车床（有色金属专用） | 1台 |
|
| 制样机 | 1台 |
|
| 小样品激发台 | 1台 |
|
| 增设≥200um波长元素检测通道 | X个 |
|
| 增设170-190um波长元素检测通道 | X个 |
|
| 增设分析程序 | X套 |
|
| 增设基体 | X个 |
|
| 光谱标准样品(对应材料) | X块 |
|
电话： 传真：
网址：www.wxjiebo.com www.jbgpy.com www.jbgpy.net http://jiebotech.b2b.hc360.com/
XR-306能量色散X荧光光谱仪
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。
K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z-s)-2
这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
（二）XR-306能量色散X荧光光谱仪特点
1.无需制样即可直接测量.
2. 所有元素可以同时测量,且短短几分钟即可完成分析,可以应付大批量待测样品.
3. 检出限低,可以满足WEEE和ROHS指令要求.
4. 无损分析. 分析样品不被破坏，分析快速，，便于自动化。
5. 没有人为误差,谁操作都得到一样的结果.
6. 操作简单,可以单键完成操作.
7.分析的元素范围广，从Na到U均可测定；
8.荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；
9.分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，
10、连续测试重复性极强，测试数据稳定
（三）能量色散光谱分析仪与波长色散光谱分析仪的区别
能量色散分析仪只有一个探测器，它对测量Ｘ射线能量范围是不受限制的，而且这个探测器能同时测量到所有能量的Ｘ射线。也就是说只要激发样品的Ｘ射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件，对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量Ｘ射线：密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。
能量色散的条件是当样品被激发后产生的Ｘ射线通过窗口进入探测器探测器把Ｘ射线能量转换成电荷脉冲，每个Ｘ射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲，当这些电压脉冲经充分放大后，被送入脉冲处理器，脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号，由计算机进行分类，分别存入多道分析器（ＭＣＡ）的相应通道内，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。
波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长，由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置，以满足布拉格定律的要求。 Ｘ射线荧光分析和其它光谱分析一样，也是一种相对分析。这就是说，要有一套参考标样，这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量，记录欲分析元素的强度，建立浓度（含量）、强度（ＣＰＳ）校准曲线，存入处理数据的计算机，供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线，强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。
另外由于校准线要在很长一段时间内使用，所以应对仪器的漂移作出调整，尽管这种漂移不大，但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作ＳＵＳ（调整样）的特殊样品，它们含有适量的分析元素，有很好的稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。
产品规格：
名 称 | X荧光光谱仪 |
型 号 | XR-306 |
分析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 |
分析元素 | Na ～U任意元素, 铅（Pb）、镉(Cd)、汞（Hg）、六价铬（Cr6+）、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的溴。 |
技术指标 | 检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm 样品形状：任意大小，任意不规则形状 样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体 X射线管：靶材/Mo 管电压/5～50 kV 管电流/最大1～1000 μA 照射直径：2、5、8mm 探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器 滤光片：八种新型滤光片自动选择 样品定位：微动载物平台（选配） 样品观察：30倍彩色CCD摄像机 微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件 定量分析：理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 数据处理：IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上 系统：Windows XP正版 功率：1.1kW 重量：40Kg 外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm |
标准配置 | 标准配置：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<150eV) X光光管(寿命>15000小时) 高压电源（RSD<0.25%） 大样品仓 高精密摄像机(130万像素) Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件 计算机(P4品牌机) 打印机（爱普生彩色喷墨打印机） 测试用样品杯2个，测试用塑料薄膜数张 标 样：欧盟EC681一片、银校正标样一片。 1KVA UPS不间断电源 仪器工作台 |
工作条件 | 工作温度：10-30℃ 相对湿度：≤70% 电源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
EDX1800Bx荧光光谱仪台式智能有害元素检测仪
ATR FTIR PROBE探头式傅里叶变换衰减全反射红外光谱仪
ATR FTIR PROBE探头式傅里叶变换衰减全反射红外光谱仪
晶格码独有的探头式傅里叶变换衰减全反射红外光谱仪是利用红外线光谱经傅立叶变换进而能够分析样品浓度的在线光谱分析仪。该产品的光纤探头将FTIR变成了一个真正的原位测量仪器，让您实现之前无法达成的常规FTIR分析。利用我们独特的光缆设计，可以将FTIR用于一个传统的实验室规模的反应容器，或是自动化的实验室反应器中。
系统所配备的光纤探头采用专利技术，将红外发射光纤束与一个全反射晶体相结合，对液体和半液体样品进行分析，或者是将红外发射光纤束和专门的透射或反射式探头结合在一起，对气体、液体和固体样品进行分析。
实时反应监控软件
- 具有实时3D显示和趋势线功能
- 完全匹配和控制光谱仪
- 全功能光谱软件，包括3D绘图、曲线拟合等常用功能，以及许多其他附加功能。
技术指标
- 光谱范围：5000 cm-1~900 cm-1
- 探测温度范围：根据客户需求定制
- 探管直径：详见下表各种探头的参数配置
- 探头长度：根据客户需求定制
- 压力：根据客户需求定制1~＞200 bar
- 材料：耐腐蚀不锈钢、哈氏合金;对于不同的使用环境，可以用不同的探头材料
性能特征
- 独特的光缆设计，可在常规实验室规模的反应器中或ALR（自动化实验室反应器）内使用
- 该系统的一个独特之处是可用的液体透射式探头，其可变化光程从几微米到约6毫米。多种探头可选（高/低温，高压）
- 探头材料和长度可根据客户要求定制
- 耐腐蚀探头可在恶劣的环境中工作
光纤光谱仪
产品优势
u 宽的光谱测量范围185-1100nm
u 专用的测量紫外、可见、近红外和红外波段的光谱仪
u 高品质光谱分辨率，最高可达0.03nm
u 可同时完成光谱波长与强度分布测量，吸光度测量，色品坐标和颜色测量
u 精巧的外观设计，设计均采用通用标准接口
u 丰富的可选配件，光源、光纤、CCD探头
u 无需外接电源，USB直接供电，工作稳定
软件优势
l 采用USB接口，全面支持Win7系统
l 软件自动识别、连接功能，通讯方便，能同时连接多台光谱仪器
l 集成多种光谱分析模块（光谱波长、强度分布测量、吸光度测量、色品坐标、
颜色测量等）
l 提供多种样品光谱（标准光源光谱/太阳光光谱/氘灯光谱/汞灯光谱/各类
LED光谱/高低色温节能灯光谱；各种玻璃片的吸光度光谱）
l 方便快捷的数据处理功能（将光谱数据与图像导入到Excel、TXT文件中，
同时可保存为*.pdf *.bmp等文件）
l 便捷的智能曝光时间功能
l 具有光谱录像功能
| 型号 | AULTT-P2000 | AULTT-P3000 | AULTT-P4000 |
| 有效波长范围 | 350-1000nm | 200-800nm | 185-1100nm |
| 应用 | 可见波段测量 | 紫外波段测量 | 紫外、可见、红外测量 |
| 最高分辨率 | 0.03nm | 0.03nm | 0.03nm |
| 波长重复误差 | < 0.3nm | < 0.3nm | < 0.3nm |
| 探测器（CCD） | 2048单元线阵硅CCD | 3648单元线阵硅CCD | 3648单元线阵硅CCD |
| 狭缝宽度 | 30μm | 30μm | 30μm |
| 光栅 | 600线@450nm | 600线@250nm | 600线@250nm |
UX-300X荧光光谱仪
深圳市华唯计量技术开发有限（UniqueMetricalTechnology Development Co. ，Ltd. Shenzhen ）是中国最大的，专业制造、生产和销售X荧光分析仪器的高新技术企业联盟成员。拥有国内的X荧光分析技术领域的专家队伍（国家X荧光光谱仪“七五”“九五”攻关项目绝大部分核心成员），是集产品设计、开发、制造、销售及服务为一体的科技实体，在X荧光分析仪项目上，产品包括波长色散X荧光分析仪和能量色散X荧光分析仪两大系列。同时，公司与国内外相关领域的专业研究院所保持着密切的合作关系，实时追踪国际X荧光分析领域最前沿的理论和技术，也是目前中国专业化生产波长色散X荧光分析仪的企业联盟成员。 UX系列能量色散X荧光分析仪、 BX系列波长色散X荧光分析仪是我们总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训, 并吸收国际技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。
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