JL-UV-7502PC(756CRT)紫外可见光光度计,扫描型紫外可见分光光度计规格
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JL-UV-7502PC(756CRT)紫外可见光光度计,扫描型紫外可见分光光度计规格 参数:
仪器指标
型 号 | UV-7502PCS 可变狭缝扫描型 | UV-7502PC 扫描型 | UV-7502C (7521) | UV-7502CS 可变狭缝 |
光学系统 | 单光束,1200条/毫米衍射光栅 | |||
光谱带宽 | 0.5、1、2、4 nm | 2 nm | 0.5、1、2、4 nm | |
波长范围 | 200-1000 nm | |||
波长精度 | ±0.5 nm (2 nm) | ±0.5 nm | ±1 nm | ±0.5 nm (2 nm) |
波长重复性 | ≤0.2 nm | ≤0.5 nm | ≤0.2 nm | |
波长可读性 | 0.1 nm | |||
透射比度 | ±0.5%T (带宽 2 nm) | ±0.5%T | ±0.5%T (带宽 2 nm) | |
透射比重复性 | ≤0.2%T | |||
杂散光 | ≤0.5%T (带宽 2 nm) | ≤0.15%T | ≤0.2%T | ≤0.2%T (带宽 2 nm) |
∧220 nm,340 nm | ||||
基线直线型 | ±0.004 A (带宽 2 nm) | ±0.004 A | / | |
稳定性 | ≤0.004 A / 30min / 500 nm (after 30min warmup) | |||
测量范围 | 0-125%T -0.097-3.00 A 0-1999C | 0-125%T -0.097-2.70 A 0-1999C | ||
光 源 | 钨灯、氘灯 | |||
显 示 | LCD (2*20 带背光) | |||
数据输出 | RS-232C | |||
分析软件 | 有 | 支持 | ||
检测器 | 硅光电池 | |||
比色皿架 | 10 mm | |||
比色皿 | 石英比色皿 10mm/ 2只,玻璃比色皿 10mm/ 4只 | |||
电 源 | AC 220V/ 50Hz 300W | |||
外形尺寸 | 440*370*200 mm | |||
重 量 | 17 kg |
JL-UV-7502PC(756CRT)紫外可见光光度计,扫描型紫外可见分光光度计规格 概述:
※ UV7502型紫外可见分光光度计仪器内置微电脑,在面板上置有简单的操作键,LCD显示窗,无需PC控制,可独立操作。※ 仪器采用CT式光学系统,具有低杂散光优点。※ 仪器有持久工作的稳定性和性。※ 仪器具有自动调校0%T和100%T等控制功能。※ 仪器具有自动切换钨灯和氘灯功能。※ 仪器样品室宽大,可选配多种附件。如配置微量样品架和微量样品池,对微量样品进行测试分析。※ 仪器备有标准RS-232C通讯口和并行打印口。※ LCD数字显示器可显示透射比、吸光度和浓度等参数以及波长读数,提高了仪器的读数性。※ 仪器备有标准RS-232通讯接口和并行打印口。可通过XIN MAO用户应用软件(需另购)和普通的装有Microsoft Windows系统的个人电脑联机,可实现光度测量、光谱扫描、定量测试、时间扫描及数据处理等功能,使分析工作更理想。
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型 号 | UV-7502PCS 可变狭缝扫描型 | UV-7502PC 扫描型 | UV-7502C (7521) | UV-7502CS 可变狭缝 |
光学系统 | 单光束,1200条/毫米衍射光栅 | |||
光谱带宽 | 0.5、1、2、4 nm | 2 nm | 0.5、1、2、4 nm | |
波长范围 | 200-1000 nm | |||
波长精度 | ±0.5 nm (2 nm) | ±0.5 nm | ±1 nm | ±0.5 nm (2 nm) |
波长重复性 | ≤0.2 nm | ≤0.5 nm | ≤0.2 nm | |
波长可读性 | 0.1 nm | |||
透射比度 | ±0.5%T (带宽 2 nm) | ±0.5%T | ±0.5%T (带宽 2 nm) | |
透射比重复性 | ≤0.2%T | |||
杂散光 | ≤0.5%T (带宽 2 nm) | ≤0.15%T | ≤0.2%T | ≤0.2%T (带宽 2 nm) |
∧220 nm,340 nm | ||||
基线直线型 | ±0.004 A (带宽 2 nm) | ±0.004 A | / | |
稳定性 | ≤0.004 A / 30min / 500 nm (after 30min warmup) | |||
测量范围 | 0-125%T -0.097-3.00 A 0-1999C | 0-125%T -0.097-2.70 A 0-1999C | ||
光 源 | 钨灯、氘灯 | |||
显 示 | LCD (2*20 带背光) | |||
数据输出 | RS-232C | |||
分析软件 | 有 | 支持 | ||
检测器 | 硅光电池 | |||
比色皿架 | 10 mm | |||
比色皿 | 石英比色皿 10mm/ 2只,玻璃比色皿 10mm/ 4只 | |||
电 源 | AC 220V/ 50Hz 300W | |||
外形尺寸 | 440*370*200 mm | |||
重 量 | 17 kg |
JL-UV-7502PC(756CRT)紫外可见光光度计参数 概述:
※ UV7502型紫外可见分光光度计仪器内置微电脑,在面板上置有简单的操作键,LCD显示窗,无需PC控制,可独立操作。※ 仪器采用CT式光学系统,具有低杂散光优点。※ 仪器有持久工作的稳定性和性。※ 仪器具有自动调校0%T和100%T等控制功能。※ 仪器具有自动切换钨灯和氘灯功能。※ 仪器样品室宽大,可选配多种附件。如配置微量样品架和微量样品池,对微量样品进行测试分析。※ 仪器备有标准RS-232C通讯口和并行打印口。※ LCD数字显示器可显示透射比、吸光度和浓度等参数以及波长读数,提高了仪器的读数性。※ 仪器备有标准RS-232通讯接口和并行打印口。可通过XIN MAO用户应用软件(需另购)和普通的装有Microsoft Windows系统的个人电脑联机,可实现光度测量、光谱扫描、定量测试、时间扫描及数据处理等功能,使分析工作更理想。
JL-UV-7502PC(756CRT)紫外可见光光度计参数 相关仪器:
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艾先生 --5334 Q -6154
USB 打印机 符合PCL的 USB 接口打印机可用作 UV-1800的打印机,使可用打印机增多。
UV-1800产品信息 紫外可见分光光度计主机特点 |
可计算机控制 可以通过USB接口由计算机控制。UV-1800有已成为计算机标准接口的USB 接口,可由多数商品化计算机控制
同级别UV中最高分辨率:1nm
数据可优盘保存、计算机处理
单机UV-1800,标配UV Probe计算机处理软件。用UV-1800测定的数据可保存于USB存储器,数据可由计算机与软件UV Probe处理与打印。UV-1800同时具有单机UV如易操作、占地小等优点,与计算机控制UV的性能。 |
软件功能
波长扫描:对被测物可进行190nm-1100nm全波段图谱扫描,也可分段扫描动力学测试:对被测物进行时间扫描,适时检测浓度的变化引起吸光度的变化定量测量:通过标准曲线的建立,可对被测物进行浓度分析多波长测试:可以同时设定多个波长,对被测物在多个波长下的吸光度进行测试DNA/蛋白质测试:通过核酸蛋白的测试公式对DNA/蛋白质进行纯度及浓度分析
仪器介绍
利用傅里叶变换红外光谱仪研发和制造经验,结合热重分析仪产品,开发出热重-傅里叶红外(T-F)联用系统,将 TG 的定量分析能力和 FTIR 的定性分析能力结合为体,可广泛应用于高分子聚合物、药物与化学工业等域,可对固化交联反应,物质分解或其他反应的工艺过程中产生的气态产物进行定性分析,可做橡胶快速测试系统和汽配材料快速分析仪使用。
本方案中傅里叶红外光谱仪适配第三方热重分析仪,同时可将客户已有的系统升为TG-FTIR联用系统。
- 仪器介绍
T-F附件用于测量来自热重分析仪的流动气相样品,包含个可加热的10厘米气体室和传输线。
产品特点
(1) 高品质、高性价比
(2) 真空密封结构接口
(3) 系统配有绝缘加热传输线,以及红外光谱仪用可加热气体室,可根据需要设置加热温度,防止分解产物冷凝,可加热气体室特殊的聚焦光路设计使其在达到高灵敏度的同时,实现体积小
(4) 红外光谱仪具有高灵敏度和高稳定性
(5) 红外光谱仪采用DLATGS,检测过程中无需使用液氮
(6) 红外光谱仪可适配不同品牌或型号的热重分析仪
- 产品应用
l 分解
l 脱水
l 残余溶剂含量
l 热裂解
l 气固反应
l 燃烧
l 氧化
l 腐蚀
l 解吸附
l 催化反应
l 组分分析
l 粘合剂烧出
l 煤炭分析
l 聚合物组分
l 灰分
l 挥发,气体释放
参数配置
光谱范围 | 7800~350cm-1 |
分辨率 | 0.5cm-1 |
检测器 | 进口高灵敏度DLATGS |
气体室长度 / 体积 | 100mm |
气体室设计 | 双锥形光路,不锈钢材质 |
气体室内部尺寸 | 大内径:28mm;中心内径:16mm |
气体室体积 | 38.5ml |
红外窗片尺寸 | 38 x 6mm |
传输线尺寸 | 3mm OD x 1m |
传输线材质 | TEFLON |
排气管 | 3mm OD TEFLON |
气体室大电压 | 24V 8A 200W |
传输线大电压 | 24V 5A 100W |
气体室加热温度 | 高300℃ |
传输线加热温度 | 高230℃ |
温度控制精度 | ±1.0℃ |