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Zetatrac新型Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪

30多年来，Microtrac 公司一直于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。作为行业的先锋，早在1990年，纳米颗粒分析仪器，NPA引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生的能谱概念，利用背散射Back-scattered和异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术，结合动态光散射理论和的数学处理模型，取代传统的光子相关光谱PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，将分析范围为延伸至0.003-6.5µm。随着技术的发展，Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器，快速分析高浓度的纳米颗粒，生化材料及胶体体系成为现实，成为众多行业纳米分析的参考仪器。应用领域：有机聚和物和高分子研究，纳米金属和其他纳米无机物，结晶分析，表面活性剂胶束大小，蛋白质，甾体，DNA，RNA，极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。

主要特点

﹡ 专利的异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术，比较传统的多谱勒频移分析方法，获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级，提高分析结果的性 ﹡ 专利的可控参比方法CRM, Controlled Reference Method，能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度 ﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，避免了多重散射现象，高浓度溶液中纳米颗粒测试的性 ﹡ 的“Y型”光纤光路系统，精确聚焦蓝宝石测量窗口，消除杂散光对检测器的负面影响 ﹡ 专利的快速傅利叶变换算法FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method，迅速处理检测系统获得的光谱，缩短分析时间 ﹡ 引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素，内置常用分析物质光学数据库，提高颗粒粒度分布测试的性 ﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析国际标准－纳米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准

技术参数

粒度范围：0.8纳米－ 6.5微米 Zeta 电位测量：+/- 5mv 电泳迁移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重复性：误差小于1%（标准颗粒）测量原理：动态光背散射技术及米氏理论专利技术：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纤光路设计，“非球形”颗粒校正选项，微电场设计技术检测角度：180º 浓度范围：0.1ppm – 40wt% 分析时间：30-120 秒光源：3mW 780nm 半导体光纤样品体积：0.2ml 操作软件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等国际标准：ISO 13321 环境温度：10ºC to 35ºC 相对湿度：小于90%

激光粒度仪及Zeta电位分析仪

90Plus专门用于纳米及亚微米颗粒的粒径测量，操作方便、快捷，并可升级带Zeta电位测量功能。ZetaPlus的升级产品为ZetaPALS。对于高浓度悬浮体系粒度的测量，BI-FOQELS为选择。此外，对于需要研究体系聚集过程，或测量分子量的用户，还可选择添加BI-200SM以完成研究目的。主要特点 1.高功率的激光器了测量结果的精度。2.开放式样品池和平板式电极的设计,是具有革新性的专利技术。3.基本避免了电渗运动和交叉污染的影响，从而提高测量的精度和速度。4.采用世界公认功能的相关器BI-9000，仪器具有的性能。5.良好的升级前景，延长了仪器的使用寿命。技术参数 1.粒度范围：2nm-5um2.温控范围：6-75℃, ±0.1℃3.浓度范围：0.01%-0.1%体积 (0.001%-40%选项)4.pH范围：2-125.激光器功率：30mW

酸碱、氧化-还原电位分析仪型号:M294094

TW61M/PH/ORP-2002型酸碱、氧化-还原电位分析仪以操作简便，运行稳定著称，该品牌的酸碱、氧化-电位变送器具有以下功能优势：稳定性好、低干扰采用LCD显示视界采用电压稳定、抗干扰性强的线性电源主要操作由一个键完成，操作非常简单可选择4-20mA信号隔离输出（通讯接口）适用高输入阻抗的电极特别适用于废水处理系统、纯水系统等过程电极护套管：可耐强酸、强碱、1-4米可以任意选择尺寸安装支架：全不锈钢设计、美观、机械强度好电极信号线：日本进口同芯屏蔽电缆、5-200米可选标准成套配备： 1、PH/ORP变送器 2、PH/ORP电极 3、电极护套管（1米，可选择加长） 4、防水接线盒（1P65） 5、安装支架（全不锈钢设计） 6、电极信号线（20米，可选择加长）主要技术参数：测量范围 :0－14PH、－1000-1000mV 精确度: 0.01PH、1mV 操作温度: 0-60℃ 显示: 液晶显示屏信号输出: DC4-20mA Max. Load 1k 控制 : ON/OFF 接点电流 :220VAC Max. 3A 设定点: 2 电源:220VAC 50Hz 开孔尺寸:92mm(H)-92mm(W)-110mm(D) 净重: 0.2Kg 电极选择 S-400-RT330-A10FF　PH污水及管路安装电极 S-400-RTPBO-A10FF PH污水及管路安装电极S400-02-Y　 PH/ORP经济型电极

产品图片

NANOPLUS纳米粒度与Zeta电位分析仪

NanoPlus是一款新型的、具有极宽测试范围的多用途分析仪，它采用光子相关光谱法、电泳光散射以及最新的FST技术来分析纳米粒度和zeta电位，并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位，符合ISO标准。该仪器采用了高灵敏度测量技术，可同时满足低浓度和高浓度样品纳米粒度与zeta电位分析的要求，浓度范围由0.001%到40%，可检测粒径从0.6nm到10μm，浓度从0.00001%到40%的样品的粒径。

该款仪器具有以下技术特点：

可测定颗粒在高浓度溶液中的zeta电位
可测定固体zeta电位
宽粒径范围（0.6nm~10μm），宽浓度范围（粒径测试：0.00001%~40%，zeta电位测试：0.001%~40%）
可精确测量稀释或浓缩的悬浮液
用户友好的软件
多种样品池选择
可选择一次性样品池
结合线性相关器和对数相关器相结合的技术对各种样品进行表征
可选择自动滴定装置控制悬浮液PH值

产品应用：

半导体

研究半导体晶体表面残留杂质与磨蚀剂、添加剂和晶片表面之间的相互影响的净化机制。

医药和食品行业

乳剂的分散和凝聚的模拟控制研究（如食品、香水、药品和化妆品），蛋白质功能研究，核糖体分散和凝聚控制研究，表面活性剂功能研究（微囊）。

陶瓷和颜料工业

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化铝、二氧化钛等）和无机溶胶的研究，颜料的分散和凝聚的控制研究，浮矿收集器的吸附研究。

聚合物和化工领域

乳剂（涂料和粘合剂）的分散和凝聚控制研究，乳胶表面重整控制（药品和工业用途）。电解聚合物（聚苯乙烯磺酸钠、多羧酸等）功能研究，控制造纸和生产纸浆过程研究，纸浆添加剂研究。

该公司产品分类：反应釜、反应器密度仪、密度计压汞仪物理/化学吸附仪比表面仪、比表面积、比表面及孔结构分析仪孔径/隙度分析仪蒸气吸附仪粒度仪、激光粒度仪、粒度分析仪沉降粒度仪/颗粒沉降仪颗粒计数器 Zeta电位仪/微电泳仪固体(粉末)表面分析仪

DDS-307A电导率仪-上海雷磁数字电导率仪DDS-307A/电导率仪/在线电导仪/雷磁电导仪/电位分析仪

电导率仪-上海雷磁数字电导率仪DDS-307A/电导率仪/在线电导仪/雷磁电导仪/电位分析仪

电导率仪-上海雷磁数字电导率仪DDS-307A

售后保障 1、上海谦科售出的HWC-10B磁力搅拌恒温循环水浴可享受7天包退，30天包换，1年免费维修，终身保修的贴心服务，让您购买仪器更放心；2、您在上海谦科购买的磁力搅拌水浴锅如在使用中有任何疑问，请直接与我公司工程师联系（021-6051-5240 186-021-71157）我们将在24小时内对您的疑问作出响应并解答，让您使用仪器更舒心；3、上海谦科将始终坚守“诚信”“快速”“低价”“安全”的服务，让您买到质优价廉，服务周到的产品，为此我们不遗余力！

数字电导率仪DDS-307A

仪器特点：

仪器用于精确测量各种液体介质的电导率，当配以0.1、0.01规格常数的电导电极时，可以精确测量高纯水电导率。仪器广泛适用于各领域的科研的生产。仪器特别设计（0～2×105）μS自动六档量程测量，使测量误差最小。

●采用高件能微机芯片，大屏幕液晶多参数显示●电导率测量、电阻率测量、TDS测量、温度测量●自动校准、自动量程切换、自动温度补偿（0～100℃）

可接0.01;0.1;1;10四种规格常数的电极技术指标：1.仪器级别：1.0级 2.测量范围：电导率：（0～1.999）μS；（2.0～19.99）μS；（20.0～199.9）μS；（200～1999）μS；（2.0～19.99）mS；（20.0～199.9）mS 温度：-5～105（℃）3.电子单元基本误差：电导率：±1.0（FS）温度：±0.5（℃）4.电子单元稳定性：±0.5（FS）5.温度补偿系数：2.0（％）6.温度补偿范围：0～100（℃）

特约定制如果您没有在本站找到适合您的恒温水槽（浴），您可以通过我们的定制专线与我们取得联系或者向我们提交您的定制需求，我们会将您的需求反馈给我们的技术工程师，同时在24小时内与您取得联系，给您提供详细的解决方案！1、我要拨打定制专线定制需要产品：021-6051-5240 186-021-71157

该公司产品分类：其它设备离心机分光光度计电子天平马弗炉干燥箱生化培养箱振荡器/摇床低温恒温槽恒温水浴锅蒸馏水器高压灭菌器洁净采样车空气自净器空气净化器通风柜/通风厨生物安全柜净化工作台其它实验室通用设备恒温加温设备

WAVE 2305多孔固体孔隙率和表面电位分析仪

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多孔固体孔隙率和zeta电位分析仪主要特点：

1、测定多孔固体材料的两种不同性质的参数：孔隙率和固体表面zeta电位，包括孔壁电荷

2、探头式测量孔隙率，快速、安全、无污染，对样品无损伤

3、探头式测定zeta电位

应用领域：只要是孔径在仪器测试范围之内、能被某种液体浸润的材料均可进行分析。

典型的应用领域有：陶瓷、电池材料、建材、耐火材料、岩心、食品、制药、色谱柱基质等等

美国康塔（Quantachrome）是的当代颗粒技术开创者。四十年多来，康塔（Quantachrome）的科学家革新了测量技术并设计了相应的仪器，使得粉体及多孔物质的测量更加精确、精密，更加。这包括：比表面积分析仪，比表面积和孔径分析仪，薄膜孔径和孔隙度分析仪，超声粒度及ZETA电位分析仪，图像粒度仪，大孔孔径分析压汞仪，水吸附分析仪，高压吸附仪，真密度计，振实密度仪等。美国康塔公司不仅通过了ISO9001 及欧洲CE 认证，也取得了美国FDA IQ/OQ认证。

更多信息请关注康塔官方网站，请点击这里

该公司产品分类：比表面积和孔径分析仪真密度计真密度分析仪真密度测试仪全自动真密度计开孔、闭孔率分析仪开孔、闭孔率测定仪真密度分析仪压实密度测试仪压实密度分析仪压实密度仪振实密度仪振实密度测试仪堆密度测试仪振实密度计薄膜孔隙率分析仪薄膜孔径测试仪图像法zeta电位仪比表面仪比表面积测定仪

NICOMP 380纳米粒径与电位分析仪

Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息

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仪器型号：N3000 Basic

工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

检测范围： 0.3nm-10.0μm

Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有独特技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。

技术优势

1、高灵敏度PMT检测器；

2、可搭配不同功率光源；

3、精确度高，接近样品真实值；

4、快速检测，可以追溯历史数据；

5、结果数据以多种形式和格式呈现；

6、符合USP,CP等个多药典要求；

7、无需校准；

8、复合型算法：

（1）高斯（Gaussion）单峰算法与独特的Nicomp多峰算法自由切换

9、模块化设计便于维护和升级；

（1）可自动稀释模块（选配）；

（2）自动进样系统（选配）；

（3）搭配多角度检测器（选配）；

Nicomp多峰分布概念

基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。

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图一：Nicomp多分分布数据呈现

如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。

Nicomp多峰分布优势

Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。

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图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图

如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。

为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，取得收益。

产品优势

模块化设计

Nicomp 380纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。

自动稀释模块

带有独特的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。

380/HPLD大功率激光器

美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。

因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。

雪崩二极管 (APD) 探测器

Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有3-5倍放大增益效果）。

APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。

380/MA多角度检测器（选配）

粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。

该公司产品分类：均质器、均质机、乳化机颗粒计数器 Zeta电位仪/微电泳仪激光粒度仪、纳米粒度仪杂质粒度仪 AccuSizer 全自动计数粒径检测仪在线计数粒径检测仪 online 系列单颗粒光学传感技术仪器研磨液检测仪脂肪乳检测仪磨料浆检测仪抛光液检测仪 AccuSizer 780 APS 抛光液检测仪光阻法颗粒计数器光阻法检测仪光阻法单颗粒分析仪动态光散射粒度分析仪

超声粒度及Zeta电位分析仪DT-1202

超声粒度及Zeta电位分析仪

提供所有单台仪器测量粒度分布, zeta电位和流变性质(选件)的可能性在一个样品池中可以同时测量粒度分布和zeta电位可以选择附加各种探头式测量传感器, 包括温度、pH值、电导率、和流变性质测量，以及非水系统选项和软件控制的自动滴定系统所有探头均可同时操作统一的数据管理超声粒度及Zeta电位分析仪产品简介：利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到※佳分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制超声粒度及Zeta电位分析仪参数规格： 1. 粒径由超声波( Acoustic)方式 , Zeta 电位由电声波( Electro Acoustic)方式 2. 样品无需稀释直接测定,测量固体含量范围:1% ～ 50% 3. 樣品※大测量搅拌浓度:10,000cps 4. 樣品测量电位范围:+/- 300mV或以上 5. 声波范围: 500～3000m/s 6. 频率范围: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動掃描18個gap或以上 7. 粒径测量: 5nm ～ 1000um 8. 可测量混合物之粒径及Zeta电位 , 并可分析混合物之个別粒径 9. 测量Zeta电位只需10ml或以下 10. 操作软件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒径分布图及累计图 - 粒径分布数据表含D10 , D50 , D90 - 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取 - 使用者可自由选取声波速度及衰减图 - 任何两个参数的散射图 - 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可选自动酸碱与濃度滴定裝置 12.可选自动測量粒径及Zeta电位对pH变化 13.可以及时分析/显示Zeta电位与等电点 14.可及时测量/显示样品pH值,電导率,溫度 15.可选数据资料处理与显示系统: Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office软件 ( or Lap computer

超声粒度及Zeta电位分析仪DT-1202产品特点：1.能分析多种分散物的混合体 2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3.可适用于高导电（highly conducting）体系 4.可排除杂质及对样品污染的干扰 5.可精确测量无水体系 6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量 7.样品的※高浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 8.具有自动电位滴定功能产品相册：

该公司产品分类：超声粒度和Zeta电位分析仪粒子界面特性评价装置介电常数测定仪非水电导率测定仪超声流变仪 Zeta电位分析仪超声粒度分析仪光学流变系统混凝土流变仪混凝土收缩测试仪水泥/砂浆流变仪砂浆干燥收缩测试仪自动混凝土搅拌机蛋白质聚集体分析仪表面特性分析仪超声粒度和Zeta电位分析仪图像法Zeta电位纳米粒度及Zeta电位分析仪微区扫描电化学显微镜真密度分析仪

DT-1200高浓度胶体颗粒度及Zeta电位分析仪

主要特点

1.能分析多种分散物的混合体 2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3.可适用于高导电（highly conducting）体系 4.可排除杂质及对样品污染的干扰 5.可精确测量无水体系 6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量 7.样品的浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 8.具有自动电位滴定功能

仪器介绍

高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪,测试: 粒径、Zeta电位、滴定、电导等此仪器容易使用、测量精确。对于高达50％（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。 Dispersion Technology，Inc. 产品：　应用于： DT-1200声波和电声波测量仪实验室中粒径和Zeta电位及滴定、pH值测量 DT-100声波测量仪实验室中粒径分析仪 DT-300Zeta电位探头实验室中Zeta电位分析 DT-400自动胶体滴定滴定、pH值、表面活性、盐度等分析软件胶体科学领域的理论典型应用领域： Aggregative Stability, 水泥浆, 陶瓷, 化学机械研磨, 煤浆, 涂料, 化妆品, 环境保护浮选法矿物富集, 食品工业, 乳胶, 微乳, 混合分散体系, 纳米粉, 无水体系, 油漆成像材料. 测量参数：粒子/液体的密度、液体的粘度、粒子的重量百分比、介电常数等参数。优于光学方法的技术优势： 1、被测样品无需稀释 2、排除杂质及对样品污染的干扰 3、不需定标 4、能分析多种分散物的混合体 5、高精度 6、所检测粒径范围款从５nm至 1000um 优于electroactics方法的技术优势： 1、无需定标 2、能测更宽的粒径范围 3、无需依赖Double Layer 模式 4、不需依赖（electric surface properties）电表面特性 5、Zero surface charge条件下也可测量粒径 6、可适用于无水体系 7、可适用于高导电（highly conducting）体系优于微电泳方法的技术优势： 1、无需稀释，固含量高达50% 2、可排除杂质及对样品污染的干扰 3、高精度（±0.1mv） 4、low surface charges (可低至0.1mv) 5、electrosmotic flow 不影响测量 6、对流（convection）不影响测量 7、可精确测量无水体系

颗粒度及Zeta电位分析仪

我们的粒度和Zeta电位分析仪器, 采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。Zeta Probe 能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。

产品特性1.能分析多种分散物的混合体 2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3.可适用于高导电（highly conducting）体系 4.可排除杂质及对样品污染的干扰 5.可精确测量无水体系 6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量7.样品的浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 8.具有自动电位滴定功能

产品规格1.所检测粒径范围款从５nm至 1000um hspace=0 2.可测量Zeta电位、超声波频率、电导率、PH、温度、声衰减、声速、电声信号，动态迁移率、等电点（IEP） 3.Zeta电位测量范围：无限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv） 4.Zero surface charge条件下也可测量粒径 5.允许样品浓度：0.1～50％（体积百分数） 6.样品体积：20-110ml（检测粒径），2-100ml（检测Zeta电位）7.PH 范围：0.5～13.5 8.电导率范围：0.0001～10 S/m9.温度范围：< 50℃10.最大粘度：20，000厘泊11.电位滴定和体积滴定，滴定分辨率0.1μl