GB10006摩擦系数测定仪 纸板摩擦系数测量仪 胶片摩擦系数试验机PARAM博每 MXD-01摩擦系数仪产地:山东济南品牌:Labthink厂家:济南兰光机电技术有限公司
森林面积管理是一项重要却难以管理的工作,主要是因为需要对整个森林面积进行测量,以前,传统的罗盘仪法不适合面积较广,且测量面积复杂的森林。采用GPS面积测量仪能快速测量森林、农田、林地面积,并且拥有极高的精准性。森林面积的估计误差直接影响着森林蓄积量的精度,因为某区域的森林蓄积量为单位面积蓄积量的估值与区域面积的乘积。
GPS面积测量仪通常采用RTD GPS测量原理测量森林面积,这是一种新型的差分全球定位测量方法,主要方法是在一个精确的已知位置上安装监测接收机,计算得到它能跟踪的每颗GPS卫星的距离误差。该差值通常称为PRC,将此数据传送给用户接收机作误差修正,从而提高了定位精度。DGPS是克服SA的不利影响,提高GPS定位精度的有效手段,可达到Ⅲ 级及以上精度。DGPS一般可分为区域DGPS、广域DGPS和全球DGPS,全球DGPS正在酝酿中。DGPS定位技术是,将一台GPS接收机安置在基准站上进行观测。根据基准站已知精密坐标,计算出基准站到卫星的距离改正数,并实时地将这一改正数发送出去。移动站的用户接收机在进行GPS观测的同时,也接收到基准站的改正数,并对其定位结果进行改正,从而提高定位精度。
仪器型号: TMJ-2009
更多参数详情 http://www.top17.net/yq_list/yq_222_1.html GPS面积测量仪
CMI 900/950型 X-射线膜厚测量仪
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。
CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准,南华地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具,广泛应用于PCB, 五金端子连接器,电子元气件,等贵金属电镀测量行业
X-荧光镀层测厚仪CMI900 金属镀层厚度的精确测量
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,
x射线荧光测厚仪技术参数:
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B :精确度领先于世界,精确到0。025um 相对与标准片
C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D :统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL控制上限、LCL控制下限、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
E :可测量任一测量点,最小可达0.025 x 0.051毫米x射线荧光测厚仪样品台选择:CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:一:手动样品台1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二:x射线荧光测厚仪自动样品台
1 程控样品台:XYZ轴自动控制。 2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI900x射线荧光测厚仪主要技术规格如下:
No. | 主要规格 | 规格描述 | |
1 | X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | |
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 | |||
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 | |||
功率:50W4-50kV,0-1.0mA-标准 75W4-50kV,0-1.5mA-任选 X射线管功率可编程控制 | |||
装备有安全防射线光闸
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2 | 滤光片程控交换系统 | 根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统 | |
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | |||
位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口
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3 | 准直器程控交换系统 | 最多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制 | |
多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm使用0.025 x 0.05 mm准直器 | |
在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm使用0.3mm准直器
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5 | X射线探测系统 | 封气正比计数器 | |
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
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6 | 样品室 | CMI900 | CMI950 |
| -样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 |
-最大样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-XY轴程控移动范围 | 标准:152.4 x 177.8mm 任选:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时,152.4mm XY轴手动时,269.2mm | |
-XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 |
CCHG1000直读式粉尘浓度测量仪介绍:
是台既可以用正压力法也可以用真空负压法吸入样品的粘度测量仪,它最多可内置组泵,一台仪器最多可以同时采用不同的方法测试个不同的样品,大大节省了实验室空间。采用随机配置的专用软件包可通过计算机控制台,同时测试的样品量可以达到个。每个测量站均独立操作的灵活性。
技术参数
环境参数: | |||||
工作温度 |
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储存温度 |
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机械和一般参数 | |||
重量 |
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尺寸 |
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电池类型 |
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电池寿命 |
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